本发明专利技术公开了一种液晶面板驱动方法及闪烁测试方法、液晶显示装置，涉及液晶显示技术领域，通过改变极性反转驱动方式实现采用1+2H闪烁测试图案对Z?Inversion?Array排布的液晶面板进行闪烁测试。所述液晶面板每列数据线通过薄膜晶体管交替连接每列数据线不同侧的像素电极，液晶面板驱动方法包括：同一帧画面内，在奇数列数据线和偶数列数据线施加极性相反的数据线驱动信号，栅线每扫描两行，数据线驱动信号进行一次极性反转，生成特定极性，并且相邻两帧画面的初始数据线驱动信号极性相反。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种液晶面板驱动方法及闪烁测试方 法、液晶显示装置。
技术介绍
随着显示技术的发展,液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)因其轻便、低 辐射等优点越来越受到人们的欢迎。然而，目前的LCD存在闪烁(Flicker)不良，因此需要 对LCD进行闪烁测试，并且根据测试结果对LCD中的液晶面板的公共电极电压进行调节，以 达到降低闪烁的目的。现有的液晶面板中阵列基板的排布方式包括如图1所示的正常阵列 排布和如图2所不的Z反转型阵列(Z Inversion Array)排布，Z Inversion Array排布 的液晶面板中每列数据线通过Z字形薄膜晶体管交替连接所述每列数据线不同侧的像素 电极。对于正常阵列排布的液晶面板，通常使用1+2H闪烁测试图案对该液晶面板进行闪 烁测试，因为在这种闪烁测试图案下会加强闪烁，便于对闪烁程度的捕获，在调节公共电极 电压使闪烁程度降低后，在正常的显示画面下，闪烁程度会更低。使用1+2H闪烁测试图案 需要配合如图3所示的像素电极极性排布方式，RGB分别表示红绿蓝三种颜色，正号和负号 分别表示像素电极的两种极性，具体地，一方面，任意相邻的两列像素电极极性相反，另一 方面，第一行像素电极与最后一行像素电极极性相同，从第二行像素电极开始依次划分每 两行像素电极为一个像素电极组，其中奇数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素 电极的极性相反，偶数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素电极的极性相同。正 常阵列排布的液晶面板采用如图4所示的极性反转驱动信号波形图得到1+2H闪烁测试图 案需要配合的像素电极极性排布，高电平表示极性不变，低电平表示极性反转，即在同一帧 (frame)内，扫描第一行后进行一次极性反转，从第二行开始至倒数第二行，每扫描两行进 行一次极性反转，最后一行与第一行的电平相同，并且相邻两帧画面的初始数据线驱动信 号极性相反。对于Z Inversion Array排布的液晶面板,其采用列反转(Column Inversion)的 极性反转方式，在正常阵列排布方式的液晶面板采用Column Inversion的极性反转方式 得到像素电极极性排布方式中，同一列像素电极具有同样的极性，相邻两列的像素电极具 有相反的极性，而由于Z Inversion Array排布方式与正常阵列排布方式的区别，因此使Z Inversion Array排布的液晶面板其得到的像素电极极性排布方式如图5所示，任意两个 相邻的像素电极具有相反的极性，进一步地，由于与1+2H闪烁测试图案需要的像素电极极 性排布方式不一致，因此无法采用1+2H闪烁测试图案对Z Inversion Array排布的液晶面 板进行闪烁测试。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种液晶面板驱动方法及闪烁测试方法、液晶显示装置，通 过改变极性反转驱动方式实现采用1+2H闪烁测试图案对Z Inversion Array排布的液晶面板进行闪烁测试。为解决上述技术问题，本专利技术的实施例采用如下技术方案一方面，提供一种液晶面板驱动方法，所述液晶面板包括多条数据线和多条栅线， 所述多条数据线与多条栅线交叉形成若干个矩阵排列的像素单元，每个像素单元包括一个 薄膜晶体管和一个像素电极，所述每列数据线通过薄膜晶体管交替连接所述每列数据线不 同侧的像素电极，所述液晶面板驱动方法包括同一帧画面内，在奇数列数据线和偶数列数据线施加极性相反的数据线驱动信 号，所述栅线每扫描两行，数据线驱动信号进行一次极性反转，生成特定极性，并且相邻两 帧画面的初始数据线驱动信号极性相反；所述特定极性为第一行像素电极与最后一行像素电极极性相同，从第二行像素 电极开始依次划分每两行像素电极为一个像素电极组，其中奇数像素电极组中每行像素电 极与所述第一行像素电极的极性相反，偶数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素 电极的极性相同。另一方面，提供一种液晶面板闪烁测试方法，所述液晶面板包括多条数据线和多 条栅线，所述多条数据线与多条栅线交叉形成若干个矩阵排列的像素单元，每个像素单元 包括一个薄膜晶体管和一个像素电极，所述每列数据线通过薄膜晶体管交替连接所述每列 数据线不同侧的像素电极，所述液晶面板闪烁测试方法包括所述液晶面板显示闪烁测试图案；检测所述液晶面板显示的是需要配合特定极性使用的闪烁测试图案，所述特定极 性为第一行像素电极与最后一行像素电极极性相同，从第二行像素电极开始依次划分每 两行像素电极为一个像素电极组，其中奇数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素 电极的极性相反，偶数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素电极的极性相同；将所述液晶面板的极性反转驱动方式采用上述的驱动方法进行转换；检测所述液晶面板的闪烁程度。进一步地，所述检测所述液晶面板显示的是需要配合特定极性使用的闪烁测试图 案的过程为保存所述液晶面板前一帧的显示画面数据；检测到所述前一帧的显示画面数据与当前帧的显示画面数据都为需要配合所述 特定极性使用的闪烁测试图案的数据。另一方面，提供一种液晶显示装置，包括液晶面板和数据驱动芯片，所述液晶面板 包括多条数据线和多条栅线，所述多条数据线与多条栅线交叉形成若干个矩阵排列的像素 单元，每个像素单元包括一个薄膜晶体管和一个像素电极，所述每列数据线通过薄膜晶体 管交替连接所述每列数据线不同侧的像素电极，所述多条数据线连接于所述数据驱动芯 片，所述数据驱动芯片用于为奇数列数据线和偶数列数据线提供极性相反的数据线驱动信 号，所述液晶显示装置还包括连接于所述数据驱动芯片的极性控制单元，所述极性控制单元用于在同一帧画面 内，使所述栅线每扫描两行，数据线驱动信号进行一次极性反转，生成特定极性，并且使相 邻两帧画面的初始数据线驱动信号极性相反；所述特定极性为第一行像素电极与最后一行像素电极极性相同，从第二行像素电极开始依次划分每两行像素电极为一个像素电极组，其中奇数像素电极组中每行像素电 极与所述第一行像素电极的极性相反，偶数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素 电极的极性相同。进一步地,还包括连接于所述极性控制单元的画面检测单元，所述画面检测单元用于检测所述液晶 面板上显示的是否是需要配合所述特定极性使用的闪烁测试图案；所述极性控制单元用于根据所述画面检测单元检测到所述液晶面板上显示的是 需要配合所述特定极性使用的闪烁测试图案时，在同一帧画面内，使所述栅线每扫描两行， 数据线驱动信号进行一次极性反转，生成所述特定极性，并且使相邻两帧画面的初始数据 线驱动信号极性相反。进一步地，所述画面检测单元包括用于保存所述液晶面板前一帧的显示画面数据的存储模块；连接于所述存储模块和所述极性控制单元的对比模块，所述对比模块用于当所述 前一帧的显示画面数据与当前帧的显示画面数据都为需要配合所述特定极性使用的闪烁 测试图案的数据时，判断所述液晶面板上显示的是需要配合所述特定极性使用的闪烁测试 图案。本专利技术实施例中的液晶面板驱动方法及闪烁测试方法、液晶显示装置，通过栅线 每扫描两行，数据线驱动信号进行一次极性反转，使得Z Inversion Array排布的液晶面板 生成特定极性排布方式，而该特定极性排布方式与1本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种液晶面板驱动方法，所述液晶面板包括多条数据线和多条栅线，所述多条数据线与多条栅线交叉形成若干个矩阵排列的像素单元，每个像素单元包括一个薄膜晶体管和一个像素电极，所述每列数据线通过薄膜晶体管交替连接所述每列数据线不同侧的像素电极，其特征在于，所述液晶面板驱动方法包括：同一帧画面内，在奇数列数据线和偶数列数据线施加极性相反的数据线驱动信号，所述栅线每扫描两行，数据线驱动信号进行一次极性反转，生成特定极性，并且相邻两帧画面的初始数据线驱动信号极性相反；所述特定极性为：第一行像素电极与最后一行像素电极极性相同，从第二行像素电极开始依次划分每两行像素电极为一个像素电极组，其中奇数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素电极的极性相反，偶数像素电极组中每行像素电极与所述第一行像素电极的极性相同。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：许益祯，孙志华，吴行吉，汪建明，张亮，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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