基于老化的部件使用度量制造技术

本文描述了IC的基于老化的部件的使用度量的实施例。在不同实施例中，IC可以包括不同部件以及用于度量部件使用的基于老化的使用度量电路。部件可以包括彼此不同的相应的关联使用向量，而使用度量电路可以包括彼此耦合、形成用于处理不同使用向量的不同处理路径的电路元件。此外，部件可以配置为一旦部件被使用就向基于老化的使用度量电路分别发送部件的不同的关联使用矢量。并且使用度量电路可以配置为处理使用向量。此外，使用度量电路的电路元件由于处理而随时间老化，使得能够基于电路元件的老化来确定部件的使用。可以描述和要求保护其他实施例。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于老化的部件使用度量相关申请本申请的主题涉及2009年4月17日递交的题为“USAGEMETERING BASED UPONHARDWARE AGING”的美国专利申请No. 12/426141的主题。
技术介绍
除非本文另外指出，否则本节中描述的素材不是本申请权利要求的现有技术，并且不应因包括在本节中而承认是现有技术。 通用图形、数字信号处理(DSP)和网络处理器、静态和动态随机存取存储器(SRAM和DRAM)、现场可编程门阵列(FPGA)和其他半导体设备和系统的设计、制造和运行时间管理的许多阶段由使用这些设备的应用及其属性来指导。通常重要的是，对设备和系统进行优化，使得在时间、面积和功率方面以高效且可靠的方式执行一般情况的操作和应用。具体地，通常重要的是，适当地断定设备或系统的哪些部件最经常使用。在制造易变性和部件老化(例如，由于针对门和晶体管的负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子注入(HCI)以及针对互连的电子迁移)的情况下，应用属性也是集成电路优化的重要因素。长期压型(profiling)信息可以用于提高合成流提取的所有级别下的优化，包括体系结构、微体系结构、寄存器传送级、顺序和组合逻辑综合和物理设计。该信息还可以用于通过向编译器、实用工具、操作系统(OS)、系统级管理和运行时管理(例如，可变电压管理、热管理和高速缓存线置换策略)提出更精确的对象和约束来优化制造期间的产量和性能，并且用于离线运行时优化。包括等待时间、吞吐量、最大功率、能量、可靠性的许多设计和运行时测量可以通过以下得以提高收集和分析相关集成电路的部件使用的频率以及其他统计。理想地，压型是低成本、快速、精确和可靠的。
技术实现思路
本公开总体上针对涉及基于老化的集成电路(IC)的部件使用度量的方法、系统、设备和/或装置。简言之，在各种实施例中，IC可以包括不同部件以及用于度量部件使用的基于老化的使用度量电路。部件可以包括彼此不同的相应的关联使用向量，而基于老化的使用度量电路可以包括彼此耦合、形成用于处理不同的使用向量的不同处理路径的电路元件。此夕卜，部件可以配置为一旦部件被使用就向基于老化的使用度量电路分别发送部件的不同关联使用矢量。并且基于老化的使用度量电路可以配置为处理使用向量。此外，基于老化的使用度量电路的电路元件由于处理而随时间老化，使得能够基于电路元件的老化来确定部件的使用。在各种实施例中，一种用于度量IC的多个部件的使用的方法可以包括向IC的基于老化的使用度量电路发送分别与部件相关联的多个使用向量，并且通过基于老化的使用度量电路来处理多个使用向量。在一些实施例中，该方法可以包括向基于老化的使用度量电路发送多个输入信号，其中基于老化的使用度量电路响应于多个输入信号产生多个输出信号。该方法还可以包括从基于老化的使用度量电路接收多个输出信号；并且根据基于老化的使用度量电路的电路元件的老化来确定部件的使用。在一些实施例中，确定可以包括根据基于老化的使用度量电路的元件的延迟、漏电流或切换功率来确定部件的使用。在各种实施例中，该方法可以包括接收确定的部件使用，响应于确定的部件使用，基于确定的部件使用来产生针对部件之一、使用一个或多个部件的系统服务或者使用一个或多个部件的应用的优化指令。在一些实施例中，该方法还可以包括响应于所确定的部件的使用，基于所确定的部件的使用来产生针对设计部件之一的工具或针对产生使用一个或多个部件的系统服务或者应用的工具的优化指令。在各种实施例中，制造的产品可以具备用于存储 各种指令的存储介质，所述指令配置为使得装置能够响应于装置对指令的执行来执行各种方法的一些或选定方面。以上
技术实现思路
仅仅是说明性的，而绝不是限制性的。除了上述示例性的各方案、各实施例和各特征之外，参照附图和以下详细说明，将清楚其他方案、其他实施例和其他特征。附图说明主题特别指出，并且在说明书的概括部分中区别要求保护。根据以下说明和所附权利要求，结合附图，本公开的前述和其他特征将更加清楚。在认识到这些附图仅仅示出了根据本公开的一些示例且因此不应被认为是限制本公开范围的前提下，通过使用附图以额外的特征和细节来详细描述本公开。参照附图描述不同的实施例，在附图中类似的附图标记表示类似的元件，附图中图I示出了具有部件以及用于度量部件使用的基于老化的使用度量电路以及相关元件的集成电路(IC)的概观，图2示出了图I的基于老化的使用度量电路的示例的放大视图，图3-5示出了图I的1C、使用提取器和优化器的操作的各个方法，图6示出了适合于执行图I的使用提取器和优化器的操作的示例计算设备，以及图7示出了包括制造产品的示例程序产品，具有配置为执行均根据本公开布置的图I的使用提取器和优化器的操作的指令。具体实施例方式以下描述突出了不同的示例以及特定细节，来提供对要求保护的主题的完整理解。然而，本领域技术人员应理解，可以在无需本文公开的一些或更多特定细节的情况下实践要求保护的主题。此外，在一些情况下，尚未详细描述公知方法、过程、系统、部件和/或电路，以免不必要地模糊所要求保护的主题。在以下详细说明中，参考了作为详细说明的一部分的附图。在附图中，类似符号通常表示类似部件，除非上下文另行指明。具体实施方式部分、附图和权利要求书中记载的示例性实施例并不是限制性的。在不脱离在此所呈现主题的精神或范围的情况下，可以利用其他实施例，且可以进行其他改变。应当理解，在此一般性记载以及附图中图示的本公开的各方案可以按照在此明确和隐含公开的多种不同配置来设置、替换、组合、分割和设计。在以下描述中，提出了对计算系统内(例如，计算机和/或计算系统存储器内)存储的数据比特和/或二进制数字信号的操作的算法和/或符号表示。算法通常可以被认为是独立的操作序列和/或引起期望结果的相似处理，其中操作可以包括对采用电、磁和/或电磁信号形式的物理量的物理操作，这些信号能够被存储、传送、组合、比较和/或以其他方式操作。在不同上下文中，这样的信号可以被称作比特、数据、值、元素、符号、字符、术语、编号、数字等。然而，本领域技术人员应认识到，这样的术语可以用于隐含表示物理量。这里，当在本说明书中使用诸如“存储”、“处理”、“获取”、“计算”、“确定”等术语时，这些术语可以指代计算平台的动作，例如，操作和/或变换表示为物理量的数据的计算机或类似电子计算设备(例如，蜂窝电话)，物理量包括计算平台的处理器、存储器、寄存器等内的电量和/或磁量。图I示出了具有部件和用于度量部件使用的基于老化的使用度量电路以及相关元件的IC 100的概观。如所示，IC 100可以包括如所示彼此耦合的多个部件102和基 于老化的使用度量电路104。部件102可以包括彼此不同的相应的关联使用向量112。如以下更详细描述的，基于老化的使用度量电路104可以包括多个电路元件，这些电路元件彼此耦合以形成用于处理不同的使用向量的多个对应的不同处理路径。此外，部件102可以包括分别存储关联使用向量的存储位置，并且部件102可以配置为一旦部件102被使用就向基于老化的使用度量电路104分别发送部件102的不同使用向量112。基于老化的使用度量电路104配置为一旦接收到不同的使用向量112，就对不同的使用向量进行处理。基于老化的使用度量电路104的电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：米奥德拉格·波特科尼亚克，
申请(专利权)人：英派尔科技开发有限公司，
类型：
国别省市：