存储设备测试系统内的阻尼振动技术方案

本发明专利技术公开了一种包括壳体的存储设备测试槽。所述壳体限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室。一个或多个调谐质量阻尼器连接到所述壳体。所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】存储设备测试系统内的阻尼振动相关专利申请的交叉引用本专利申请要求提交于2010年6月17日的美国专利申请No. 12/817，614的优先权，所述专利申请的内容据此全文以引用方式并入。
本公开涉及存储设备测试系统中的阻尼振动。
技术介绍
存储设备制造商通常会测试所制造的存储设备是否符合一系列要求。存在串行或并行测试大量存储设备的测试设备和技术。制造商往往会同时或分批地测试大量存储设备。储设备测试系统通常包括一个或多个测试器支架，所述一个或多个测试器支架具有接纳要进行测试的存储设备的多个测试槽。在一些情况下，存储设备设置在托架中，所述托架用于将存储设备装载至测试支架和从测试支架卸载存储设备。调节紧邻存储设备的测试环境。对于精确的测试条件和存储设置的安全性而言， 测试环境中的最小温度波动可为至关重要的。另外，具有较高容量、较快旋转速度和较小磁头间隙的最新代磁盘驱动器对振动较为敏感。过度振动可影响测试结果的可靠性和电连接的 完整性。在测试条件下，驱动器自身可通过支承结构或固定装置将振动传播到相邻单元。 此振动“串扰”和外部振动源一起会造成碰撞故障、磁头松动和非重复性脱离磁道(NRRO)， 从而可能导致较低的产量和增加的制造成本。当前的存储设备测试系统采用自动化和结构化支承系统，所述自动化和结构化支承系统会造成系统中的过度振动并且/或者需要大的占用空间。
技术实现思路
整体上，本专利技术涉及测试槽托架以及相关的设备、系统和方法。在一个方面，存储设备测试槽包括壳体。壳体限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室。测试槽还包括连接(如，使用粘合剂、紧固件等一体地形成或耦合)到壳体的一个或多个调谐质量阻尼器。一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制壳体以一种或多种预定频率振动。实施例可包括以下一个或多个特征。在一些情况下，一个或多个调谐质量阻尼器包括连接到壳体的横梁。横梁一体地连接到壳体(如，与壳体一起模制、加工或以其他方式成形)。横梁包括被构造为相对于彼此滑动的两个或更多个层。横梁包括悬臂梁。一个或多个调谐质量阻尼器还包括耦合到横梁的重物。该重物与横梁成一整体。一个或多个调谐质量阻尼器还包括设置在横梁与重物之间的一层吸能材料。吸能材料包括弹性体、粘弹性粘合剂和/或粘滞液体。一个或多个调谐质量阻尼器还包括固定到吸能层表面的一层大体刚性的材料。所述大体刚性的材料设置在吸能层与重物之间。一种或多种预定频率与壳体的一种或多种振动模式相关。测试室被3构造为接纳并支承用于携带要测试的存储设备的存储设备输送器。一个或多个调谐质量阻尼器连接到壳体的外表面。一个或多个调谐质量阻尼器连接到壳体的内表面。实施例可包括以下一个或多个优点。向存储设备测试槽中添加一个或多个调谐质量阻尼器可以显著减小存储设备测试槽以一种或多种预定频率的振动。调谐质量阻尼器的总体设计使得可将其设计成对存储设备测试槽的若干模式进行衰减。可以调整悬臂梁、金属重物、刚性层和吸能层的尺寸和特性，以使得阻尼器具有的以若干频率进行振动的振动模式可与存储设备测试槽的若干棘手的振动模式相匹配。附图说明图I为存储设备测试系统的透视图。图2A为测试支架的透视图。图2B为得自图2A的测试支架的托架容器的详细透视图。图3A和3B为测试槽托架的透视图。图4为测试槽组件的透视图。图5为存储设备测试系统的俯视图。图6为存储设备测试系统的透视图。图7A和7B为存储设备输送器的透视图。图8A为支承存储设备的存储设备输送器的透视图。图SB为接纳存储设备的存储设备输送器的透视图。图SC为携带被对准插入到测试槽内的存储设备的存储设备输送器的透视图。图9为测试电路的示意图。图10AU0B和11为测试槽的透视图。图12为包括调谐质量阻尼器的测试槽的透视图。图13为测试槽上的调谐质量阻尼器的放大透视图。图14为示出使用和不使用调谐质量阻尼的振动测量的曲线图。不同附图中的类似参考符号表示类似的元件。具体实施方式系统概述如图I所示，存储设备测试系统10包括多个测试支架100 (如，图中示出了 10个测试支架)、转运站200和自动控制装置300。如图2A和2B所示，各个测试支架100通常包括底座102。底座102可由多个结构构件104 (如成形的金属片、挤出的铝、钢管材、和/或复合构件)来构造，所述多个结构构件104被紧固在一起并且共同限定多个托架容器106。每个托架容器106可支承一个测试槽托架110。如图3A和3B所示，各个测试槽托架110均支承多个测试槽组件120。测试槽托架110中的不同者可被构造为进行不同类型的测试和/或测试不同类型的存储设备。测试槽托架110彼此也可在测试系统10内的多个托架容器106中互换，由此允许例如基于测试需要来修改和/或定制测试系统10。在图 2A所示的例子中，空气导管101提供相应测试支架100的各个测试槽组件120与空气热交换器103之间的气动连通。空气热交换器103设置在远离所接纳测试槽托架110的托架容器106的下方。可与本文所述的那些相结合的测试支架基础构造和特征的其他细节也可存在于提交于 2010 年 2 月 2 日、名称为 “STORAGE DEVICE TESTING SYSTEM COOLING” (存储设备测试系统冷却)、代理人档案号18523-0103001、专利技术人Brian S. Merrow并具有分配的序列号12/698，575的美国专利申请中。如本文所用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、存储器设备以及受益于异步测试的任何设备。磁盘驱动器通常为在具有磁性表面的快速转动盘片上存储数字编码数据的非易失性存储设备。固态驱动器(SSD)为使用固态存储器存储永久性数据的数据存储设备。使用SRAM或DRAM (而非闪存)的SSD通常称为RAM驱动器。术语“固态”一般来讲用于区分固态电子器件和机电器件。如图4所示，各个测试槽组件120包括存储设备输送器400、测试槽500和相关的空气移动装置组件700。存储设备输送器400可用于捕集存储设备600 (如从转运站200) 以及将存储设备600输送至测试槽500中的一个来进行测试。参见图5和6，自动控制装置300包括机械臂310和设置在机械臂310远端的机械手312 (图5)。机械臂310限定了垂直于地板表面316的第一轴线314 (图6)，可操作机械臂310以在自动控制装置操作区域318内按预定弧线围绕第一轴线314旋转以及从第一 轴线314径向延伸。机械臂310被构造为通过在转运站200与测试支架100之间输送存储设备600来独立地为每个测试槽500提供服务。在一些实施例中，机械臂310被构造为使用机械手312从测试槽500中的一个移出存储设备输送器400，然后使用存储设备输送器400 从转运站200获取存储设备600，接着将存储设备输送器400及其中的存储设备600返回到测试槽500以测试存储设备600。测试之后，机械臂310从测试槽500中的一个取回存储设备输送器400及支承的存储设备600，然后通过操纵存储设备输送器400 (即，使用机械手 312)将其返回到转运站200 (或将其移至测试槽500中的另一个)。在一些实施例中，机械臂310被构造为使用机械手312从转运站200获取存储设备600，然后将存储本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.06.17 US 12/817,6141.一种存储设备测试槽，包括壳体，其限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室；以及连接到所述壳体的一个或多个调谐质量阻尼器，所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。2.根据权利要求I所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器包括连接到所述壳体的横梁。3.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁一体地连接到所述壳体。4.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁包括被构造为相对于彼此滑动的两个或更多个层。5.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁包括悬臂梁。6.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器还包括连接到所述横梁的重物。7.根据权利要求6所述的存储设备测试槽，其中所述重物一体地连接到所述横梁(如...

【专利技术属性】
技术研发人员：彼得·马蒂诺，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：
国别省市：