改良的检测探针制造技术

本实用新型专利技术是有关于一种改良的检测探针，主要是在检测探针的检测端涂布包覆一层导电胶层，该导电胶层具适当缓冲性和弹性，故该被施压接触的被测物检测点将不会被刺伤产生针痕或发生破坏现象，而检测探针接触到被测物的防焊与检测点衔接处时，该导电胶层会形变接触到检测点，将可达到减少误测、提高检测准确度和降低不良品产生的效果。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关一种改良的检测探针，尤指一种设置简单、经济，可提升被测物品质和良率，及可提高检测准确度与降低不良品产生效果，而极符实际适用性、理想性和进步性的检测探针。
技术介绍
一般具有多个检测点(如电子元件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，借以确认是否为良品或有无断路现象。按现有习知业界所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等被测物的方式，大抵如图1所示，是在检测治具10上表面设置有若干支检测探针20，该若干支检测探针20且配合被测物30底面的各检测点(图未示)位置设置；另外，在检测治具10的下方设有底座11，及在底座11的四周配置有接头12，而所述多个接头12与电路测试机的排线(图未示)相连接导通。当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头12，再将被测物30对应放置在检测治具10的检测探针20上，借由检测探针20与被测物30底面的检测点接触后，电路测试机便可显示被测物30是否有断路或不良等现象。上述，为使该被测物30的诸检测点的检测具有确实性，及为了使被测物30下压于检测探针20实施检测时，该检测探针20或检测点避免发生被破坏现象，该检测探针20设置呈可弹性伸缩动作。该检测探针20设置的种类，及安设在检测治具10弹性伸缩动作的方式繁多，如图2、图3所示，该检测探针20是分别插置在探针套筒21内，而该探针套筒21分别插置定位在与被测物30的诸多检测点301呈相对应的针板13的插孔131内；其中，该探针套筒21的底端分别安置有导线22，其连接于相对应的接头12，及在内部装设有弹性元件23，而检测探针20插入探针套筒21后，其底端恰被弹性元件23顶承而可产生弹性伸缩动作，及上端检测端201呈外露状。另，如图4、图5、图6所示，其等是不同形态的检测治具10和检测探针20，该检测探针20均直接插设在针板13的上半部穿孔132，并令下端被放置在针板13内的弹性元件23顶承保持弹性伸缩动作，及该上端检测端201且外露于针板13上表面，使可对应接触到被测物30的检测点301，而在弹性元件23下端则安设有导线22连接于相对应的接头12。上述检测探针20对被测物30实施检测的动作，主要是利用检测机对被测物30施力下压，使所述多个与检测探针20相对应的检测点301，可确实与检测探针20的检测端201相触及，进而在导线22的电传配合下，该被测物30便可完成预期的检测目的和效果。其中，当检测机将被测物30下压实施检测动作时，通过该检测探针20可弹性伸缩动作，该检测探针20和检测点301将具有缓冲性，并可借以改善相互强力触压所发生的破坏现象。不可否认，上述实施方式确实可使被测物达到检测的目的和效果，但是，历经长时的使用后，使用者会发觉仍有些许美中不足的缺失，而可待且必须加以改善。即1、由于检测探针20均设为极细，甚至有些检测端201设成尖锥状，当被测物30受压致检测点301与对应检测探针20的检测端201相触及时，最常发生的，莫过于所述多个检测点301被检测探针20刺伤产生针痕，甚至造成破坏现象，而此，不但会影响被测物的品质，亦会降低被测物的良率。2、由于被测物30制作时，会发生防焊偏的不精确情形(如PC板的防焊发生微幅偏移情形)，或制作检测治具10时，会发生针板13的钻孔微幅偏移情形，导致组装完成的检测探针20实施检测动作时，该检测端201无法准确对应到检测点301，而可能会对应到检测点301与防焊部位衔接处，依此，在该检测探针20呈硬质金属材的情形下，必然的，该检测端201将极易直接接触定位在防焊位置，导致发生误测的检测不准确情形，甚而造成被测物形成不良品现象。承上项所述，当被测物30因误测而形成不良品时，不但有重测的麻烦、不便和不经济缺点，更有造成弃置的不环保之虞。由此可见，上述现有的检测探针在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之的道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种改良的检测探针，其可改善上述缺失，并使被测物的品质、良率提高，及可提高被测物检测的准确度，达到减少误测和降低不良品产生的效果。本技术的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。本技术一种改良的检测探针，其是在检测探针的检测端涂布包覆有预设厚度的导电胶层。借由上述技术方案，本技术一种改良的检测探针至少具有下列优点及有益效果一、设置简单、经济。二、可提升被测物品质和良率。三、可减少误测、提高检测准确度和降低不良品产生的机率。总的来说，该导电胶层具适当缓冲性和弹性，故该被施压接触的被测物检测点将不会被刺伤产生针痕或发生破坏现象，而检测探针接触到被测物的防焊与检测点衔接处时，该导电胶层会形变接触到检测点，将可达到减少误测、提高检测准确度和降低不良品产生的效果。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1是现有习知的检测治具与被测物相应的立体示意图。图2是现有习知的检测探针(一)的立体示意图。图3是图2所示检测探针安装在检测治具运作的平面示意图。图4是现有习知的检测探针(二)安装在检测治具运作的平面示意图。图5是现有习知的检测探针(三)安装在检测治具运作的平面示意图。 图6是现有习知的检测探针(四)安装在检测治具运作的平面示意图。图7是本技术检测探针实施例的平面示意图(一)。图8是本技术检测探针实施例的平面示意图(二)。图9是本技术检测探针运作实施例的平面示意图(一)。图10是本技术检测探针运作实施例的平面示意图(二)。图11是本技术检测探针运作实施例的平面示意图(三)。主要元件符号说明10 :检测治具11 :底座12 :接头13 :针板131 :插孔132 :穿孔20 :检测探针201 :检测端2011 :检测探针金属部 21 :探针套筒22 :导线23 :弹性元件30 :被测物301 :检测点302:防焊部位40:导电胶层具体实施方式为更进一步阐述本技术为达成预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本技术提出的一种改良的检测探针其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。请参阅图7、图8所示，本技术一种改良的检测探针，是指在各种形态的检测探针20的检测端201涂布包覆有适当厚度的导电胶层40。请参阅图9所示，当安装组设于检测治具(图未示)的该检测探针20，对被施力下压的被测物30实施检测动作时，通过该检测探针20的检测端201包覆有导电胶层40，则与该检测探针20相对应的被测物检测点301，将不会与检测端201的金属部2011相接触，而直接与导电胶层40相触压，而该导电胶层40具有适当的缓冲性和弹性，则不但检测探针20可受到保护，尤其，该被检测的检测点301亦可受到防护，而不会发生被检测探针20刺伤或产生本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种改良的检测探针，其特征在于：在检测探针的检测端涂布包覆有导电胶层。

【技术特征摘要】
1.一种改良的检测探针，其特征在于在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈惠铃，
申请(专利权)人：陈惠铃，
类型：实用新型
国别省市：