【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种振荡器晶体运输装置，具体的说，是涉及一种振荡器晶体电参数测试装置。
技术介绍
石英晶体振荡器生产中没有自动测试设备能够测量产品晶体电参数，这样石英晶片的电性能的不良造成振荡器不能更好的起振，输出波形不能够更稳定，产品合格率低，生产效率低下。
技术实现思路
针对上述现有技术中的不足，本技术提供一种能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高产品合格率的振荡器晶体电参数测试装置。本技术所采取的技术方案是:一种振荡器晶体电参数测试装置，包括振荡器定位框、设置于振荡器定位框外侧将振荡器移载到振荡器定位框内的运动控制单元和将振荡器产品固定于测量基准位置的定位探针，还包括与SMD振荡器外测点进行接触的测量探针；测量探针与板相连接；板与250B测试系统相连接。本技术相对现有技术的有益效果:本技术振荡器晶体电参数测试装置，能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高 产品合格率，提高劳动效率，降低生产成本。图1是本技术振荡器晶体电参数测试装置结构原理图。附图说明附图中主要部件符号说明:1、运动控制单元2、振荡器定位框3、定位探针4、振荡器5、测量探针6、板7、250B测试系统8、振荡器外测点。具体实施方式以下参照附图及实施例对本技术进行详细的说明:附图1可知，一种振荡器晶体电参数测试装置，包括运动控制单元1、振荡器定位框2和定位探针3，还包括测量探针5 ;测量探针5与板6相连接；板6与250B测试系统7相连接；所述运动控制单元I将振荡器4移载到振荡器定位框2内。本技术通过控制电路、机械运动结构控制测量探针与基座外测点进行接触，以实现测试出石英晶...
【技术保护点】
一种振荡器晶体电参数测试装置，其特征在于：包括振荡器定位框、设置于振荡器定位框外侧将振荡器移载到振荡器定位框内的运动控制单元和将振荡器产品固定于测量基准位置的定位探针，还包括与SMD振荡器外测点进行接触的测量探针；测量探针与π板相连接；π板与250B测试系统相连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李永斌，杨铁生，段宗涛，
申请(专利权)人：同方国芯电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13
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