阵列测试装置制造方法及图纸

本文公开一种阵列测试装置，其构造为使得其长度减小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试玻璃面板的阵列测试装置。
技术介绍
一般来说，FPD(平板显示器)是比具有布劳恩管(Braun Tube)的电视机或显示器更轻更薄的图像显示设备。IXD(液晶显示器)、TOP(等离子体显示面板)、FED(场致发射显示器)以及OLED(有机发光二极管)是已开发并使用的FPD的代表性实例。这些Fro中的IXD是以向排列为矩阵形状的液晶单元独立地提供基于图像信息的数据信号、并且因此控制液晶单元的透光性的方式来显示期望图像的图像显示设备。IXD薄且轻，而且还具有包括功耗低和操作电压低在内的许多其它优点，因此被广泛地使用。下面将详细描述用在这种LCD中的液晶面板的典型制造方法。首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后，在对应于上玻璃面板的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。其后，将配向膜分别施加至上玻璃面板和下玻璃面板。之后，摩擦配向膜，以便为后来将要形成在这些配向膜之间的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方向。此后，通过将密封胶涂布至玻璃面板中的至少一个来形成密封胶图案，以保持玻璃面板之间的空间、防止液晶漏出、并且密封玻璃面板之间的空间。其后，在这些玻璃面板之间形成液晶层，从而完成液晶面板。在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文中称为“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否断开连接或检测像素单元是否显色不佳来实现的。典型地，使用阵列测试装置测试玻璃面板。如图1所示，常规阵列测试装置包括底座框架10、将玻璃面板P加载到所述装置上的加载单元30、测试由加载单元30所加载的玻璃面板P的测试单元20、以及将已由测试单元20测试过的玻璃面板P从所述装置卸载的卸载单元40。测试单元20测试玻璃面板P的电缺陷。测试单元20包括透光支撑板21、测试模块22和探针组件23。由加载单元30加载的玻璃面板P放置在透光支撑板21上。测试模块22测试置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电缺陷。探针组件23向置于透光支撑板21上的玻璃面板P的电极施加电信号。测试模块22包括邻近置于透光支撑板21上的玻璃面板P放置的调制器221、以及拍摄调制器221的图像的摄像单元222。每个探针组件23包括探针头支撑框架231、探针头233、运动导引件234、Y轴驱动单元235以及X轴驱动单元236。探针头支撑框架231沿X轴方向延伸预定长度。探针头233设置在探针头支撑框架231上，以便能够沿探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向移动。探针头233具有多个探针引脚(未示出)。运动导引件234设置在底座框架10上，并且沿水平地垂直于探针头支撑框架231的纵向(X轴)方向的(Y轴)方向延伸。Y轴驱动单元235安装在运动导引件234上，并且连接至探针头支撑框架231，以沿Y轴方向移动探针头支撑框架231。X轴驱动单元236设置在探针头支撑框架231与探针头233之间。X轴驱动单元236在X轴方向上沿探针头支撑框架231移动探针头233。加载单元30的作用是支撑待测玻璃面板P并将玻璃面板P输送至测试单元20。卸载单元40支撑已测试过的玻璃面板P，并将玻璃面板P从测试单元20输送出阵列测试装置。加载单元30和卸载单元40中的每个包括玻璃面板输送单元60和多个支撑板50，上述多个支撑板50设置在以预定间距彼此间隔的位置处并支撑其上的玻璃面板P，上述玻璃面板输送单兀60输送玻璃面板P。另外，如图1和图2所示，透光支撑板21下方设置有多个背光单元70和背光单元移动装置80。每个背光单元70作用为光源。背光单元移动装置80将背光单元70移出透光支撑板21下方的空间，以便可以对背光单元70进行维护和修理。背光单元移动装置80包括背光单元运动导引件81、背光单元移动构件82和连接构件83。背光单元运动导引件81安装在板支撑件71下方的底座框架10上，透光支撑板21支撑在板支撑件71上。背光单元运动导引件81沿X轴方向延伸。背光单元移动构件82安装在背光单元运动导引件81上，以便能够沿X轴方向移动。每个连接构件83将对应的背光单元70连接至相关的背光单元移动构件82。背光单元运动导引件81在由透光支撑板21限定的区域上沿X轴方向延伸至预定长度。每个连接构件83具有在背光单元70与背光单元移动构件82之间沿竖直(Z轴)方向延伸预定长度的预定形状。如图2所示，当测试玻璃面板P时，背光单元70设置在透光支撑板21下方。如图3所示，在对玻璃面板P的测试结束之后，如果有必要维护或修理背光单元70，则通过沿背光单元运动导引件81移动对应的背光单元移动构件82而关于X轴方向沿相应的反方向移动背光单元70 (向图3的左侧和右侧)。由此，背光单元70暴露在透光支撑板21外。另外，为了将玻璃面板P加载到加载单元30的支撑板50上、或为了从卸载单元40的支撑板50卸载玻璃面板P，支撑在支撑板50上的玻璃面板P上方一定不能存在可阻碍玻璃面板P的竖直运动的障碍物。因此，当测试玻璃面板P时，每个探针头支撑框架231可以在支撑板50上方沿Y轴方向移动，但是当要将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，探针头支撑框架231要停在尽可能靠近透光支撑板21的位置处，从而防止探针头支撑框架231妨碍玻璃面板P的竖直(Z轴)移动。由此，可以在由支撑板50限定的相应区域中确保允许加载和卸载玻璃面板P的区域A。但是，在常规阵列测试装置中，由于导引背光单元移动构件82运动的背光单元运动导引件81的缘故，其中背光单元70通过背光单元移动构件82的运动而暴露在透光支撑板21外，导引探针头支撑框架231的Y轴运动的运动导引件234不能延伸至透光支撑板21的两端。因此，如图4所示，没有其他选择，只能将探针头支撑框架231移动至尽可能靠近透光支撑板21的位置。因此，当将玻璃面板P加载到支撑板50上或从支撑板50卸载时，每个探针头支撑框架231的至少一部分以预定的Y轴宽度wf位于对应的支撑板50上方。因为在加载或卸载玻璃面板P时支撑板50的Y轴长度Wlp是上述允许加载或卸载玻璃面板P的区域A的Y轴长度Wa与上述探针头支撑框架231的Y轴宽度Wf的总和，所以支撑板50的长度Wlp可以减小多少是有限制的。
技术实现思路
因此，针对以上在现有技术中所产生的问题提出本专利技术，并且本专利技术的目的是提供一种长度减小的阵列测试装置。为了实现以上目的，本专利技术提供一种阵列测试装置，包括透光支撑板，其允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在透光支撑板下方；探针头支撑框架，其延伸预定长度，探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及运动导引件，其沿水平地垂直于探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，运动导引件导引探针头支撑框架的运动，其中，运动导引件延伸至透光支撑板的相对两端。与常规阵列测试装置相比，根据本专利技术的阵列测试装置的优点是可以减小其总体尺寸。此外，在根据本专利技术的阵列测试装置中，如果使用与常规阵列测试装置相同的底座框架，则能形成可进一步增加支撑板长度的空间。因此，本专利技术的阵列测试装置可用于测试比常规技术中所使用的玻璃面板大的玻璃面板。附图说明由以下结合附图的详细描述，可以更加清晰地理解本专利技术前述的和其它的目的、特点和优点，其中图1是示出常规阵列测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列测试装置，包括：透光支撑板，所述透光支撑板允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在所述透光支撑板下方；探针头支撑框架，所述探针头支撑框架延伸预定长度，且所述探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及运动导引件，所述运动导引件沿水平地垂直于所述探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，所述运动导引件导引所述探针头支撑框架的运动，其中，所述运动导引件延伸至所述透光支撑板的相对两端。

【技术特征摘要】
2011.09.30 KR 10-2011-01000391.一种阵列测试装置，包括 透光支撑板，所述透光支撑板允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在所述透光支撑板下方； 探针头支撑框架，所述探针头支撑框架延伸预定长度，且所述探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及 运动导引件，所述运动导引件沿水平地垂直于所述探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，所述运动导引件导引所述探针头支撑框架的运动， 其中，所述运动导引件延伸至所述透光支撑板的相对两端。2.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括 加载单元，所述加载单元包括支撑板，所述支撑板支撑其上的玻璃面板，所述加载单元将玻璃面板加载到所述透光支撑板上， 其中，当将玻璃面板输送到所述加载单元的支撑板上时，所述探针头支撑框架设置在所述透光支撑板上方。3.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括 卸载单元，所述卸载单元包括支撑板，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔珍荣，
申请(专利权)人：塔工程有限公司，
类型：发明
国别省市：