机载杂质检测制造技术

本发明专利技术公开一种用于检测密闭空间内机载杂质的系统和方法。在一个实施例中，用于检测密闭室内杂质的检测系统包括用于发射辐射的发射器，紧邻发射器设置的至少一个通道，以在通道的第一末端接收来自发射器的辐射，以及紧邻通道的第二末端设置的接收器，以接收来自发射器的辐射并响应从发射器接收的辐射产生第一信号。本发明专利技术也公开了其他实施例。

【技术实现步骤摘要】

在此描述的主题事项涉及机载杂质检测，以及用于在例如航空器等交通工具中检测机载杂质的传感器系统。
技术介绍
检测器可被用于检测出现的机载杂质。通过示例的方式，烟感器可被用于检测空气中出现的烟雾颗粒或者是悬浮微粒。由于飞机舱之间的配置和机舱内空气湍流的变化，例如航空器等交通工具内的烟雾检测将特别具有挑战性，其中由空气调节和空气压力管理系统引起湍流。因此，将发现用于在例如飞机舱等密闭室内检测机载杂质的系统和方法是有效的。
技术实现思路
在一个实施例中，用于在密闭室内检测杂质的检测系统包括发射器，其用于发射辐射、至少一个通道，其紧邻发射器放置，从而在通道的第一末端接收来自发射器的辐射、以及接收器，其紧邻通道的第二末端放置，从而接收来自发射器的辐射，并且产生第一信号，以响应从发射器接收的辐射。在另一个实施例中，航空器包括机身，其限定至少一个密闭室、检测系统，其用于在密闭室内检测杂质，并且包括用于发射辐射的发射器、至少一个通道，其紧邻发射器放置，从而在通道的第一末端接收来自发射器的辐射、以及接收器，其紧邻通道的第二末端放置，从而接收来自发射器的辐射，并且产生第一信号，以响应从发射器接收的辐射。在另一个实施例中，用于在密闭室内检测杂质的方法包括将来自发射器内的辐射发射至至少一个通道的第一末端、在至少一个通道的第二末端，用接收机接收来自发射器的辐射、以及产生第一信号，以响应从发射器中接收的辐射。根据在此提供的描述将明白在其他领域中的应用。应理解，本描述和具体实例仅旨在说明，而非要限制本专利技术的范围。附图说明参考下列附图，下列将详细描述根据本专利技术教导的方法和系统的实施例。图1示出根据实施例，用于检测机载杂质系统的示意性、高级范例。图2A-2F示出根据实施例的通道的示意性侧边横断图面图，其中在用于检测机载杂质的系统中可使用该通道。图3示出根据实施例，用于检测机载杂质系统的示意性透视图。图4示出根据实施例，用于检测机载杂质系统的示意性顶视图。图5示出根据实施例，用于检测机载杂质系统的示意性顶视图。图6示出根据实施例的计算装置的示意图。图7示出根据实施例，检测机载杂质操作方法的流程图。图8示出根据实施例的航空器的示意图。具体实施例方式在此描述用于在密闭室内检测例如烟雾等机载杂质的系统和方法的配置。在下列描述和相关附图中提出某些实施例的具体细节，从而提供对该实施例的透彻理解。然而，本领域技术人员间理解，可实行不包括下列描述中描述的若干细节的可选实施例。在此，本专利技术将以功能性和/或逻辑块组件以及不同处理步骤的方式描述。为了简洁起见，在此不再详细描述涉及系统的数据传输、发信号、网络控制、以及其他功能性方面的传统技术。此外，此处包括在各附图中所示的连接线，用来表示示例性功能性关系和/或各元件之间的物理耦合。应注意，在实际的实施例中可呈现许多可选的或者附加的功能性关系或者物理连接。下列描述涉及被共同“连接”或“耦合”或“结合”的组件。如在此使用的，除非被清楚地表述，否则“连接”意味着一个元件/零件与另一个组件/零件直接物理连接。同样地，除非被清楚地表述，否则“耦合”或者“结合”意味着一个组件/零件直接地或间接地结合至(或直接或间接沟通)另一个组件/零件，并且无需直接物理地连接。因此，虽然附图可以描绘元件的示例性布置，但是在实际实施例中，可呈现附加的干扰元件、装置、零件、或者组件。图1示出用于在密闭室内检测杂质的系统100的示意性的顶视图。在图1所示实施例中，系统100包括一个或者更多发射器110，其用于发射辐射、至少一个通道120，其紧邻发射器Iio放置，从而在通道120的第一末端122接收来自发射器110的辐射、以及一个或更多接收器130，其紧邻通道120的第二末端124放置。接收器130接收来自发射器110的辐射，并且产生第一信号，以响应从发射器110接收的辐射。控制模块140可被耦合至发射器110和接收器130。发射器110可实施为传统辐射体，例如，发光二极管(LED)等。在一些实施例中，发射器110以可见光普即以光的方式发射辐射。辐射将处于窄频带宽度内，以便在肉眼下，辐射为单一颜色。发射器110可包括一个或更多校准仪，从而校准其中发射的辐射，以及一个或者更多透镜装配件，从而将辐射集中至定向波束。在可选实施例中，发射器110可在可见光普外发射辐射，或者可发射非相干辐射，其中至少部分非相干辐射作为白光是可见的。接收器130可包括检测器，例如光电二极管等，从而检测入射到接收器130输入端的辐射水平，并且产生表示辐射水平的信号。通过例子的方式，在一些实施例中，接收器130产生具有电压的电信号，该信号与入射至接收器130上的辐射成比例。在图1所示系统100中，发射器110和接收器130耦合至一个或更多控制模块140，其包括用于管理系统100操作的控制逻辑。在一些实施例中，控制模块140可实施为，或者可包括，一个或更多处理器为基础的控制器，并且可实行包括初始化、校准、功率管理、以及数据监控和收集的操作。以下更为详细地描述控制模块140的不同结构和功能方面。在图1所示实施例中，发射器110经布置，来自发射器110的辐射输出直接进入通道120，并且放置接收器130，从而接收来自通道120的辐射。在图1所示的实施例中，通道120具有由标识号L指示的长度。通道120的具体长度L对于本专利技术不是关键，而是可作为用于安置系统100的密闭室的尺寸。通常，长度L可从几英寸变化至几十或者几百英尺。通常，通道120在密闭室内将机载杂质或者悬浮微粒与空气湍流隔离开来，这使得系统获得机载杂质更为准确和稳定的读数，其中机载杂质集中于发射器110和接收器130之间的环境内。图2A-2F示出根据实施例的通道的示例性侧边横断图面图，其中在用于检测机载杂质的系统中可使用该通道。首先参考图2A，在以下实施例中，通道120可被并入组件表面150中。可选地，如图2B所示，通道120可被安置在组件表面150上。在图2A-2F中，通道120可具有由标识号W指示的尺寸在0.25英寸和3.00英寸之间的宽度，以及尺寸在0.25英寸和3.00英寸之间的深度。然而，本领域技术人员将认识到通道的特定尺寸不是关键，其经提供通道尺寸，从而减少由通道120定义的体积内的湍气流，同时将机载杂质保持在通道120内。参考图2C-2D，在一些实施例中，通道120可包括一个或更多凸出物126、128，其依靠通道120的侧边，从而减少从分隔间进入通道120的湍气流。同样地，凸出物的具体尺寸不是关键，其经提供凸出物尺寸，从而减少由通道120定义的体积内的湍气流，同时将机载杂质保持在通道120内。在以下实施例中，凸出物126、128尺寸在0.06英寸和1.00英寸之间。虽然图2A-2D中所示通道120的横截面大体呈矩形，但是横截面形状的具体构造不是关键。参考图2E和2F，在一些实施例中，通道120横截面大体相似。可实行其他的横截面形状，并且通道120的不同形状可包括图2C-2D所示的凸出物126、128。图3示出根据实施例，用于在密闭室115内检测机载杂质系统100的示意性的透视图。在一些实施例中，密闭室115可包括交通工具内密闭的分隔间，所述交通工具例如航空器内的存储或者乘员舱或者其他交通工具。在图3所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测密闭室内杂质的系统（100），其包括：发射器（110），其用于发射辐射；至少一个通道（120），其紧邻所述发射器放置，从而在所述通道（120）的第一末端（122）接收来自所述发射器的辐射；以及接收器（130），其紧邻所述通道的第二末端（124）放置，从而：接收来自所述发射器的辐射；以及产生第一信号，以响应从所述发射器（110）接收的辐射。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：T·吴，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：