本发明专利技术提供一种探针检测装置，包括绝缘座、固定在绝缘座内的探针、设置在绝缘座上方的扳手及靠近扳手的元件插口，检测时，向下按压扳手自由端，被检测元件插入元件插口内，松开扳手自由端，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标。所述绝缘座靠近扳手自由端处适当下沉，从而为扳手的下压提供了避位功能，减少操作难度，缩短操作工时，提升生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种探针检测装置，尤其涉及一种具有扳手避位槽的探针检测装置。技术背景电子探针(Electron Microprobe),全名为电子探针X射线显微分析仪,又名微区 X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、L1、Be等几个较轻元素外，都 可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某 一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定 性或定量分析。将扫描电子显微镜和电子探针结合，在显微镜下把观察到的显微组织和元 素成分联系起来，解决材料显微不均匀性的问题，成为研究亚微观结构的有力工具。电子探针有三种基本工作方式点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析， 以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化； 面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的 高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表 面微区进行定性及定量化学分析。电子探针主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为 Iym左右。分析元素从原子序数3(锂)至92(铀)。绝对感量可达10-14至10_15g。近 年形成了扫描电镜-显微分析仪的联合装置，可在观察微区形貌的同时逐点分析试样的化 学成分及结构。由于具有以上特点及优点，电子探针广泛应用于冶金、地质、电子材料、生物、医 学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用，是矿物测试分析和样品成分分析的重要工 具。同时，电子探针在产品的装配检测方面也发挥了重要作用。请参阅图1所示，图1 为现有用于USB连接器的探针检测装置的立体图，所述探针检测装置9包括绝缘座91、固定 在绝缘座内的探针92、设置在绝缘座上的扳手93及开设在绝缘座前端的元件插口 94。检 测时，向下按压扳手自由端930，被检测元件可以插入元件插口内，此时被检测元件与探针 前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标。然而，现有探 针检测装置的弊端是显而易见的扳手93自由端的操作空间不足，导致按压操作难度大， 操作工时长，生产效率低下。因此，如何克服扳手93自由端操作空间不足以便于操作，进而 提高生产效率，便成为业界急需解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种具有扳手避位槽的探针检测装置。为实现上述专利技术目的，本专利技术的探针检测装置，包括绝缘座、固定在绝缘座内的探针、设置在绝缘座上的扳手及开设在绝缘座前端的元件插口，所述绝缘座上设有扳手避 位槽，检测时，所述避位槽的存在可以保证很容易地向下按压扳手自由端，以使被检测元件 插入元件插口内，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以 检测被检测元件的相应指标。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手避位槽设置于扳手自由端的下方。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手避位槽系由绝缘座后端的上表面下沉而成。作为本专利技术的进一步改进，所述避位槽沿绝缘座长度方向贯穿绝缘座后端。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手的自由端延伸至避位槽上方以便于按压。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手的自由端不超过避位槽的长度。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手的材质为铝合金。作为本专利技术的进一步改进，所述扳手的材质为黄铜。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是所述绝缘座靠近扳手自由端处设有避位 槽，从而为扳手的下压提供了操作空间，可以减少操作难度、缩短操作工时、提升生产效率。附图说明图1为现有的探针检测装置的立体图2为本专利技术的探针检测装置的立体图3为本专利技术的探针检测装置另一角度的立体图4为本专利技术的探针检测装置的扳手的平面图。具体实施方式下面结合附图所示的各实施方式对本专利技术进行详细说明，但应当说明的是，这些 实施方式并非对本专利技术的限制，本领域普通技术人员根据这些实施方式所作的功能、方法、 或者结构上的等效变换或替代，均属于本专利技术的保护范围之内。参阅图2所示，本专利技术的探针检测装置100的探针11，包括前端的接触部12及与 接触部相连的固定部13，其中接触部12用来接触被检测装置的电连接部分，而固定部13可 以将探针11固定在所述探针检测装置100内，探针11的后端可以通过相应的数据线连接 至相关的仪器，从而对被检测产品进行相应的数据分析。请进一步参阅图3及图4所示，本专利技术的探针检测装置100还包括绝缘座2、设置 在绝缘座2上的扳手3，及开设在绝缘座2前端的元件插口 211，检测时，向下按压扳手3的 自由端，被检测元件(未图示)可以插入元件插口 211内，松开扳手3的自由端，探针11的 后端连接相应的数据线至相关的仪器，从而对被检测产品进行相应的数据分析。所述绝缘座2整体上为一长方体结构，且由前端21及后端22分别成型后组装在 一起。前端21呈方形，其中心部位开设有元件插口 211，用来插入被检测的元件，所述元件 插口 211的形状与被检测的产品端口形状相一致。所述绝缘座2后端22远离前端21的一 面设有筒状结构221。另，绝缘座2前端21的上部开设有供扳手3活动的长条形的活动槽212,且该活动 槽212前端与元件插口 211上部相贯通。所述扳手3呈长条状，包括靠近元件插口 211的 旋转部31，及靠近绝缘座2后端22的自由端32。所述旋转部31系通过轴连接方式固定在绝缘座2前端21的活动槽212内。所述绝缘座2后端22上表面中部下沉形成一扳手避位槽222，该避位槽222在绝 缘座2长度方向上贯穿绝缘座2后端22的上部，所述扳手3自由端32悬置于所述避位槽 222上方，并与避位槽222底面有一定距离，以便于向下按压扳手3自由端32。组装时，将绝缘座2的前后端21、21组装在一起，然后将探针11插入绝缘座2内， 使其前端的接触部12进入所述绝缘座2前端21的元件插口 211内，以便与插入的元件接 触部进行电连接。所述探针11的固定部13卡持在绝缘座2内相应位置，以确保探针11稳 固固定在绝缘座2内，不会在运输及检测过程中发生松动的问题。测试时，手动向下按压扳手3的自由端32，使其进入绝缘座2后端22的避位槽222 内，扳手3的旋转部31进行轴向旋转，其前端向上翘起，此时，将被测试的元件(未图示) 插入绝缘座2前端21的元件插口 211内，再将扳手3自由端32放开，扳手3旋转部31回 复原状，其前端紧密扣持在被测试元件接触部的上表面上。如此，被测试元件被牢牢固定在 绝缘座2前端21的元件插口 211内，方便进行下一步的检测工作。在此过程中，避位槽222 为扳手3自由端32提供了一个避位操作的功能，使操作者可以容易地向下按压扳手3自由 端32，而避免了现有检测装置中扳手自由端按压空间小，不易操作的问题。进一步的，为了延长扳手3的使用寿命，本专利技术所涉及的探针检测装置的扳手的 材质可以为铝合金。进一步的，为了延长扳手3的使用寿命，本专利技术所涉及的探针检测装置的扳手的 材质可以为黄铜。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是所述绝缘座2后端22靠近扳手3自由端 32处设有避位槽222，检测时，操作者可以很容易地向下按压扳手3自由端32，所述避位槽 222为扳手3自本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种探针检测装置，包括：绝缘座、固定在绝缘座内的探针、设置在绝缘座上的扳手及开设在绝缘座前端的元件插口，检测时，向下按压扳手自由端，被检测元件插入元件插口内，松开扳手自由端，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标，其特征在于：所述绝缘座上设有扳手避位槽。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：严定文，
申请(专利权)人：昆山诺瑞信机械设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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