本发明专利技术提供一种既能够由多个受光元件来实现大画面化又能够提高可靠性的放射线检测器（1），具备：可挠性支撑基板（5），具有放射线的入射面（5a）以及出射面（5b）；闪烁器层（6），由在出射面（5b）上进行结晶生长的多个柱状结晶（H）所构成并且由放射线的入射而产生光；防湿性保护层（7），覆盖闪烁器层（6）并被充填于多个柱状结晶（H）之间；受光元件（8A～8D），以与闪烁器层（6）相对的形式排列并且检测由闪烁器层（6）所产生的光。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于放射线检测的放射线检测器。
技术介绍
一直以来，作为放射线检测器众所周知在支撑将放射线转换成光的闪烁器层的支撑基板上采用了高分子膜(例如参照专利文献I)。该专利文献I所记载的放射线平板检测器具备由高分子膜构成的支撑基板、由被形成于支撑基板上的柱状结晶构成的闪烁器层、 将基板以及闪烁器层包在内部的防湿性保护膜、被配置于相对于闪烁器层的支撑基板的相反侧并由受光面检测闪烁器层所产生的光的受光元件。另外，为人们所知的放射线检测器是作为支撑基板而采用树脂制的基板(例如参照专利文献2)。再有，作为放射线检测器众所周知有为了对检测器实施大画面化而以瓦(tile)状进行排列来配置多个受光元件的放射线检测器(例如参照专利文献3 6)。另外，为人们所知的放射线检测器是在形成闪烁器层的柱状结晶之间充填保护膜(参照专利文献7)。现有技术文献专利文献专利文献I:国际公开W02008/018277号公报专利文献2:日本专利申请公开2004-61115号公报专利文献3:日本专利申请公开2000-131444号公报专利文献4:日本专利申请公开平9-257943号公报专利文献5:日本专利申请公开平9-260626号公报专利文献6:日本专利申请公开2001-74846号公报专利文献7:日本专利申请公开2000-09847号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题然而，关于专利文献I所记载的放射线平板检测器，因为是将具有可挠性的高分子膜作为支撑基板而采用的，所以能够以符合于受光元件的受光面形状的形式使支撑基板以及闪烁器层变形。在这个放射线平板检测器中，通过使支撑基板以及闪烁器层变形，从而就能够使闪烁器层与受光面的间隔均一化并能够谋求到放射检测所涉及的分辨率的提高。但是，关于这个放射线平板检测器，在受光面侧的形状发生大变化的情况下，变成缺乏柔软性的闪烁器层要以小角度进行弯曲，因而会有产生时而变得容易剥离时而结晶发生断裂等不良现象的担忧。特别是在以瓦状进行排列来配置多个受光元件的情况下，如果在邻接的受光元件之间有阶差等，则沿着阶差的勉强变形被施加于闪烁器层并且会发生结晶破损等不良情况。像这样的不良情况会招致放射线检测器可靠性的降低。因此，本专利技术的目的在于提供一种既能够通过使用多个受光元件来谋求大画面化又能够提高可靠性的放射线检测器。解决技术问题的手段放射线检测器具备可挠性基体，具有放射线的入射面以及出射面；闪烁器层，由在出射面上结晶生长的多个柱状体构成并且由放射线的入射而产生光；防湿性保护层，覆盖闪烁器层并被充填于多个柱状体之间；多个受光元件，以与闪烁器层相对的形式排列并且检测由闪烁器层产生的光。根据该放射线检测器，因为使用了多个受光元件，所以与使用一个受光元件的情况相比，能够以低成本实现大画面化。而且，根据该放射线检测器，因为采用了具有柔软性的可挠性基体作为支撑闪烁器层的构件，所以即使是在阶差存在于邻接的受光元件之间的情况下，也能够跟随于阶差使可挠性基体以及闪烁器层变形。由此，该放射线检测器因为能够抑制阶差的影响并能够使受光元件以及闪烁器层的间隔均一化，所以能够谋求到放射线检测器的分辨率的提高。再有，该放射线检测器，因为防湿性保护层被充填于闪烁器层的柱状体之间，所以与防湿性保护层未被充填于柱状体之间的情况相比，能够提高相对于闪烁器层弯曲变形的强度。因此，根据该放射线检测器，因为通过提高相对于闪烁器层弯曲变形的强度，从而就能够避免由于变形而引起的闪烁起层6的破损等不良情况的发生，所以能够谋求到放射线检测器的可靠性的提高。在上述放射线检测器中，可挠性基体可以是由高分子膜构成的结构。根据该放射线检测器，能够容易地制造出用于支撑闪烁器层的具有恰当强度以及柔软性的可挠性基体。另外，与其他材料相比较设计变更也比较容易。在上述放射线检测器中，可挠性基体可以是矩形板状的四个角被直线切割而成的结构。根据该放射线检测器，与矩形板状的可挠性基体相比，能够减少由于弯曲变形而引起的角落部皱纹的产生。其结果，该放射线检测器因为能够避免由于可挠性基体皱纹的产生而使闪烁器层歪斜等不良情况的发生，所以能够谋求到放射线检测器的可靠性的提闻。另外，在以上所述的放射线检测器中，可以进一步具备被配置于相对于多个受光元件的闪烁器层的相反侧并且支撑多个受光元件的基台。根据该放射线检测器，因为由基台而能够切实地支撑多个受光元件。所以能够谋求到放射线检测器的耐久性的提高。另外，因为在受到来自于外部的冲击的时候能够减少受光元件的位置关系发生错位而降低放射线检测器性能的可能性，所以有助于提高放射线检测器的可靠性。专利技术效果根据本专利技术，既能够通过使用多个受光元件来谋求大画面化又能够提高放射线检测器的可靠性。附图说明图I是表示本专利技术所涉及的放射线检测器的一个实施方式的截面图。图2是表示图I的放射线检测器的平面图。图3是表示相对于受光元件之间的阶差的闪烁器面板变形状态的放大截面图。图4是表示闪烁器面板的外缘部的变形状态的放大截面图。图5是表示光检测部的平面图。图6是为了说明闪烁器层形成工序的截面图。图7是为了说明闪烁器层形成工序的立体图。图8是为了说明保护膜形成工序的截面图。图9是为了说明粘结工序的截面图。图10是为了说明变形工序的截面图。具体实施方式以下是参照附图并就本专利技术的优选实施方式进行详细的说明。还有在各个附图中将相同符号标注于相同或者相当的部分从而避免重复的说明。另外，各个附图中的尺寸、形状、结构要素之间的大小关系并不一定与实物相同。如图I以及图2所示，本实施方式所涉及的放射线检测器I是一种用于检测X射线等放射线的放射线检测器，例如被用于PET (Positron Emission Tomography)装置或者被用于CT (Computed Tomography)装置。放射线检测器I具备闪烁器面板2、光检测部3 以及粘结剂层4。闪烁器面板2是将X射线等放射线转换成光的面板。闪烁器面板2具备支撑基板 5、闪烁器层6以及防湿性保护层7。支撑基板5例如是由高分子膜构成的具有可挠性的基板。作为构成支撑基板5的高分子例如是聚酰亚胺。另外，支撑基板5是使X射线等放射线透过的放射线透过基板。支撑基板5具有放射线进行入射的入射面5a和入射的放射线被出射的出射面5b。支撑基板5是矩形板状的四个角被直线切割而成的构件。支撑基板5被成形为覆盖闪烁器层6的薄盘形状。即，在支撑基板5的外周侧形成有向出射面5b侧倾斜的外缘部 5c和以法兰状被设置于外缘部5c外侧的相对端部5d。外缘部5c到达闪烁器层6的侧面 6c。相对端部5d以在支撑基板5的板厚方向上与光检测部3相对的形式而形成。另外，支撑基板5具有8个侧面SI S8。这些侧面SI S8是通过以直线切割矩形板状的四个角来进行形成的。第I侧面SI以及第2侧面S2为互相大致平行的面。另外，第3侧面S3是大致垂直于第I侧面SI的面。第4侧面S4是大致垂于第I侧面S I并且与第3侧面S3大致平行的面。另外，第5侧面S5是连接第I侧面SI以及第3侧面S3 的平面。同样，第6侧面S6是连接第I侧面SI以及第4侧面S4的平面，第7侧面S7是连接第2侧面S2以及第3侧面S3的平面，第8侧面S8是连接第2侧面S2以及第4侧面S4 的平面。第I侧面S I 第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：大泽弘武，楠山泰，外山真太郎，山下雅典，式田宗功，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：
国别省市：
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