本发明专利技术公开了一种光纤在位检测的方法及装置、微控制器。光纤连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位连接至微控制器；其中，所述对应位置是指：当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述方法包括：分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。本发明专利技术还提供了一种光纤在位检测装置及微控制器。采用本发明专利技术实施例，能够对光纤脱落或松动等引起的光线不在位进行检测，其检测精度较高，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光纤通信
，特别是涉及一种光纤在位检测方法及装置、微控制器。
技术介绍
光纤是一种利用光在玻璃或塑料制成的纤维中的全反射原理而达成的光传导工具，通常光纤被固定在光连接器上组成光跳线使用。通过光跳线实现信号的光传输过程为电信号通过光模块发送器进行电-光转换成光信号，该光信号通过光跳线传输到对端光模块，再经过对端光模块接收器进行光-电转换，转换成电信号给对端。光跳线作为光传输的介质，在使用中通过光连接器和光模块连接，中间通过螺丝或卡扣的形式进行固定。在实际应用中，经常会因为长时间使用造成的老化、或震动等原因导致光跳线的光跳线的连接器和光模块连接松动，从而因光纤不在位产生光信号传输畸形、产生误码等现象，严重影响光信号传输的可靠性和正确性。现有检测光纤在位的方法主要有两种。第一，通过技术人员肉眼观察光纤是否脱离连接器来判断是否发生光纤不在位故障，该方法主观性太强，误判率较高，使得准确率较低，影响光信号传输的可靠性和正确性。第二，由主机通过协商来判断光链路是否连接上，但是，这种方法只有在光连接完全断开的情况下才有效，而对于光模块连接松动或微小错位导致的光信号畸变是检测不到的。
技术实现思路
本专利技术提供了一种光纤在位检测方法及装置、微控制器，能够对光纤脱落或松动等引起的光线不在位进行检测，其检测精度较高，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性。第一方面，提供一种光纤在位检测的方法，光纤连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位连接至微控制器；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述方法包括分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位为比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第一方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电压和第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电流和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第一方面的前述各种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；当所述光纤松动时，所述导体与两个检测位都不接触或与其中一个检测位不接触。第二方面，还提供一种光纤在位检测装置，光纤的连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位均与所述微控制器上的光纤在位检测装置相连；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述装置包括检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第二方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第二方面的前述任何一种可能的实现方式，在第二方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；当所述光纤松动时，所述导体与两个检测位都不接触或仅与其中一个检测位不接触。第三方面,还提供一种微控制器，光纤的连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述微控制器包括一光纤在位检测装置；所述第一检测位和第二检测位均与所述光纤在位检测装置相连；所述光纤在位检测装置包括检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。在第三方面的第一种可能的实现方式中，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同，如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第三方面的第一种可能的实现方式，在第三方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第三方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第三方面的第三种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第三方面的第一种可能的实现方式，在第三方面的第四种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第三方面的前述各种可能的实现方式，在第三方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；当所述光纤松动时，所述导体与两个检测位都不接触或与其中一个检测位不接触。本专利技术实施例所述方法、装置及微控制器，在光纤的连接器上设置一导体，在光模块的对应位置处设置第一检测位和第二检测位，并将所述第一检测位和第二检测位连接至MCU0当所述连接器插入光模块中且光纤在位时，所述连本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光纤在位检测的方法，其特征在于，光纤连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位连接至微控制器；其中，所述对应位置是指：当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述方法包括：分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。
【技术特征摘要】
1.一种光纤在位检测的方法，其特征在于，光纤连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位连接至微控制器；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触； 所述方法包括 分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态； 比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位为 比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同； 如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位； 其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电压和第二检测位的电压； 所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电流和第二检测位之间的电流； 所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值； 所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；当所述光纤松动时，所述导体与两个检测位都不接触或与其中一个检测位不接触。7.一种光纤在位检测装置，其特征在于，光纤的连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位，且所述第一检测位和第二检测位均与所述微控制器上的光纤在位检测装置相连；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触； 所述装置包括 检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态； 比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。8.根据权利要求7所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位； 其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。9.根据权利要求8所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述预设状...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘磊，李丹，沈明永，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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