一种富集硫中微痕量杂质的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种富集硫中微痕量杂质的装置，包括一上开口的圆柱形玻璃容器，在上开口处封有上盖；其特征在于：在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器；玻璃容器的底部开有侧向燃烧口。在玻璃容器底部内壁上开有平凹槽；该平凹槽设在玻璃容器底部内壁上的中间区域。玻璃容器的上盖为磨口盖。其是专门为富集硫中杂质而设计的装置，使用方便且效果好。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种富集硫中微痕量杂质的装置
本技术涉及一种富集硫中微痕量杂质的装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，科研用试剂对硫纯度的要求越来越高。目前，市场上出售的 高纯硫的纯度通常在99. 99% 99. 999%范围内，对高纯硫中杂质元素分析的检测也就成 为了关键技术。目前，对高纯硫中杂质元素的检测多采用电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)法 测定，样品用HClO4溶解后挥发硫基体，使样品中杂质元素得到富集，该方法能够满足纯度 为99. 999% 99. 9999%的高纯硫样品中杂质测定的需要。但由于整个溶解挥发的过程 处于敞开环境，因此需要在超净间完成操作，否则容易带来污染。国家科技支撑计划项目 (2006BAF07802)要求对纯度大于99. 9999%的高纯硫中杂质元素进行分析检测。由于仪器 检出限的限制，在完成这一任务的过程中面临的最大难题就是痕量杂质的浓缩富集。故此， 解决此问题已成为关键。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种使用方便且效果好的富集硫中微痕量杂质的装置。为实现上述目的，本技术采取以下设计方案—种富集硫中微痕量杂质的装置，包括一上开口的圆柱形玻璃容器，在上开口处 封有上盖；其特征在于在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器；玻璃容器 的底部开有侧向燃烧口。所述富集硫中微痕量杂质的装置中，在玻璃容器底部内壁上开有平凹槽；该平凹 槽设在玻璃容器底部内壁上的中间区域。所述富集硫中微痕量杂质的装置的上盖为磨口盖。所述富集硫中微痕量杂质的装置的玻璃容器为石英玻璃容器。本技术该通过分离硫基体、高倍浓缩杂质元素，从而为后续的分析检测 提供支持，可以很好的配合完成国家科技支撑计划项目(2006BAF07802)中对高纯硫 (99. 9999% )中杂质元素分析检测的任务。本技术的优点是结构设计合理，使用方便，使用效果佳。附图说明图1为本技术富集硫中微痕量杂质的装置结构示意图。图中1-磨口盖；2_平凹槽；3_敞口容器；4_燃烧口 ；5_玻璃容器。以下结合附图及具体实施例对本技术做进一步详细说明。具体实施方式参阅图1所示，本技术富集硫中微痕量杂质的装置包括一基础玻璃容器，该玻璃容器为石英材质制作为佳，基本形状为圆柱形，玻璃容器的底部开有侧向燃烧口 4 ;在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器3。为使敞口容器3能够保持在玻璃容器底壁上的中部区域，以利于方便加热，本技术设计为在玻璃容器底壁上的中部区域开有平凹槽2。本技术富集硫中微痕量杂质的装置中，玻璃容器的上盖采用磨口盖，其密封效果好。本技术富集硫中微痕量杂质的装置的玻璃容器采用石英玻璃容器为佳，这种石英玻璃容器耐高温且膨胀系数低、耐热震性能良好，适于作为富集硫中杂质的装置。本技术富集硫中微痕量杂质的装置使用时，先将装有硫产品的敞口容器3放置到平凹槽2中的某一部位，并盖好磨口盖1，然后将该装置小心的放到马弗炉中升温加热，当温度升高到一定程度时，置于敞口容器3中的硫产品反应，其中的硫升华，杂质则被富集载体吸附。升华的硫单质在装置玻璃容器的内壁附着，并在靠近燃烧口 4的地方形成燃烧火焰。本技术富集硫中微痕量杂质的装置能有效的从硫产品中将杂质与硫基体相互分离，能够彻底的去除硫基体，富集硫杂质。将富集的硫杂质应用到下一检测环节，能很好的完成硫杂质检测的前处理任务。上述各实施例可在不脱离本技术的范围下加以若干变化，故以上的说明所包含及附图中所示的结构应视为例示性，而非用以限制本技术申请专利的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种富集硫中微痕量杂质的装置，包括一上开口的圆柱形玻璃容器，在上开口处封有上盖；其特征在于：在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器；玻璃容器的底部开有侧向燃烧口。

【技术特征摘要】
1.一种富集硫中微痕量杂质的装置，包括一上开口的圆柱形玻璃容器，在上开口处封有上盖；其特征在于在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器；玻璃容器的底部开有侧向燃烧口。2.根据权利要求1所述的富集硫中微痕量杂质的装置，其特征在于在玻璃容器底壁上开有平凹槽。3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：墨淑敏，孙泽明，刘英，张志刚，李继东，潘元海，王长华，
申请(专利权)人：北京有色金属研究总院，
类型：实用新型
国别省市：