可连续测量的光谱检测棒制造技术

本发明专利技术公开一种可连续测量的光谱检测棒，包括管体、玻璃器皿池、测量光源和MMS光感应器，所述玻璃器皿池具有供测量光谱通过的第一光路通道和供参比光谱通过的第二光路通道，玻璃器皿池在第二光路通道上具有凹槽，此管体前部由第一后盖和玻璃器皿池一端形成第一密封腔，管体后部由第二后盖和玻璃器皿池另一端形成第二密封腔，所述测量光源位于第一密封腔内，第一凸透镜位于测量光源和玻璃器皿池之间，所述MMS光感应器位于第二密封腔内，第二凸透镜位于MMS光感应器和玻璃器皿池之间，一光谱衰减器位于第一密封腔内，一挡光片位于第二密封腔内。本发明专利技术光谱检测棒可直接投入待测环境的待测点，实时测试现场环境；且增加光谱衰减器的补偿作用，提高了测量精度。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测领域，具体涉及一种可连续测量的光谱检测棒。
技术介绍
在化工生产、环境监测、排放监测等许多领域都需要对气体、液体等浓度成分进行监测和分析。光谱法是进行气体浓度连续监侧的一种重要方法。在光谱法成分浓度分析中，待测物在样品池中，测量光则从样品池的一端入射，通过被测气体后，从样品池的另一端透射出去，进入光谱分析仪器或通过光纤进入光纤光谱仪。在这种测量仪器中，如何布置光路，使仪器的结构尽可能简单可靠，减小尺寸和体积对于用于现场环境、实地监测的仪器是很重要的。现有技术存在以下技术问题(1)现有测量装置，一般都是将系统做成桌面台式，检测的介质放在固定光程的器皿中，然后将器皿放入光路中间检测，需要取样，不利于 移动和随时随地检测，难以真正实现连续测量和实际的准确检测，(2)现有测量装置，虽然有参比光的检测但没有针对光源光强和波长做自动在线校验的手段和方法，(3)由于测量光源在工作一段时间后，发光的强度会由于器件的老化而衰减，所以存在测量不精确，尤其对于浓度检测会带来很大的偏差。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种可连续测量的光谱检测棒，此光谱检测棒可直接投入待测环境的待测点，实时测试现场环境；且增加光谱衰减器的补偿作用，提高了测量精度。为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是一种可连续测量的光谱检测棒，包括管体、位于管体中部的玻璃器皿池、测量光源和MMS光感应器，所述玻璃器皿池具有供测量光谱通过的第一光路通道和供参比光谱通过的第二光路通道，玻璃器皿池在第一光路通道具有一可盛待测物的凹槽，此管体前部由第一后盖和玻璃器皿池一端形成第一密封腔，管体后部由第二后盖和玻璃器皿池另一端形成第二密封腔，所述测量光源位于第一密封腔内，第一凸透镜位于测量光源和玻璃器皿池之间，所述MMS光感应器位于第二密封腔内，第二凸透镜位于MMS光感应器和玻璃器皿池之间，一光谱衰减器位于第一密封腔内，此光谱衰减器经第一传动机构驱动可在测量光源和玻璃器皿池之间的光路和非光路两个位置上切换，一挡光片位于第二密封腔内，此挡光片经第二传动机构驱动可在所述MMS光感应器和玻璃器皿池之间的第一光路通道光路和第二光路通道光路两个位置上切换。上述技术方案中进一步改进方案如下 I、上述方案中，所述光谱衰减器为固定比例光谱衰减器。2、上述方案中，所述光谱衰减器位于第一凸透镜和氙灯发光源之间。3、上述方案中，所述凹槽位于玻璃器皿池中部。4、上述方案中，所述第一传动机构和第二传动机构驱动均为电机。5、上述方案中，所述测量光源为氙灯发光源或者卤素灯发光源。由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点和效果I、本专利技术可连续测量的光谱检测棒，可以随身携带，随时随地的检测，可直接投入待测环境的待测点，实时测试现场环境，其数据的可靠性和真实性得到了进一步的提高。2、本专利技术可连续测量的光谱检测棒，利用了光衰减器的标定，延长的灯源的使用寿命，减少了重复校验的周期，提高了检测准确度，测量光源通过检测区由MMS光谱感应器接受光谱的强度与参比光谱对比计算完成整个光谱路的测量，由此计算投射光在通过检测区间被介质吸收的元素，光谱棒，增加光谱衰减器的补偿作用，提高了测量精度。3、本专利技术可连续测量的光谱检测棒，增加了光源检测衰减器，由于灯源在长期使用后的衰减机理，一般都是在一定时间周期跟换灯源，事实上很多灯源在超期都可以使用，就是无法知道灯源衰减的程度和衰减后对测量带来多少影响，通过本专利技术增加的灯源衰减补偿的机理，延长了灯源的使用寿命，降低成本，而且在正常使用中由于对光源衰减过程进行不断的补偿，进一步提高的检测的准确性。附图说明 附图I为本专利技术可连续测量的光谱检测棒结构图。以上附图中1、管体；11、第一密封腔；12、第二密封腔；2、玻璃器皿池；21、第一光路通道；22、第二光路通道；23、凹槽；3、测量光源；4、丽S光感应器；5、第一凸透镜；6、第二凸透镜；7、光谱衰减器；8、第一传动机构；9、挡光片；10、第二传动机构。具体实施例方式下面结合附图及实施例对本专利技术作进一步描述 实施例一种可连续测量的光谱检测棒，如附图I所示，包括管体I、位于管体I中部的玻璃器皿池2、测量光源3和MMS光感应器4，所述玻璃器皿池2具有供测量光谱通过的第一光路通道21和供参比光谱通过的第二光路通道22，玻璃器皿池2在第一光路通道21上具有一可盛待测物的凹槽23,此管体I前部由第一后盖和玻璃器皿池2 —端形成第一密封腔11，管体后部由第二后盖和玻璃器皿池另一端形成第二密封腔12，所述测量光源3位于第一密封腔11内，第一凸透镜5位于测量光源3和玻璃器皿池2之间,所述MMS光感应器4位于第二密封腔12内，第二凸透镜6位于MMS光感应器4和玻璃器皿池2之间，一光谱衰减器7位于第一密封腔11内，此光谱衰减器7经第一传动机构8驱动可在测量光源3和玻璃器皿池2之间的光路和非光路两个位置上切换，一挡光片9位于第二密封腔12内，此挡光片9经第二传动机构10驱动可在所述MMS光感应器4和玻璃器皿池2之间的第一光路通道21光路和第二光路通道22光路两个位置上切换。上述光谱衰减器7为固定比例光谱衰减器。上述光谱衰减器7位于第一凸透镜5和测量光源3之间。上述凹槽23位于玻璃器皿池2中部。上述测量光源3为氙灯发光源或者卤素灯发光源。上述第一传动机构8和第二传动机构10驱动均为电机。上述测量光源3为氙灯发光源或者卤素灯发光源。上述实施例只为说明本专利技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本专利技术的内容并据以实施，并不能以此限制本专利技术的保护范围。凡根据本专利技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。·本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可连续测量的光谱检测棒，特征在于：包括管体（1）、位于管体（1）中部的玻璃器皿池（2）、测量光源（3）和MMS光感应器（4），所述玻璃器皿池（2）具有供测量光谱通过的第一光路通道（21）和供参比光谱通过的第二光路通道（22），玻璃器皿池（2）在第一光路通道（21）上具有一可盛待测物的凹槽（23），此管体（1）前部由第一后盖和玻璃器皿池（2）一端形成第一密封腔（11），管体后部由第二后盖和玻璃器皿池另一端形成第二密封腔（12），所述测量光源（3）位于第一密封腔（11）内，第一凸透镜（5）位于测量光源（3）和玻璃器皿池（2）之间，所述MMS光感应器（4）位于第二密封腔（12）内，第二凸透镜（6）位于MMS光感应器（4）和玻璃器皿池（2）之间，一光谱衰减器（7）位于第一密封腔（11）内，此光谱衰减器（7）经第一传动机构（8）驱动可在测量光源（3）和玻璃器皿池（2）之间的光路和非光路两个位置上切换，一挡光片（9）位于第二密封腔（12）内，此挡光片（9）经第二传动机构（10）驱动可在所述MMS光感应器（4）和玻璃器皿池（2）之间的第一光路通道（21）光路和第二光路通道（22）光路两个位置上切换。...

【技术特征摘要】
1.一种可连续测量的光谱检测棒，特征在于包括管体(I)、位于管体(I)中部的玻璃器皿池(2 )、测量光源(3 )和MMS光感应器(4 )，所述玻璃器皿池(2 )具有供测量光谱通过的第一光路通道(21)和供参比光谱通过的第二光路通道(22)，玻璃器皿池(2)在第一光路通道(21)上具有一可盛待测物的凹槽(23),此管体(I)前部由第一后盖和玻璃器皿池(2) —端形成第一密封腔(11)，管体后部由第二后盖和玻璃器皿池另一端形成第二密封腔(12)，所述测量光源(3)位于第一密封腔(11)内，第一凸透镜(5)位于测量光源(3)和玻璃器皿池(2)之间，所述丽S光感应器(4)位于第二密封腔(12)内，第二凸透镜(6)位于丽S光感应器(4 )和玻璃器皿池(2 )之间，一光谱衰减器(7 )位于第一密封腔(11)内，此光谱衰减器(7)经第一传动机构(8)驱动可...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟旭东，
申请(专利权)人：苏州天和自动化系统有限公司，钟旭东，
类型：发明
国别省市：