放射线检测器制造技术

提供一种能够进行校正以不受荧光的残光影响而准确地确定γ射线的入射位置的放射线检测器。根据本发明专利技术，具备：强度数据获取部(11)，其随时间的经过每隔固定的采样间隔Sa获取由光检测器(3)输出的表示荧光的强度的强度数据(S)；以及校正值获取部(14)，其获取用于校正由荧光的残光引起的强度数据(S)的变动的校正值(A)，累计部(15)利用校正值(A)进行强度数据(S)的校正。通过设为这种结构，能够不受荧光的残光成分的影响而准确地确定荧光的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对湮灭放射线对的检测信号进行校正的放射线检测器，特别是涉及一种在将放射线转换为荧光并测量该荧光的结构的放射线检测器中能够通过校正来消除荧光的残光的影响的放射线检测器。
技术介绍
对以往的使放射线药剂的分布成像的正电子发射断层摄影装置(PET)的具体结构进行说明。以往的PET装置具备将检测放射线的放射线检测器圆环状地排列构成的检测器环。该检测器环对从被检体内的放射性药剂放出的彼此为相反方向的一对Y射线(湮灭放射线对)进行检测。说明放射线检测器51的结构。如图9所示，放射线检测器51具备:三维地排列闪烁体晶体而得到的闪烁体52和对从被闪烁体52吸收的Y射线发出的荧光进行检测的光检测器53。光检测器53具备在矩阵上排列多个光检测元件而得到的检测面。而且，将光检测器53的检测面与闪烁体52的一面以光学方式进行连接(参照专利文献1、专利文献2)。入射到闪烁体52的放射线被转换为多个光子而朝向光检测器53。此时，光子一边在空间中扩散一边进入闪烁体52的内部，从而入射到排列在矩阵上的光检测器53的各个检测面。也就是说，由荧光产生的多个光子同时被分配给多个光检测元件来进行检测。放射线检测器51是利用由多个光检测元件捕捉到的荧光的检测数据来获知在闪烁体2的哪个部分发出荧光的结构。即，放射线检测器51通过多个光检测元件求出检测面上的荧光的光束的重心位置。该重心位置本身意味着产生荧光的位置。使用该位置数据以确定被检体的放射性药剂集聚的位置。``专利文献1:日本特开2009-222439号公报专利文献2:日本特开2009-229127号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在以往的放射线的检测中存在如下问题。即，存在当入射到放射线检测器51的放射线的剂量变多时荧光的产生位置的确定变得不准确的问题。该问题与荧光的光束的重心的计算方法有关，因此对该计算方法进行说明。为了简便，设为光检测器53的检测面如图10所示那样由2X2的光检测元件构成。将从光检测元件al……a4输出的荧光的检测信号(随时间的经过荧光的检测存在偏差，因此设为以时间对准确地表示荧光的强度的强度数据进行积分时的累计值m)设为Al……A4。Al……A4表示由各光检测元件al……a4检测到的荧光的强度。将中心的位置设为原点，如下那样表示荧光的光束的X方向上的重心位置X。X= {(Al+A3) - (A2+A4)} / {(A1+A2+A3+A4)}......(I)当入射到放射线检测器51的放射线的剂量变多时，发生荧光的检测强度从表面来看变大的现象。接着，说明该现象。图11示出了由光检测元件检测的荧光的随时间的变化。由闪烁体发出的荧光虽然弱但持续照射光检测元件一段时间。在放射线检测中，如果考虑直到这种荧光的残光消失为止再去检测，则荧光的检测所花费的时间过长，因此放射线检测器51忽略该残光来测量荧光。即，如图11所示，放射线检测器51以时间对在某一期间P内由光检测元件al……a4输出的检测强度进行积分，来计算出荧光的检测强度Al……A4。此时残光不作为荧光的检测强度加以考虑。此外，图11中的Pl是用于判定荧光产生的事件阈值。当入射到放射线检测器51的放射线的剂量变多时，在之前的荧光的残光没有结束湮灭期间发出下一个荧光。也就是说，具有时宽的荧光之间随时间的经过发生叠加。即，如图12所示，当计算荧光的检测强度时加上了用S表示的残光成分。在检测强度Al……A4中全部发生这种现象。如果分别用a、P、Y、S来表示Al……A4所涉及的残光成分，则在存在残光成分的条件下计算出的重心位置X成为如下那样。X= {(Al+ a +A3+ y ) - (A2+ ^ +A4+ 6 )}/{(Al+ a +A2+ ^ +A3+ y +A4+ 6 )}......(2)残光成分a、0Y、S取大致相同的值，因此式2的分子的残光成分被抵消。但是，式2的分母处的残光成分无法去除，反而由于求和而被放大。因而，式2中的位置X的值受到残光成分的影响而成为与实际不同的值。具体地说，残光成分的存在使式2中的分母变大，使位置X的值的绝对值变小。在与X方向正交的y方向上也发生该现象。说明残光成分对重心的位置映射造成怎样的影响。当前，设为从构成闪烁体2的各闪烁体晶体的中心发出荧光。图13所示的点p是此时的荧光的产生位置。在不受残光成分的影响的情况下，放射线检测器51按图13所示那样确定荧光的产生位置。如果在所检测的荧光中含有残光成分，则放射线检测器51无法准确地确定图13所示的荧光的产生位置。即 ，由于残光的影响使式2所示的X、Y的值的绝对值表面上变小。于是，如图14所示，所计算出的荧光的产生位置表面上偏离闪烁体2的中心侧，荧光的产生的分布缩小。这样，根据以往的技术，由于突光的残光而不能准确地确定突光的产生位置。此外，位置Y是荧光的产生位置的y方向的位置。本专利技术是鉴于这种情况而完成的，其目的在于提供一种能够进行校正以不受荧光的残光影响而准确地确定Y射线的入射位置的放射线检测器。用于解决问题的方案本专利技术为了解决上述问题而采用如下结构。S卩，作为第一结构，本专利技术所涉及的放射线检测器的特征在于，具备:(A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成；(B)光检测器，其检测荧光；(C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据；(D)强度数据累积单元，其累积由强度数据获取单元获取到的强度数据；(E)存储单元，其存储多个阈值；(F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻；(Gl)校正值获取单元，其从强度数据累积单元读出在事件发生时刻之前检测到的强度数据，基于该强度数据、双重事件阈值以及多重事件阈值来获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及(H)累计单元，其对在事件发生时刻以前和事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。另外，作为第二结构，本专利技术所涉及的放射线检测器的特征在于，具备:(A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成；(B)光检测器，其检测荧光；(C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据；(E)存储单元，其存储多个阈值；(F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻；(G2)校正值获取单元，其将由强度数据获取单元获取到的强度数据与荧光判定用的荧光阈值进行比较，小于荧光阈值的强度数据被判定为在没有发生事件的状态下获取到的强度数据，基于在该状态下获取到的强度数据来获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及(H)累计单元，其对在事件发生时刻以前和事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。[作用和效果]根据本专利技术，具备累计单元，该累计单元随时间的经过每隔固定的采样间隔对由光检测器输出的表示荧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.06 JP 2010-1991851.一种放射线检测器，其特征在于，具备: (A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成； (B)光检测器，其检测荧光； (C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据； (D)强度数据累积单元，其累积由上述强度数据获取单元获取到的强度数据； (E)存储单元，其存储多个阈值； (F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到上述闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻； (GD校正值获取单元，其从上述强度数据累积单元读出在上述事件发生时刻之前检测到的强度数据，基于读出的强度数据、双重事件阈值以及多重事件阈值获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及 (H)累计单元，其对在上述事件发生时刻以前和上述事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于， 在所获取到的校正值为上述双重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元基于存储在上述存储单元中的将校正值与对应值相关联而得到的表来获取与校正值对应的对应值， 上述累计单元基于上述对应值来进行强度数据的校正。3.根据权利要求2所述的放射线检测器，其特征在于， 在所获取到的校正值为表示比上述双重事件阈值高的强度的多重事件阈值以上的情况下，上述校正值获取单元不进行动作，累计单元不进行校正就计算出累计值。4.一种放射线检测器，其特征在于，具备: (A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成； (B)光检测器，其检测荧光； (C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据； (E)存储单元，其存储多个阈值； (F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的...

【专利技术属性】
技术研发人员：大井淳一，佐藤允信，古田雅史，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：
国别省市：