光电开关制造技术

本发明专利技术提供一种光电开关，该光电开关即使在将多个光电开关联装使用时有相互干涉的情况下，也能正常地判定是入光状态还是遮光状态。投光部(10)按照由图案选择部(11)在投光周期及投光脉冲宽度分别不同的三种投光图案A～C中选择的规定的投光图案进行投光。受光部(20)的脉冲宽度判定电路(30)根据与由图案选择部(21)所选择的投光部(10)相同的投光图案的脉冲宽度信息，将因投光脉冲宽度的投光图案的差异作为受光信号的脉冲宽度的差异进行检测，以区别是自发光还是干涉光。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种根据受光量的变化对检测对象物进行检测的光电开关。
技术介绍
透射型的光电开关包括一组投光器和受光器，根据由通过该光路的检测对象物的遮蔽的有无对光量变化进行检测(例如，参见专利文献I)。图5是在将透射型光电开关以3个联装状态来使用时的例示图。在检测对象物通过的检测区域的一侧配置有投光器100A 100C ;在另一侧配置有受光器200A 200C。在此例中，投光器100A和受光器200A为一对，投光器100B和受光器200B为一对，投光器100C和受光器200C为一对，例如，受光器200A仅对来自于投光器100A的光信号产生反应，而不希望其对来自于投光器100B，100C的光信号产生反应。但是，在成对的投光器和受光器之间不进行光信号以外的信息交换，因此，受光器无法区别所接受的光信号是来自哪个投光器的。因此，以往是将投光器和受光器相互分别地配置(锯齿形地配置)，或者将偏振滤光片安装在受光器上，并将来自邻接的投光器的光去掉。现有
技术介绍
文献专利文献专利文献1:日本特开平5 - 175817号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题因为现有的光电开关为如上所述的结构，所以在配置成锯齿形的情况下，由于在检测区域的两侧分别配置有投光器和受光器，因而存在来自于控制装置的配线将变长，或者产生因来自于检测对象物的反射光的干扰这样的问题。在采用偏振滤光片的情况下，虽然通过安装偏振滤光片，以使偏振角度变成直角，从而可以将来自旁边的投光器的光去掉，但却存在因受光量降低至一半以下，检测距离将变短这样的问题。本专利技术是为了解决如上所述的问题而做出的，目的是提供一种在将光电开关多个联装使用的情况下，即使存在相互干涉，也能够正常地判定是入光状态还是遮光状态的光电开关。解决课题的手段本专利技术的技术方案I的光电开关包括投光部，投光周期及投光脉冲宽度各自不同的多个投光图案中，按照规定的投光图案，向检测区域每隔该投光周期地进行该脉冲宽度的投光；和受光部，其接受来自所述检测区域的光并生成受光脉冲；和脉冲宽度判定部，其对所述受光部生成的受光脉冲的脉冲宽度是否与所述规定的投光图案的投光脉冲宽度大致相同进行判定，如果大致相同的话，就判断为由所述受光部接受的光是所述投光部投射的自发光。本专利技术的技术方案2的光电开关具有带通滤波器、检波部、低通滤波器及识别部。其中，带通滤波器，其投光部具有对按照规定投光图案的脉冲宽度的投光频率进行调制的调制部，其受光部就接受的光信号，在所述调制部中将使用的调制频率作为中心频率的信号进行提取；检波部对所述带通滤波器提取的信号进行整流；低通滤波器对于所述检波部整流了的信号，通过所述调制，将与该信号叠加的频率成分一直降低到规定量级的频率特性为止；识别部对所述低通滤波器提取的信号以规定的阈值进行识别并输出受光脉冲。本专利技术的技术方案3的光电开关包括判定部，该判定部，在由脉冲宽度判定部判定为自发光的情况下，将规定数加算到计数值中，且自该判定的时刻起，规定投光图案的投光周期经过期间如果没有下一个判定的话，则从所述计数值中减去规定值，并根据所述计数值对检测区域中有无检测对象物进行判定。本专利技术的技术方案4的光电开关包括图案选择部，该图案选择部，从外部接受指示，并且从多个投光图案当中选择规定的投光图案。本专利技术的技术方案5的光电开关调制部以高量级期间大致为1. O μ S、低量级期间大致1. 5 μ s的调制周期对投光进行调制。专利技术效果根据本专利技术的技术方案I，通过判定受光部所生成的受光脉冲的脉冲宽度与投光部按照规定投光图案的投光脉冲宽度是否大致相同，来判断是否为自发光，所以在将光电开关多个联装而使用的情况下，即使存在相互干涉也可以正常地判定是入光状态还是遮光状态。根据本专利技术的技术方案2，因为对投光脉冲进行调制，且在受光部侧将调制频率作为中心频率并进行带通滤波处理，所以即使按照规定的投光图案，改变投光脉冲宽度的情况下，也可以使经带通滤波处理过的信号的振幅大致相同，通过进行使在该信号上所叠加的频率成分降低到规定量级为止的低通滤波处理，能够将投光部侧的投光脉冲宽度的差异作为受光脉冲宽度的差异而在受光部侧进行检测。 根据本专利技术的技术方案3，因为基于按照脉冲宽度判定部的判定结果而进行升降的计数值来判定有无检测对象物，所以即使存在是相互干涉光还是自发光的判定错误，也可以在该频度较低的情况下，防止是入光状态还是遮光状态的误判。因此，通过选择使是否为自发光的判定错误的频度变低这样的投光周期且设定成投光图案，可以进一步减少入光/遮光状态的误判。根据本专利技术的技术方案4，因为做成了接受来自外部的指示对投光图案进行选择这样的实施方式，所以用户能够自由地将光电开关联装使用，可以提高通用性及扩展性。根据本专利技术的技术方案5，因为对高量级的期间以大致1. Ομ S、低量级的期间以大致1. 5 μ s进行高频率调制，所以能够一边减少干涉光的影响，一边确保充分的信号量级。附图说明图1是本专利技术的实施方式I的光电开关的结构示意框图。图2是说明本专利技术的实施方式I的光电开关的三种投光图案的图表。图3是按照本专利技术的实施方式I的光电开关的投光图案的受光信号的示例图表。图4是本专利技术的实施方式I的光电开关的动作示例图表。图5是表示将三个透射型光电开关以联装状态使用时设置例的图。符号说明I光电开关10投光部11，21图案选择部12振荡电路13调制电路14驱动电路20受光部22受光元件 23 I V转换电路24放大电路25BPF 电路26检波电路27LPF 电路28识别电路29判定电路30脉冲宽度判定电路31可逆计数器100A 100C 投光器200A 200C 受光器。具体实施例方式实施方式I图1所示的光电开关I是包括夹在检测区域之间设置成面对面状态的投光部10和受光部20的透射型光电开关，受光部20根据自检测区域入光的光量的变化，来判定检测区域中是否有检测对象物体。在本实施方式I中，对设想最多联装三个该光电开关I进行使用时的结构进行说明。三个光电开关I (在此，分别称之为光电开关IA 1C)由投光脉冲的周期及脉冲宽度不同的三个投光部10、和基于所受光的周期及脉冲宽度，对是自发光还是干涉光进行辨别的三个受光部20构成。在此，所谓自发光是指光电开关IA的受光部20从同一光电开关IA的投光部10接受的光。所谓干涉光是指光电开关IA的受光部20从光电开关IA以外的光电开关1B，IC接受的光。图2示出了投光图案A C。投光脉冲由与投光图案A C共同地、以调制周期为T = 2. 5 μ S (调制频率400kHz)被高频率调制的脉冲串组成。该调制周期t由高量级(H)的期间为1. O μ S、低量级(L)的期间为1. 5μ s所构成。图2的(a)示出的投光图案A是，设投光周期TA = 90 μ S，脉冲宽度8. 5 μ s的投光脉冲被高频率调制成4串脉冲。图2的(b)示出的投光图案B是，设投光周期TB = 288 μ S，脉冲宽度28. 5 μ s的投光脉冲被高频率调制成12串脉冲。图2的(C)示出的投光图案C是，设投光周期TC = 972 μ S，脉冲宽度48. 5 μ s的投光脉冲被高频率调制成20串脉冲。在此，调制周期t的H期间和L期间最好考虑相互干涉时的状态和受光信号的信号量级来本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电开关，其特征在于，包括：投光部，在投光周期以及投光脉冲宽度分别不同的多个投光图案中，按照规定的投光图案，在每个该投光周期向检测区域进行该脉冲宽度的投光；受光部，其接受来自所述检测区域的光并生成受光脉冲；和脉冲宽度判定部，其对所述受光部生成了的受光脉冲的脉冲宽度是否与所述规定的投光图案的投光脉冲宽度大致相同进行判定，如果大致相同，就判断为由所述受光部受光了的光是所述投光部的投光了的自发光。

【技术特征摘要】
2011.10.21 JP 2011-2322721.一种光电开关，其特征在于，包括 投光部，在投光周期以及投光脉冲宽度分别不同的多个投光图案中，按照规定的投光图案，在每个该投光周期向检测区域进行该脉冲宽度的投光； 受光部，其接受来自所述检测区域的光并生成受光脉冲；和 脉冲宽度判定部，其对所述受光部生成了的受光脉冲的脉冲宽度是否与所述规定的投光图案的投光脉冲宽度大致相同进行判定，如果大致相同，就判断为由所述受光部受光了的光是所述投光部的投光了的自发光。2.根据权利要求1所述的光电开关，其特征在于， 投光部具有调制部，所述调制部对符合规定的投光图案的脉冲宽度的投光的频率进行调制， 受光部具有 带通滤波部，其在所受光的信号中，提取将所述调制部所使用的调制频率设为中心频率的信号； 检波部，其对所述带通滤波器所提取...

【专利技术属性】
技术研发人员：畑中浩，中尾隆志，佐佐木宏，铃木慎一郎，
申请(专利权)人：阿自倍尔株式会社，
类型：发明
国别省市：