本发明专利技术提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。本发明专利技术还提供了一种开/短路测试方法。本发明专利技术通过提供一种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。
【技术实现步骤摘要】
本发主要用于集成电路测试，具体涉及ー种开/短路测试系统及方法。
技术介绍
众所周知开/短路测试主要用于检测系统的连接特性及集成电路的静电保护电路是否完好；无论是在中测还是在成测中开/短路测试都是必不可少的。在集成电路设计中为了保护芯片，每ー个管脚都设计了ー个保护电路，该保护电路是两个首尾相连的ニ极管，集成电路的管脚置于两个ニ极管之间，其中一个ニ极管接地，另ー个ニ极管接电源。开路/短路测试实质上就是测试这两个ニ极管的特性。然而不管是在中测还是成测中，待测集成电路的测试中不只是测试管脚的开/短路，还需要通过该管脚对待测集成电路的功能进行测试，在上述的待测电路中加入功能测试逻辑模块则可完成待测集成电路的功能测试。结合图1和图2，传统测试模块包括测试电压工具、功能测试逻辑模块、第一供电开关Kl及第ニ供电开关K2，所述功能测试逻辑模块包括功能测试逻辑及开关K3，所述第一供电开关Kl与待测管脚相连并为待测管脚提供IOOuA的电流，所述第二供电开关K2与待测管脚相连并为待测管脚提供-1OOuA的电流，所述开关控制所述功能测试逻辑的通断。传统的测试方法如下1、测试与电源相连的ニ极管的压降，给集成电路待测管脚输入IOOuA电流，其它的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与电源相连的ニ极管导通后，用所述测量电压エ具测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在0. 2V 1. 5V之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值大于1. 5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值小于0. 2V，则该管脚短路，测试不通过。2、测试与地相连的ニ极管的压降，给所述待测集成电路管脚输入-1OOuA电流，其他的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与地相连的ニ极管导通后，用所述测量电压エ具来测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在-1. 5V (-0. 2V)之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值小于-1. 5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值大于-0. 2V，则该管脚短路，测试不通过。传统的测试方法中，每ー个管脚都有一个完整的测试电路，每ー个测试电路都需要2-3个开关，待测集成电路有N个管脚就会有N个完整的测试电路，则整个待测集成电路的测试电路就会有2N-3N个开关，有N个待测管脚就需要测试2N次，同时模拟信号的切換只能用继电器，继电器 的缺点是寿命短、体积大、成本高，且有继电器矩阵的测试系统其稳定性和可维护性都不高。继电器的寿命只有10万次左右，继电器矩阵的更换不方便，这大大降低了测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供ー种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。为实现上述目的，本专利技术提供ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ及第ニ供电接ロ，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由ー个接电源的ニ极管和ー个接地的ニ极管组成，所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管之间，所述第一供电接ロ与所述接电源的ニ极管的阴极相连，所述第二供电接ロ与所述接地的ニ极管的阳极相连；较佳的，所述电压測量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N ^ 2 ；较佳的，所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的ニ极管的阳极及所述接地的ニ极管的阴极与功能测试逻辑不短路；较佳的，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接电源的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的ニ极管导通，所述接地的ニ极管不导通；较佳的，所述第 一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接地的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的ニ极管导通，所述接电源的ニ极管不导通。较佳的，所述第一供电接ロ的电压范围大于与其相连的所述接电源的ニ极管的压降范围，所述第二供电接ロ的电压范围大于与其相连的所述接地的ニ极管的压降范围，且所述第一供电接ロ和所述第二供电接ロ的电源电压相同。较佳的，所述第一供电接ロ和所述第二供电接ロ的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。较佳的，所述接电源的ニ极管和所述接地的ニ极管的压降范围为0. 2V 1. 5V。本专利技术还提供了ー种开/短路测试方法，具体步骤如下将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通；所述电压测量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。较佳的，所述步骤还可如下将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。与现有技术相比，本专利技术技术方案中只需要两个继电器，并且只需要测试两次即可测完所有的待测管脚大大降低了成本，提高了系统的稳定性和可维护性。同时不管是测试接电源的ニ极管还是测试接地的ニ极管，待测管脚上的电压都是正电压，降低了测量电压工具的要求。以下结合附图进行描述，以下附图用于解释本专利技术。附图说明图1为
技术介绍
传统开/短路测试系统框2为
技术介绍
传统开/短 路测试电路3为本专利技术技术方案系统框4为本专利技术技术方案电路5为本专利技术技术方案流程6为本专利技术技术方案另一流程图具体实施例方式现结合附图描述本专利技术，如上所述本专利技术提供了ー种开/短路测试系统及方法，本专利技术的实施可以很大程度上降低成本，同时可以提高系统的稳定性和可维护性。结合图3和图4，如图所示，本专利技术实施例提供ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具ADC阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ Kl及第ニ供电接ロ K2，所述待测集成电路的每个待测管脚都有ー个保护电路，所述保护电路由一个接电源的ニ本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管之间，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。
【技术特征摘要】
1.ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ及第ニ供电接ロ，所述待测集成电路的每个待测管脚都有ー个保护电路，所述保护电路由一个接电源的ニ极管和ー个接地的ニ极管组成，所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管之间，所述第一供电接ロ与所述接电源的ニ极管的阴极相连，所述第二供电接ロ与所述接地的ニ极管的阳极相连。2.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述电压測量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N > 2。3.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的ニ极管的阳极及所述接地的ニ极管的阴极与功能测试逻辑不短路。4.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接电源的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的ニ极管导通，所述接地的ニ极管不导通。5.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接地的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的ニ极管导通，所述接电源的ニ极管不导通。6.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ的电压范围大干与其相连的所述接电源的ニ极管的压...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐正元，
申请(专利权)人：成都市中州半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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