一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统技术方案

本实用新型专利技术提出了一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，包括依次连接的狭缝调节装置、入射狭缝管、分光器盒、出射狭缝管和计数管；所述分光器盒内设置有腔体，所述腔体内设置有托板角度调节装置，所述托板角度调节装置包括晶体托板、底座和手动调节轴，所述底座设置于所述腔体底部，所述底座上部与所述晶体托板连接，所述底座设置有调节槽，所述手动调节轴与所述调节槽连接。本实用新型专利技术提出的波长色散X荧光光谱仪的分光系统，结构简单紧凑，易于安装与调节且性能良好；分光效率高，背景噪声低，结构简易且真空密封度可靠。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统
本技术涉及一种波长色散X荧光光谱仪，尤其涉及一种波长色散X荧光光谱 仪的分光系统。
技术介绍
波长色散X荧光光谱仪是一种精确分析元素含量成份的精密仪器，广泛应用于环 保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品 研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。晶体分光系统是该仪器的核 心装置。其工作原理是将样品中被X射线管激发出的各组份元素特征X射线通过前入射狭 缝管入射到分光器中，在分光器中有一块对应待测元素的晶体，将符合待测元素的X射线 荧光聚焦出射到计数管中，计数管将X射线光能信号转为电信号经过前主放放大传输到脉 冲高度处理器处理，由专业的波谱测试软件分析出精确的含量。
技术实现思路
本技术目的是提出一种结构简单紧凑、易于安装与调节且性能良好的波长色 散X荧光光谱仪的分光系统。本技术的技术方案是这样实现的一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，包括依次连接的狭缝调节装置、入射狭 缝管、分光器盒、出射狭缝管和计数管；所述分光器盒内设置有腔体，所述腔体内设置有托 板角度调节装置，所述托板角度调节装置包括晶体托板、底座和手动调节轴，所述底座设置 于所述腔体底部，所述底座上部与所述晶体托板连接，所述底座设置有调节槽，所述手动调 节轴与所述调节槽连接。优选地，所述腔体为圆形腔体；所述晶体托板与所述底座通过弹形片连接。优选地，所述晶体托板上方的腔体内壁设置有铅封闭片。优选地，所述入射狭缝管设置有入射孔，所述入射孔为梯形孔；所述出射狭缝管设 置有出射孔，所述出射孔为梯形孔。优选地，所述入射狭缝管两端接触面上设置有第一密封槽和第二密封槽，所述入 射狭缝管与所述分光器盒通过所述第一密封槽连接。优选地，所述第一密封槽、所述第二密封槽为O型密封槽。优选地，所述出射狭缝管两端设置有第三密封槽和第四密封槽，所述出射狭缝管 与所述分光器盒通过所述第三密封槽连接，所述出射狭缝管与所述计数管通过所述第四密 封槽连接。优选地，所述第三密封槽、所述第四密封槽为O型密封槽。本技术产生的有益效果是本技术提出的波长色散X荧光光谱仪的分光 系统是一种分光效率高，背景噪声低，结构简易且真空密封度可靠的分光系统，其具体效果 表现在以下几点1、加入狭缝调节装置消除机械加工中的公差影响及理论计算带来的误差；2、前入射狭缝管的设计，加强入射到计数管的X射线荧光强度，提前计数率；3、分光器盒内腔圆形的加工方便且在晶体托板上方圆弧部分粘贴铅皮减少背景 噪声提高分光效率；4、晶体托板角度调节装置带来手动操作的方便性且易控制。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例 或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅 是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前 提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统一个实施例外形剖视结 构示意图；图中I狭缝调节装置；2入射狭缝管；3第二密封槽；4分光器盒；5晶体；6晶体托 板；7弹形片；8晶体托板轴；9底座；10调节槽；11手动调节轴；12第三密封槽；13出射狭 缝管；14第四密封槽；15计数管；16第一密封槽；17铅封闭片；18托板角度调节装置。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的 实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下 所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。根据图1所示的优选实施例，一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，包括依次连 接的狭缝调节装置1、入射狭缝管2、分光器盒4、出射狭缝管13和计数管15 ;分光器盒4内 设置有腔体，腔体内设置有托板角度调节装置18，托板角度调节装置18包括晶体托板6、底 座9和手动调节轴11，底座9设置于腔体底部，底座9上部与晶体托板6连接，底座9设置 有调节槽，手动调节轴11与调节槽连接；本实施例中优选腔体为圆形腔体，易于加工和安 装定位；晶体托板6与底座9通过弹形片7连接。本实施例中托板角度调节装置的组装首先把弹形片7、调节螺钉装到底座9上， 再用晶体托板轴8把晶体托板6固定到底座9上，通过弹形片7与调节螺钉平衡晶体托板 6，由手动调节轴11调节晶体托板6的角度；最后手动调节轴11插入分光器盒4对准调节槽 10安装，这种托板角度调节装置用手动调节轴就可直接调整晶体的角度比同类调节装置灵 活很多，而且不需专用的工具。晶体托板6上方的腔体内壁设置有铅封闭片17，在分光器盒4晶体托板6上方的 圆弧形区域贴上铅封闭片17，以减少背景噪声提高分光效率，独特的晶体托板调节装置18 易于角度调节使仪器在调试方便快捷。入射狭缝管2设置有入射孔，入射孔为梯形孔；出射狭缝管13设置有出射孔，出射 孔为梯形孔；入射狭缝管2两端接触面上设置有第一密封槽16和第二密封槽3，入射狭缝 管2与分光器盒4通过第一密封槽16连接；第一密封槽16、第二密封槽3为O型密封槽；出射狭缝管13两端设置有第三密封槽12和第四密封槽14，出射狭缝管13与分光器盒4通过 第三密封槽12连接，出射狭缝管13与计数管15通过第四密封槽14连接，第三密封槽12、 第四密封槽14为O型密封槽。本实施例的工作原理是将晶体5粘贴在以全聚焦和对数螺线特定曲线的晶体托 板6上，再把晶体托板6装到托板角度调节装置18，固定在分光器盒4内，调整晶体托板6 的角度使它和计算的理论角度一致；再由狭缝调节装置1、入射狭缝管2、分光器盒4、晶体 托板6、托板角度调节装置18、出射狭缝管13构成分光光路系统，将计数管15装到出射狭 缝管13上，对分光系统分选出的对应的元素特征X射线进行检测，从而分析出对应元素的 含量。本技术提出的波长色散X荧光光谱仪的分光系统是一种分光效率高，背景噪 声低，结构简易且真空密封度可靠的分光系统，其具体效果表现在以下几点1、加入狭缝调节装置消除机械加工中的公差影响及理论计算带来的误差；2、前入射狭缝管的设计，加强入射到计数管的X射线荧光强度，提前计数率；3、分光器盒内腔圆形的加工方便且在晶体托板上方圆弧部分粘贴铅皮减少背景 噪声提高分光效率；4、晶体托板角度调节装置带来手动操作的方便性且易控制。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本 技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术 的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于：包括依次连接的狭缝调节装置、入射狭缝管、分光器盒、出射狭缝管和计数管；所述分光器盒内设置有腔体，所述腔体内设置有托板角度调节装置，所述托板角度调节装置包括晶体托板、底座和手动调节轴，所述底座设置于所述腔体底部，所述底座上部与所述晶体托板连接，所述底座设置有调节槽，所述手动调节轴与所述调节槽连接。

【技术特征摘要】
1.一种波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于包括依次连接的狭缝调节装置、入射狭缝管、分光器盒、出射狭缝管和计数管；所述分光器盒内设置有腔体，所述腔体内设置有托板角度调节装置，所述托板角度调节装置包括晶体托板、底座和手动调节轴，所述底座设置于所述腔体底部，所述底座上部与所述晶体托板连接，所述底座设置有调节槽，所述手动调节轴与所述调节槽连接。2.根据权利要求1所述的波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于所述腔体为圆形腔体。3.根据权利要求1所述的波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于所述晶体托板与所述底座通过弹形片连接。4.根据权利要求1所述的波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于所述晶体托板上方的腔体内壁设置有铅封闭片。5.根据权利要求1所述的波长色散X荧光光谱仪的分光系统，其特征在于所述入射狭缝管设置有入射孔，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨东华，刘友林，
申请(专利权)人：东莞市邦鑫伟业仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：