芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试领域，尤其涉及芯片测试系统。
技术介绍
数字集成电路设计(IC设计)一般有以下流程I.系统功能设计阶段设计人员产品的应用场合，设定一些诸如功能、操作速度、接口规格、环境温度及消耗功率等规格，以做为将来电路设计时的依据。更可进一步规划软件模块及硬件模块该如何划分。2.设计描述和行为级验证系统功能设计完成后，可以依据功能将SOC划分为若干功能模块，并决定实现这些功能将要使用的IP核。此阶段将接影响了 SOC内部的架构及各模块间互动的信号，及未来产品的可靠性。决定模块之后，可以用VHDL或Verilog等硬件描述语言实现各模块的设计。接着，利用VHDL或Verilog的电路仿真器,对设计进行功能验证。3.逻辑综合确定设计描述正确后,可以使用逻辑综合工具(synthesizer)进行综合。4.门级验证门级功能验证是寄存器传输级验证。主要的工作是要确认经综合后的电路是否符合功能需求，该工作一般利用门电路级验证工具完成。5.布局和布线布局指将设计好的功能模块合理地安排在芯片上，规划好它们的位置。布线则指完成各模块之间互连的连线。6.流片测试通过半导体工艺制造出所设计的芯片，用以测试。7.大规模量产。
技术实现思路
本技术应用于芯片流片成功后的板级测试阶段，在芯片大规模生产之前一般需要对其进行“试生产”也就是流片，对流片后的样品进行检测验证，用以检测集成电路设计是否成功，功能是否满足要求等，为达到上述目的，本技术采用的技术方案是一种芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于包括上位机、测试板、IIC总线；所述的上位机通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。本技术的第一优选方案为，所述的USB接口为USB2. O接口。本技术的第二优选方案为，所述的USB协议为USB2. O协议。本技术的第三优选方案为，所述的内设测试软件为可视化界面。本技术的第四优选方案为，所述的测试板包括芯片Cy68013。本技术的技术优势在于能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。以下结合附图和具体实施方式对技术做进一步说明。附图说明图I为本实施例结构示意图。具体实施方式参考图1，芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。USB接口为USB2. O接口。USB协议为USB2. O协议。内设测试软件为可视化界面。测试板包括芯片Cy68013。具体实现方法包括以下步骤(I)操作者通过可视化界面把数据输入上位机，上位机内部软件把数据格式化成USB2. O协议的数据，然后通过USB接口把数据发送出去；(2)上位机软件发送来的数据通过USB2. O接口进入到板级芯片Cy68013中，在Cy68013中完成USB2. O到IIC协议转化，最后IIC总线把数据发送出去。(3) IIC总线根据扇区地址把数据配送到各个寄存器、Memory等接口中。(4)各个接口、寄存器的接收数据，经过芯片功能逻辑运算后，再通过这个链路返回到PC端，显示。上位机软件上位机内部软件包括read按钮、write按钮、对话框、根据芯片的模块划分成不同的功能页，功能页内包涵着对应的寄存器，使用寄存器ID对其进行排序，每个寄存器有读写两种操作，点击read按钮可以读取寄存器内的数据，并且返回到相应的窗体上；点击write按钮，可以把相应对话框中的数据写到寄存器中，如果读写正常会有相应的提示。在最下端有记录操作的对话框。b) USB到IIC协议转换在测试版中搭载了 Cypress公司的Cy68013芯片，芯片连接到PC机的USB接口端可以接受PC传输过来的数据，在Cy68013芯片中集成了 8051单片机，使用8051的两个普通I/O 口可的模拟出IIC总线协议，数据通过IIC总线发送出去。c) IIC总线到芯片端在IIC总线搭载的数据中包含了各个寄存器的扇区地址，各个寄存器通过扇区地址寻址找到相应的数据，数据进入相应的寄存器经过逻辑运算后重新返回IIC总线，根据原链路反送回去。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于：包括上位机、测试板、IIC总线；所述的上位机通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于包括上位机、测试板、IIC总线. 所述的上位机通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板； 所述的测试板接收测试数据并进行USB协议...

【专利技术属性】
技术研发人员：王茂海，
申请(专利权)人：无锡华大国奇科技有限公司，
类型：实用新型
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