本发明专利技术提供了一种电阻式触摸屏的检测方法及装置。本发明专利技术为了得到两点间连线的倾斜角度，首先基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比；然后依据倾斜角度与电阻变化量之比的对应关系计算得到倾斜角度。本发明专利技术为了得到两点距离，首先计算得到上述电阻变化量之比、以及X平面和Y平面中任一平面的电阻变化量相比于该任一平面的总电阻的第一比值；然后计算得到中点处的等效接触电阻相比于该任一平面的总电阻的第二比值；最后依据以上述对应关系为基础而确定的电阻变化量之比、第一比值、第二比值、以及两点距离之间的联立关系，计算得到两点距离。进一步地，本发明专利技术还能够计算得到两点的坐标。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触摸屏检测技术，特别涉及可适用于双点触摸的电阻式触摸屏的检测方法及装置。
技术介绍
触摸屏(Touch panel)又称为触摸面板，是一种感应式液晶显示装置。当例如触头、手指尖等在触摸屏显示某一提示图形的位置处触压触摸屏时，触摸屏即可感测到发生触压的触摸点，并以感测到的触摸点位置或位置变化趋势替代各种机械式的操作。电阻式触摸屏是一种较为常用的触摸屏。电阻式触摸屏通常有两个均匀导电的铟锡氧化物半导体(ITO)层、也称为电阻膜，两个ITO之间利用介质隔离并支撑。两个ITO层分别对应用于表示触摸点位置的X方向坐标和Y方向坐标，故两个ITO层又分别称为X平面和Y平面。当发生单点触摸后，X平面和Y平面在唯一的一个触摸点接触。此时，基于分压原理即可检测到触摸点的X方向坐标和Y方向坐标、即触摸点的位置，从而能够以位置确定的单点触摸替代例如单击、双击等机械式的鼠标操作。此外，通过在不同时刻检测触摸点的位置，还能够得到触摸点的位置变化趋势，从而能够以位置变化趋势确定的单点触摸实现例如拖动、滚屏等操作。当发生两点触摸后，X平面和Y平面在两点相接触。此时，基于分压原理只能够得到两个触摸点之间的中点的X方向坐标和Y方向坐标、即中点的位置。因此，对于两点触摸的情况，现有的检测方法仅能够通过估计两点间距离的长短变化趋势来确定两点之间的相对位置变化趋势，从而能够以相对位置变化趋势实现例如放大、缩小等操作。但是，现有的检测方法无法得到两点连线的倾斜角度、两点距离的具体大小、以及两点的实际坐标。由此，就无法依据两点连线的倾斜角度来实现例如旋转等操作，也无法依据两点距离的具体大小来确定例如放大、缩小等操作的准确缩放比例，更无法依据两点的实际坐标实现例如单击、双击、拖动、滚屏等操作的组合。同样地，现有技术中基于与上述检测方法原理相同的检测装置，也无法得到两点连线的倾斜角度、两点距离的具体大小、以及两点的实际坐标。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供电阻式触摸屏的检测方法及装置，能够检测出两点连线的倾斜角度、两点距离、以及进一步检测出两点的实际坐标。本专利技术提供一种电阻式触摸屏的检测方法，该检测方法包括步骤al、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比；步骤a2、依据预先设置的两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系，计算得到所述倾斜角度。可选地所述步骤al所基于的所述电压检测是通过对所述X平面和所述Y平面分别施加电流激励、并检测所述X平面和所述Y平面连接电 流源的一端电压来实现的；以及，所述步骤al计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比；或者，所述步骤al所基于的所述电压检测是通过在所述X平面和所述Y平面的两端分别串联或者仅一端串联外接电阻并于串联后的两端施加电压激励、及检测所述X平面和所述Y平面的两端电压差值来实现的；以及，所述步骤al计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比与预设比例因子的乘积。优选地,所述对应关系为tan6> = ^ARy ZaRx ；其中，kxy为所述Y平面与所述X平面之间的比例系数，0为以所述X平面所对应的X方向为基准的所述倾斜角度，ARy为所述Y平面的电阻变化量，ARx为所述X平面的电阻变化量。本专利技术提供另一种电阻式触摸屏的检测方法，该检测方法包括步骤bl、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比、以及所述X平面和所述Y平面中任一平面的电阻变化量相比于所述任一平面的总电阻的第一比值；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比，所述第一比值与所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比成正比；步骤b2、基于发生两点触摸后的接触电阻检测，计算得到两点间的中点处的等效接触电阻相比于所述任一平面的总电阻的第二比值；其中，所述接触电阻检测依据的是接触电阻相比于所述任一平面的电阻分压比例、以及所述中点在所述任一平面内的坐标，所述第二比值等于所述电阻分压比例与所述中点对所述任一平面的总电阻的分割比例的乘积；步骤b3、依据所述电阻变化量之比、所述第一比值、所述第二比值、以及两点距离之间的联立关系，计算得到所述两点距离；其中，所述联立关系是依据所述X平面和所述Y平面在发生两点触摸后的阻值关系、并基于两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系预先建立的。可选地所述步骤bl所基于的所述电压检测是通过对所述X平面和所述Y平面分别施加电流激励、并检测所述X平面和所述Y平面连接电流源的一端电压来实现的，以及，所述步骤bl计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之t匕、所述第一比值等于所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比；或者，所述步骤b I所基于的所述电压检测是通过在所述X平面和所述Y平面的两端分别串联或者仅一端串联外接电阻并于串联后的两端施加电压激励、及检测所述X平面和所述Y平面的两端电压差值来实现的，以及，所述步骤bl计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比与预设第一比例因子的乘积、所述第一比值等于所述任一平面的电压变化量相比于所述任一平面在未发生触摸时的电压之比与预设第二比例因子的乘积。可选地，所述步骤b2所基于的对所述电阻分压比例的检测是通过在所述任一平面的一端和另一平面的一端施加电压激励、并以所述任一平面的另一端和所述另一平面的另一端为电压检测点来实现的，以及，所述步骤b2得到的所述电阻分压比例为所述接触电阻相比于所述任一平面中一段电阻的分压比例，所述一段电阻自所述任一平面的所述一端至所述两点中的其中一点。优选地，所述任一平面为所述X平面，所述步骤b3所依据的所述联立关系包括权利要求1.一种电阻式触摸屏的检测方法，其特征在于，该检测方法包括 步骤al、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比； 步骤a2、依据预先设置的两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系，计算得到所述倾斜角度。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于， 所述步骤al所基于的所述电压检测是通过对所述X平面和所述Y平面分别施加电流激励、并检测所述X平面和所述Y平面连接电流源的一端电压来实现的；以及，所述步骤al计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比； 或者，所述步骤al所基于的所述电压检测是通过在所述X平面和所述Y平面的两端分别串联或者仅一端串联外接电阻并于串联后的两端施加电压激励、及检测所述X平面和所述Y平面的两端电压差值来实现的；以及，所述步骤al计算得到的所述电阻变化量之比等于所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比与预设比例因子的乘积。3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述对应关系为Kiaxi9 = 4^Ry ; 其中，kxy为所述Y平面与所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电阻式触摸屏的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：步骤a1、基于未发生触摸时和发生两点触摸后的电压检测，计算得到Y平面相比于X平面的电阻变化量之比；其中，所述电阻变化量之比与所述Y平面相比于所述X平面的电压变化量之比成正比；步骤a2、依据预先设置的两点连线的倾斜角度与所述电阻变化量之比的对应关系，计算得到所述倾斜角度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吕连国，熊江，
申请(专利权)人：炬力集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：
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