一种液晶盒测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种液晶盒测试设备，在现有液晶盒测试设备的探头和液晶面板信号输入端所在的位置的基台上设置辅助对位用的反光镜，在测试设备承载基台的底座上及在基台上设置刻度尺，以辅助用户在进行对位时掌握移动距离。本实用新型专利技术使测试时对位更加容易，精度更容易控制，从而使测试结果更准确可靠。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及液晶显示技术，尤其涉及一种液晶盒测试设备。
技术介绍
现有液晶盒测试设备的结构如图I所示，主要包括基台4和探头I两个部分，其中，探头I与探杆连接，探杆可垂直上下摆动，从而控制探头I抬起或落下，探杆与测试设备底座8相连，在水平方向位置固定，不能左右移动。探头I上有多个金属探针10，金属探针10与放置于基台4表面的液晶面板信号输入端2进行对位，从而测试经对盒工艺后的液晶面板3是否存在不良因素，例如，可检测出是否有灰尘、气泡，信号线是否有问题等。基台4可通过控制旋钮在水平方向上移动，以实现金属探针10与液晶面板信号输入端2的对位。由于金属探针10和液晶面板信号输入端2都比较小，金属探针10很难与液晶面板信号输入端2精准对位，因此，现有液晶盒测试设备进行对位精度调试比较困难。另外，即使对位精准以后，基台4只要稍微移动，金属探针10与液晶面板信号输入端2的对位精度就会被破坏，导致测试时液晶面板信号施加不正常，无法进行正常测试。还有，现有液晶盒测试设备在进行金属探针10与液晶面板信号输入端2的对位时，调节精度的控制比较困难，使得目前所使用设备的精度调节比较困难，测试精度难以控制。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的主要目的在于提供一种液晶盒测试设备，能实现金属探针与液晶面板信号输入端的准确对位。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的本技术提供一种液晶盒测试设备，包括探头、基台、底座；其中，在所述探头上设置有辅助对位的上反光镜；在所述基台靠近所述探头一侧的上表面设置有辅助对位的下反光镜，所述下反光镜的镜面与所述上反光镜的镜面相对。进一步地，所述上反光镜的面积大于所述探头的面积，且镜面朝下。进一步地，所述基台表面放置有液晶面板信号输入端；所述下反光镜的面积大于所述液晶面板信号输入端所在区域的面积。较佳地，在所述底座远离所述探头的一边设置有第一底座刻度尺，在另外一个或另外两个侧边设置有第二底座刻度尺。较佳地，在所述基台上远离所述探头的一边设置有第一基台刻度尺，在另外一个或另外两个侧边设置有第二基台刻度尺。本技术所提供的液晶盒测试设备，在现有液晶盒测试设备的探头上和液晶面板信号输入端所在的位置的基台上设置辅助对位用的反光镜，在测试设备承载基台的底座上及在基台上设置刻度尺，以辅助用户在进行对位时掌握移动距离。本技术加入了镜子与刻度尺作为辅助对位部件，不仅能改善精度调节的方法，使测试精度调节更容易；而且使测试精度能更容易、更好地得到控制。显然，本技术使测试时对位更加容易，精度更容易控制，从而使测试结果更准确可靠。附图说明图I为现有液晶盒测试设备进行对位时的不意图；图2为本技术提供的液晶盒测试设备及进行对位的示意图；I-探头；2_液晶面板/[目号输入端；3_液晶面板；4_基台；4A_第一基台刻度尺；4B-第二基台刻度尺；5_上反光镜；6_下反光镜-Jk-第一底座刻度尺；7B-第二底座刻度尺；8_底座；10_金属探针。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下举实施例并参照附图，对本技术进一步详细说明。图2为本技术提供的液晶盒测试设备及进行对位的示意图，该新型液晶盒测试设备是对现有液晶盒测试设备的改进。如图2所示，本技术对现有液晶盒测试设备所做的第一点改进是在探头I上增加辅助对位用的上反光镜5 ;在基台4靠近探头I 一侧的上表面增加辅助对位用的下反光镜6，下反光镜6的镜面与上反光镜5的镜面相对；较佳的，上反光镜5的面积要大于探头I的面积，且镜面朝下；另外，较佳的，下反光镜6的面积要大于液晶面板信号输入端2所在区域的面积，从而使用户能够通过宽出的镜面中看到金属探针10 ；增加上反光镜5和下反光镜6后,上反光镜5能够将探头I上的金属探针10与液晶面板信号输入端2对位情况反射到下反光镜6中，通过下反光镜6可以清楚地看到金属探针10及金属探针10与液晶面板信号输入端2的对位情况，从而使得对位的精度更容易掌握，对位更加容易、快速、准确。本技术对现有液晶盒测试设备所做的第二点改进是在底座8上设置刻度尺,优选地,在底座8的远离探头I的一边设置第一底座刻度尺7A，在另外两个侧边中的一个或两个设置第二底座刻度尺7B ；通过增加第一底座刻度尺7A和第二底座刻度尺7B可以精确读出基台4位于底座8的位置，从而在基台4移动时，使用户清楚知道基台4的移动距离；本技术对现有液晶盒测试设备所做的第三点改进是在基台4上远离探头I的一边设置第一基台刻度尺4A，在另两个侧边中的一个或两个设置第二基台刻度尺4B ；通过增加的第一基台刻度尺4A和第二基台刻度尺4B可以精确的读出液晶面板3位于基台4的位置，从而在液晶面板3移动时，使用户清楚液晶面板3的移动距离。通过增加上述几个刻度尺，使得用户可以通过刻度记录比较方便快捷地重新调整基台4和/或液晶面板3的位置，从而使金属探针10与液晶面板信号输入端2的对位更加容易和精确。以上所述，仅为本 技术的较佳实施例而已，并非用于限定本技术的保护范围。权利要求1.一种液晶盒测试设备，包括探头、基台、底座，其特征在于， 在所述探头上设置有辅助对位的上反光镜； 在所述基台靠近所述探头一侧的上表面设置有辅助对位的下反光镜，所述下反光镜的镜面与所述上反光镜的镜面相对。2.根据权利要求I所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述上反光镜的面积大于所述探头的面积，且镜面朝下。3.根据权利要求I或2所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述基台表面放置有液晶面板信号输入端；所述下反光镜的面积大于所述液晶面板信号输入端所在区域的面积。4.根据权利要求I所述的液晶盒测试设备，其特征在于， 在所述底座远离所述探头的一边设置有第一底座刻度尺，在另外一个或另外两个侧边设置有第二底座刻度尺。5.根据权利要求I所述的液晶盒测试设备，其特征在于， 在所述基台上远离所述探头的一边设置有第一基台刻度尺，在另外一个或另外两个侧边设置有第二基台刻度尺。专利摘要本技术公开了一种液晶盒测试设备，在现有液晶盒测试设备的探头和液晶面板信号输入端所在的位置的基台上设置辅助对位用的反光镜，在测试设备承载基台的底座上及在基台上设置刻度尺，以辅助用户在进行对位时掌握移动距离。本技术使测试时对位更加容易，精度更容易控制，从而使测试结果更准确可靠。文档编号G02F1/13GK202661749SQ20122022468公开日2013年1月9日 申请日期2012年5月17日 优先权日2012年5月17日专利技术者陈娟, 柳在健 申请人:京东方科技集团股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶盒测试设备，包括探头、基台、底座，其特征在于，在所述探头上设置有辅助对位的上反光镜；在所述基台靠近所述探头一侧的上表面设置有辅助对位的下反光镜，所述下反光镜的镜面与所述上反光镜的镜面相对。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈娟，柳在健，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：