【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超材料领域,尤其涉及一种超材料单元结构体设计方法和装置。
技术介绍
超材料技术是一个前沿性交叉科技,其设计的
包括了电磁、微波、太赫兹、光子、先进的工程设计体系、通信、半导体等范畴。其核心思想是利用复杂的人造微结构设计与加工实现人造“原子”以对电磁场或者声纳进行响应。其核心理论是描述电磁波轨迹与超材料特性的变形光学。该技术的一大核心难点在于如何建模设计成千上万个相互不同的人造复杂微结构并按照合理的排布组成一个具有特殊功能性的超材料器件。这对建模、计算、理论分析、设计、调试都带来了极大的困难。在超材料设计领域,由于超材料单元结构的复杂响应和实验设计采样点有限,故传统参数模型难以拟合其响应曲面,无法实现精确的建模,造成了超材料自动化设计的瓶颈。由于超材料所提供的特殊功能,这都是取决于它异常复杂的单元结构,一种超材料可能包含多个结构参数Pi,其电磁响应参数同样是多维,每改变一个结构参数Pi都将改变其最终的电磁响应特性,如何寻找超材料单元结构体的最佳结构参数,使它的电磁响应特性符合超材料的电磁响应的目标特性,是全球科研人员一直在努力探索的。传统的超材料单元结构体设计方法是,通过手动的逐一的改变单元结构体的结构参数,测试某一频率的电磁波通过该结构体后的响应特性,并与目标的响应特性进行对比,如此不断循环,最终找到与目标电磁响应特性最为相近的单元结构体属性参数。如图1所示,通过手动的逐一的改变单元结构体属性参数,测试某一频率的电磁波通过该结构体后的响应特性,并与目标响应特性进行对比,直至找到与目标电磁响应特性最为相近的单元结构体属性参数为止。由图1 ...
【技术保护点】
一种超材料单元结构体设计方法,其特征在于,所述方法包括:a、CPU设置超材料单元结构体的初始样本,所述初始样本包括体现超材料单元结构体的结构的多个结构参数;b、CPU将所述初始样本复制为N个复制样本并保存在GPU中,N为自然数;c、GPU改变所述N个复制样本的一个或多个结构参数值,获得N个转移样本;d、GPU调用内核函数计算所述转移样本的适应度,所述适应度表征所述N个转移样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性分别与目标样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性相比的距离;e、GPU根据所述适应度判断所述转移样本中是否有符合目标超材料单元结构体设计要求的样本,若GPU判断结果为是则转步骤f,否则转步骤g;f、将该符合目标超材料单元结构体设计要求的样本确定为设计样本复制到CPU中,并结束设计流程;g、按照所述适应度对所述N个转移样本进行排序,获得适应度中表征所述距离最小的n个转移样本,n为小于N的自然数;h、GPU将所述n个转移样本复制到CPU中;i、CPU将所述n个转移样本复制为复制样本并保存在GPU中,并对复制样本从步骤c开始顺序执行各步骤,直至获得符合目标超材料单元结构体设计要求 ...
【技术特征摘要】
1.种超材料单元结构体设计方法,其特征在于,所述方法包括: a、CPU设置超材料单元结构体的初始样本,所述初始样本包括体现超材料单元结构体的结构的多个结构参数; b、CPU将所述初始样本复制为N个复制样本并保存在GPU中,N为自然数; c、GPU改变所述N个复制样本的一个或多个结构参数值,获得N个转移样本; d、GPU调用内核函数计算所述转移样本的适应度,所述适应度表征所述N个转移样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性分别与目标样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性相比的距离; e、GPU根据所述适应度判断所述转移样本中是否有符合目标超材料单元结构体设计要求的样本,若GPU判断结果为是则转步骤f,否则转步骤g ; f、将该符合目标超材料单元结构体设计要求的样本确定为设计样本复制到CPU中,并结束设计流程; g、按照所述适应度对所述N个转移样本进行排序,获得适应度中表征所述距离最小的η个转移样本,η为小于N的自然数; h、GPU将所述η个转移样本复制到CPU中;PU将所述η个转移样本复制为复制样本并保存在GPU中,并对复制样本从步骤C开始顺序执行各步骤,直至获 得符合目标超材料单元结构体设计要求的样本。2.权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤b之前还包括: bO、GPU申请存储N个复制样本的内存空间。3.权利要求2所述的方法,其特征在于,在步骤bO中通过cudaMalloc在GPU显存中开辟N个复制样本的存储空间,在步骤b中通过cudaMemcpy复制CPU的初始样本的数据至GPU,在步骤h中通过cudaMemcpy复制GPU的转移样本的数据至CPU,在步骤i中通过cudaMemcpy复制CPU的转移样本的数据至GPU。4.权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,步骤c包括:GPU按照转移函数改变所述N个复制样本的结构参数值,获得N个转移样本,所述转移函数定义如下: K =I randn| (ppbset -xlk)+\ Randn| (pgbset -χ[) χ\+ι =K+vI 其中,4表示复制样本K1表示复制样本i的一个转移样本,Ppbset表示当前复制样本所获得的转移样本中最接近目标样本的样本,Pgbsrt表示所有复制样本所获得的转移样本中最接近目标样本的样本,randn和| Randn |是根据正高斯分布产生的随机数。5.权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤d包括:GPU调用内核函数按照适应度函数计算所述转移样本的适应度,所述适应度函数定义如下:Tltness = exp[-T^(^ ew -Zpred)] 其中,Rk是量测噪声方差,Znew是转移样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性的量测值;Zpred是目标样本所表示的超材料单元结构体的电磁响应特性的预测量测值。6.权利要求5所述的方法,其特征在于,η= Ν/2。7.种超材料单元结构体设计装置,其特征在于,所述装置包括CPU和GPU, 所述CPU包...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘若鹏,季春霖,刘斌,
申请(专利权)人:深圳光启高等理工研究院,
类型:发明
国别省市:
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