电子元件检查分类设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，并设有至少一可位移动作的2Ｄ取像器，搬移装置设有多个移料器，于3Ｄ取像完毕后，取像装置是以2Ｄ取像器对各置料装置上的电子元件进行2Ｄ取像作业，分类装置设有盛装良品电子元件的良品区及盛装不良品电子元件的不良品区，中央控制装置是控制搬移装置的换料器将各置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于料盘上，达到节省设备成本及增加检查产能的实用效益。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是提供一种于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，并搭配具多个移料器的搬移装置，而提升3 D取像器的使用效能，以及易于分类收置电子元件，进而节省设备成本及增加检查产能的电子元件检查分类设备。
技术介绍
在现今，电子元件于制作完成后，业者是以检查设备对电子元件进行接点、外观、真圆度或型号等检查作业，请参阅图1，为现有电子元件检查设备的示意图，其是于机台11上配置有一具供料区121及载台122的供料器12，其供料区121是容置有盛装待检查电子元件14的料盘13，并以载台122将具待检查电子元件14的料盘13作第一方向(如X方向)位移载送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向(如Y、Z方向)位移于载台122上的料盘13取出待检查的电子元件14，并移载至3 D取像器16处，3 D取像器16即对料盘13上的电子元件14进行3 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置(图未示出)，中央控制装置即对电子元件14进行接点、外观、脚位或真圆度等检查作业，移料器15再将3 D取像完毕的电子元件14放回料盘13，进而依序取出下一批待检查的电子元件14，于各电子元件14完成3 D取像作业后，检查设备是以移盘器17将料盘14移载至一具载台181及收料区182的收料器18处，收料器18是以载台181将料盘13载送至2 D取像器19的下方，2 D取像器19是作第二方向位移对料盘13上的电子元件14进行2 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置即对电子元件14进行型号、商标等检查作业，于各电子元件14完成2 D取像作业后，载台181是将具已检查电子元件14的料盘13载送至收料区182收置；但是，所述检查设备是于一供料器12的侧方配置一 3 D取像器16，以对电子元件14进行3 D取像作业，但3 D取像器16的购置成本相当昂贵，若于增设的各供料器12侧方均增配一 3 D取像器16，对于整体检查设备而言，势必大幅增加成本，又移料器15是将电子元件14移载至3 D取像器16取像后，再放回料盘13收置，并待料盘13作第一方向位移，方可于料盘13上取出下一电子兀件，但却导致3 D取像器16于移料器15执行取放电子元件14作业时，必须待机空等下一取像的电子元件14，不仅无法发挥3 D取像器16的使用效能，更降低检查设备的生产效能。
技术实现思路
本技术的目之一，是提供一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用且取像电子元件的3 D取像器，并设有至少一可位移动作且取像电子元件的2 D取像器，搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3 D取像器进行取像作业，使得检查分类设备可利用各装置的时序搭配动作，毋须于各置料装置的侧方相对增设3 D取像器，达到大幅节省设备成本的实用效益。本技术的目之二，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3 D取像器进行取像作业，进而缩减3 D取像器的空等待机时间，以充分发挥3 D取像器的使用效能，达到提升设备生产效能的实用效益。本技术的目之三，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述分类装置设有至少一盛装良品电子元件的良品区、至少一盛装不良品电子元件的不良品区及至少一盛装次级品电子元件的次级品区，所述搬移装置设有至少一换料器，用以于多个置料装置及分类装置间补换电子元件，当各置料装置的料盘上的各电子元件执行3 D / 2 D取像作业完毕后，中央控制装置控制搬移装置的换料器将置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于置料装置的料盘上，使各置料装置的料盘收置整盘良品电子元件，达到易于分类收料的实用效益。为了达到上述目的，本技术提供一种电子元件检查分类设备，包含:机台；多个置料装置:其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘；取像装置:其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以对电子元件进行3 D取像作业，另设有至少一 2 D取像器，用以对电子元件进行2 D取像作业；分类装置:其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区；搬移装置:其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3 D取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业；中央控制装置:是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。其中，多个置料装置是分别设有供料区及收料区，所述供料区容置至少一盛装待检查电子元件的料盘，所述收料区容置至少一盛装已检查电子元件的料盘。其中，多个置料装置分别设有至少一于供料区及收料区间载送料盘的载台。其中，多个置料装置设有驱动源，用以驱动载台于供料区及收料区间位移。其中，所述取像装置设有至少一机械手臂，用以驱动2 D取像器位移。其中，所述分类装置于机台上设有至少一承置台，并于承置台上配置有盛装良品电子元件的良品区。其中，所述分类装置的承置台是由动力机构驱动位移。其中，所述分类装置设有具至少一空料盘的不良品区，用以收置不良品电子元件，以及设有具至少一空料盘的次级品区，用以收置次级品电子元件。其中，所述搬移装置设有至少一动力源，用以驱动移料器于置料装置及3 D取像器间移载电子元件。其中，所述搬移装置设有另一动力源，用以驱动换料器于置料装置与分类装置间进行补换料作业。本技术可达到节省设备成本及增加检查产能的实用效益。附图说明图1:现有电子元件检查设备的示意图。图2:本技术电子元件检查分类设备的示意图。图3:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(一)。图4:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(二)。图5:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(三)。图6:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(四)。图7:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(五)。图8:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(六)。图9:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(七)。图10:本技术电子元件检查分类设备的使用示意图(八)。附图标记说明:〔现有〕11-机台；12-供料器；121-供料区；122-载台；13_料盘；14_电子元件；15_移料器；16-3 D取像器；17-移盘器；18-收料器；181-载台；182-收料区；19_2 D取像器。〔本技术〕20-机台；30_第一置料装置；31_第一供料区；311_第一承置器；32_第一收料区；321_第二承置器；331_第一载台；332_第二载台；341_第一驱动源；342_第二驱动源；40-第二置料装置；41_第二供料区；411_第三承置器；42_第二收料区；421_第四承置器；431-第三载台；432_第四载台；441_第三驱动源；442_第四驱动源；50_取像装置；51_3 D取像器；52_第一机械手臂；53_第一 2 D取像器；54_第二机械手臂；55_第二 2 D取像器；60-分类装置；61_承置台；62_动力机构；63_良品区本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件检查分类设备，其特征在于，包含：机台；多个置料装置：其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘；取像装置：其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，用以对电子元件进行3Ｄ取像作业，另设有至少一2Ｄ取像器，用以对电子元件进行2Ｄ取像作业；分类装置：其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区；搬移装置：其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3Ｄ取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业；中央控制装置：是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件检查分类设备，其特征在于，包含: 机台； 多个置料装置:其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘； 取像装置:其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以对电子元件进行3 D取像作业，另设有至少一 2 D取像器，用以对电子元件进行2 D取像作业； 分类装置:其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区； 搬移装置:其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3D取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业； 中央控制装置:是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。2.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置是分别设有供料区及收料区，所述供料区容置至少一盛装待检查电子元件的料盘，所述收料区容置至少一盛装已检查电子元件的料盘。3.根据权利要求2所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置分别设有至少一于供料区及收料区间载送料盘的载台。4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑炜彦，陈奂维，赖正鑫，曹允杰，
申请(专利权)人：台湾暹劲股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：