一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法技术

技术编号:8627131 阅读:232 留言:0更新日期:2013-04-26 00:34
本发明专利技术公开了一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法,涉及等离子显示屏的生产工艺。本发明专利技术的目的是针对现有技术的不足,提供一种能有效降低浪费,节省成本的等离子显示屏低放电缺陷修复的方法。本发明专利技术技术要点:在等离子显示屏的封排工序及模组工序之间包括以下工艺步骤:步骤1:对屏进行第一次老炼;步骤2:检测屏是否存在低放电现象:若存在,执行步骤3,否则进入后续模组工序;步骤3:对屏进行再次老练,执行步骤4;步骤4:检测屏是否仍然存在低放电现象:若存在,将屏报废,否则进入后续模组工序。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及等离子显示屏的生产工艺,尤其是生产过程中对等离子显示屏低放电进行修复的方法。
技术介绍
目前,等离子显示屏(简称为屏)的制作工艺已经达到大量产生产的要求,在目前业界内广泛采用的制作前介质绝缘层(FD)、后介质绝缘层(RD)、存储障壁(BR)、荧光粉 (PH) ,MgO保护层的过程是首先使用喷涂法在玻前工序加工的基板上喷涂一层浆料,通过干燥、烧结等工序形成我们需要的保护介质、存储障壁或发光荧光粉,然后通过蒸镀实现MgO 的制作。在这些工序的产品制作过程中,不可避免地会产生厚度不均的缺陷,此类缺陷可能导致屏点亮时出现低放电缺陷。为控制产品质量,提高产品良品率,就需要对这些缺陷进行检查和修复。检查修复工序主要包括外观检查、缺陷复查及缺陷修复。现有的低放电修复工艺主要针对屏在组装模组之后的等离子组装后显示屏出现的低放电缺陷,通过对等离子组装后显示屏上的模组在等离子屏各个单元的维持电极、扫描电极及寻址电极上施加一定的电压进行亮度调整,当屏出现低放电时,调整所述电压的波形完成低放电修复,例如更改所述电压波形中高频波形的时间位置进行修复。此方法只能对导致低放电的驱动电路进行调试修复并不能解决屏本身结构造成的低放电缺陷,一旦确定是由屏本身结构造成低放电时只能将该等离子电视作报废处理。本文所说的模组工序就是为屏加上驱动电路单元、整机背板等组件,使其成为一个能够显示各种画面图像的等离子组装显示屏。所述封排工序,是指将等离子显示屏前后基板进行封接,同时排出前后基板之间的空气,注入放电气体等过程。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足,提供一种能有效降低浪费,节省成本的等离子显示屏低放电缺陷修复的方法。本专利技术公开的是这样的在等离子显示屏的封排工序及模组工序之间包括以下工艺步骤步骤1:对屏进行第一次老炼在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第一波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第二波形电压;所述第一波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,每个正脉冲的上升沿上叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波,且第一波形电压中的负脉冲的波形为所述正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;第二波形电压与第一波形电压的幅值与周期均相同,相位差为 180。;步骤2 :检测屏是否存在低放电现象若存在,执行步骤3,否则进入后续模组工序; 步骤3 :对屏进行再次老练在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫 描电极之间施加第三波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第四波形电压;所述第三波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,且每个脉冲的上升沿上叠加有至少ー个周期的正弦波或准正弦波,且第三波形电压中的负脉冲的波形为其正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;所述第三波形电压与第四波形电压幅值与周期均相同,相位差为180° ;且第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值高于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值,第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值低于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值,第三波形电压中每个脉冲的上升时间短于第一波形电压中每个脉冲的上升时间;然后执行步骤4 ; 步骤4 :检测屏是否仍然存在低放电现象若存在,将屏报废,否则进入后续模组エ序。优选的,所述第一波形电压中每个脉冲上升时间为50(T700ns,上升时间中的准正弦波的正峰值小于持续电压的20%,上升时间中的准正弦波负峰值的绝对值为持续电压的20% ;占空比为20 25%,持续电压为230 340V ;下降时间为90(Tll00ns,在下降沿后存在至少ー个周期的正弦波或准正弦波,所述下降沿后的正弦波或准正弦波的负峰值的绝对值小于持续电压的10%。优选地,所述第一波形电压频率为30K 35KHZ,所述第一次老练时间持续4飞小时。优选地,所述第三波形电压中每个脉冲上升时间为30(T600ns,上升时间中的准正弦波的正峰值为持续电压的25 35%,上升时间中的准正弦波负峰值的绝对值为持续电压的25 45% ;占空比为20 25%,持续电压为240 370V ;下降时间为90(Tll00ns,在下降沿后存在至少ー个周期的正弦波或准正弦波,所述下降沿后的正弦波或准正弦波的负峰值的绝对值小于持续电压的10%。优选地,第三波形电压频率为30IT45KHZ,所述再次老练时间持续2 3小时。优选地,所述步骤2与步骤4中的低放电检测方法为点灯检测方法,包括使用点灯检测机使屏发光,当屏上出现相对于正常区域较暗的単元格或者不能发光的単元格时判定屏存在低放电现象。`优选地,在所述步骤2与步骤4中,当屏不存在低放电现象时,首先根据在点灯检查时屏的光电特性判定屏的等级,然后再进入后续的模组エ序。综上所述,由于采用了上述技术方案,本专利技术的有益效果是 本专利技术的低放电缺陷修复方法在屏封排后模组前进行,不会对模组エ序后屏上的其他结构,尤其是驱动电路,造成损坏,从而減少其他材料的浪费。另ー方面,本专利技术的修复方法増加了再次老炼的步骤,降低了屏因为低放电缺陷的报废率,提高了效率,节约了成本。附图说明本专利技术将通过例子并參照附图的方式说明,其中 图1是本专利技术的修复方法流程图。图2是采用本专利技术方法进行低放电缺陷修复过程中屏的ー个单元格的状态。图3是本专利技术中第一波形电压的ー个具体实施例。图4是本专利技术中第三波形电压的ー个具体实施例。图中标记1为前玻璃基板;2为后玻璃基板;3为介电层;4为MgO保护层;5为扫描电极;6为维持电极;7为寻址电极;8为荧光粉层;9为存储障壁;10为等离子体。具体实施例方式本说明书中公开的所有特征,或公开的所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,均可以以任何方式组合。本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是ー系列等效或类似特征中的ー个例子而已。如图1,本专利技术公开的ー种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法是这样的在等离子显示屏的封排エ序及模组エ序之间包括以下エ艺步骤 步骤1:对屏进行第一次老炼如图2,可以看出在每个单元格的前玻璃基板I上左右两侧各设置ー个维持电极6与扫描电极5。在进行老炼时,在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极6与扫描电极5之间施加第一波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第二波形电压。所述第一波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,每个正脉冲的上升沿上叠加有至少ー个周期的正弦波或准正弦波,且第一波形电压中的负脉冲的波形为所述正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;第二波形电压与第一波形电压的幅值与周期均相同,相位差为180°,也就是说施加于单元格一侧维持电极与扫描电极之间的电压相对于另ー侧维持电极与扫描电极之间的电压滞后半个周期; 步骤2 :检测屏是否存在低放电现象若存在,执行步骤3,否则进入后续模组エ序;步骤3 :对屏进行再次老练在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第三波形电压,在位于对侧的維持电极与扫描电极之间施加第四波形电压;所述第三波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,且每个脉冲的上升沿上叠加有至少ー个周期的正本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法,其特征在于,在等离子显示屏的封排工序及模组工序之间包括以下工艺步骤:步骤1:对屏进行第一次老炼:在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第一波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第二波形电压;所述第一波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,每个正脉冲的上升沿上叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波,且第一波形电压中的负脉冲的波形为所述正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;第二波形电压与第一波形电压的幅值与周期均相同,相位差为180°;步骤2:检测屏是否存在低放电现象:若存在,执行步骤3,否则进入后续模组工序;步骤3:对屏进行再次老练:在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第三波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第四波形电压;所述第三波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,且每个脉冲的上升沿上叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波,且第三波形电压中的负脉冲的波形为其正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;所述第三波形电压与第四波形电压幅值与周期均相同,相位差为180°;且第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值高于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值,第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值低于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值,第三波形电压中每个脉冲的上升时间短于第一波形电压中每个脉冲的上升时间;然后执行步骤4;步骤4:检测屏是否仍然存在低放电现象:若存在,将屏报废,否则进入后续模组工序。...

【技术特征摘要】
1.一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法,其特征在于,在等离子显示屏的封排エ序及模组エ序之间包括以下エ艺步骤 步骤1:对屏进行第一次老炼在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第一波形电压,在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第二波形电压;所述第一波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,每个正脉冲的上升沿上叠加有至少ー个周期的正弦波或准正弦波,且第一波形电压中的负脉冲的波形为所述正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;第二波形电压与第一波形电压的幅值与周期均相同,相位差为 180° ; 步骤2 :检测屏是否存在低放电现象若存在,执行步骤3,否则进入后续模组エ序; 步骤3 :对屏进行再次老练在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第三波形电压,在位于对侧的維持电极与扫描电极之间施加第四波形电压;所述第三波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形,且每个脉冲的上升沿上叠加有至少ー个周期的正弦波或准正弦波,且第三波形电压中的负脉冲的波形为其正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形;所述第三波形电压与第四波形电压幅值与周期均相同,相位差为180° ;且第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值高于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值,第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值低于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值,第三波形电压中每个脉冲的上升时间短于第一波形电压中每个脉冲的上升时间;然后执行步骤4 ; 步骤4 :检测屏是否仍然存在低放电现象若存在,将屏报废,否则进入后续模组エ序。2...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱恒刘洋陈富贵李新亮
申请(专利权)人:四川虹欧显示器件有限公司
类型:发明
国别省市:

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