一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法，所述方法应用于移动终端，包括以下步骤：步骤1、设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存；步骤2、进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动IC，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩阵基准值，读取完成后再将数据回传给CPU；步骤3、将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较；步骤4、显示比较结果，触摸屏为良品或不良品。且公开了测试系统包括上下限设置模块、电容矩阵基准值获取模块、判断模块、执行模块。本发明专利技术读取触摸屏电容矩阵中每个点的基准值，判断是否在正常范围以内，从而判断触摸屏是否正常，测试速度快，准确度高。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电容触摸屏，特别是涉及一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法及其移动终端。
技术介绍
电容触摸屏一般是由多条发送通道(X轴)和多条接收通道(Y轴)交叉分布形成一个电容矩阵，当手指触摸屏幕时，通过X、Y轴的扫描，检测到触摸位置的电容变化，从而计算出触摸点坐标。当没有手指触摸时，电容矩阵中的每一个点都存在一个基准电容值。正常情况下，一款触摸屏的电容矩阵基准值是固定在一个范围以内的，矩阵中每个点的基准值都有一个上限和下限，如果基准值超出上限或下限，我们则判定触摸屏这个点有问题。 目前对于单体触摸屏的测试，一般都有专用的测试治具，能够快速检测触摸屏是否正常。但是当触摸屏组装到整机上时，单体触摸屏测试治具已经无法使用。一般厂家在生产线整机测试触摸屏或者实验环境下批量测试整机触摸屏时，会采用实际触摸操作(t匕如划线)来检测触摸屏是否正常。这种测试方法测试时间长，并且无法保证测试到触摸屏每一个点，容易产生漏测、误测等现象。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法及其移动终端，采用在设备终端读取触摸屏电容矩阵每个点电容基准值的办法，根据在整机中设置好的上下限，判断触摸屏是否正常，这种方法测试速度快，测试准确度高。为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是，一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法，所述方法应用于移动终端，包括以下步骤 步骤I、设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存； 步骤2、进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动1C，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩阵基准值，读取完成后再将数据回传给CPU; 步骤3、将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较； 步骤4、显示比较结果，触摸屏为良品或不良品。进一步的，步骤I所述的触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值为矩阵形式，且为两个二维矩阵，一个上限值矩阵，一个下限值矩阵，上限值矩阵或下限值矩阵中每个值对应电容触摸屏发送与接收通道交叉处电容值上限或下限。进一步的，步骤2所述的CPU发命令给触摸屏驱动IC，且触摸屏驱动IC读取完成后再将数据回传给CPU是CPU通过I2C、SPI通讯接口与触摸屏驱动IC相互通讯实现的。进一步的，步骤2所述的读取的触摸屏电容矩阵基准值为二维矩阵，且读取电容触摸屏上所有的电容矩阵基准值。进一步的，将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较包括设置电容触摸屏的基准值的上限数值为MAX ，下限数值为MIN ，读取的触摸屏电容矩阵基准值为M ，X、Y表示触摸屏的发送和接收通道数，MAX 、MIN为二维矩阵的其中一个数值； MIN 〈M <MAX 则为该电容矩阵基准值均在正常范围以内，否则不在正常范围以内。进一步的，所述的比较结果包括 若触摸屏所有的电容矩阵基准值均在正常范围以内，则判定触摸屏是良品，若存在一个电容矩阵基准值不在正常范围以内，则判定触摸屏是不良品。一种所述的移动终端电容触摸屏的快速测试系统，包括 上下限设置模块，用于设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存在系统CPU 中； 电容矩阵基准值获取模块，用于在进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动1C，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩阵基准值，读取完成后再将数据回传给CPU，CPU传送给判断模块； 判断模块，用于将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较，并将结果传送给执行模块； 执行模块，用于显示比较结果，触摸屏为良品或不良品。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是在整机触摸屏测试项中，读取触摸屏电容矩阵中每个点的基准值，判断是否在正常范围以内，从而判断触摸屏是否正常，测试速度快，准确度高。附图说明图I为本专利技术的方法流程 图2为本专利技术的二维矩阵分布 图3为本专利技术的发送和接收通道结构示意图。具体实施例方式下面结合实施例参照附图进行详细说明，以便对本专利技术的技术特征及优点进行更深入的诠释。本专利技术的方法流程图如图I所示，一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法，所述方法应用于移动终端，包括以下步骤 步骤I、设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存； 步骤2、进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动1C，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩阵基准值，读取完成后再将数据回传给CPU; 步骤3、将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较； 步骤4、显示比较结果，触摸屏为良品或不良品。进一步的，步骤I所述的触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值为矩阵形式，且为两个二维矩阵，一个上限值矩阵，一个下限值矩阵，上限值矩阵或下限值矩阵中每个值对应电容触摸屏发送与接收通道交叉处电容值上限或下限。如图2所示，这里面所提到的上下限矩阵是指两个二维矩阵，一个上限矩阵，一个下限矩阵。电容触摸屏的发送通道和接收通道如下图所示(x为发送通道，Y为接收通道)。发送通道(X轴)和接收通道(Y轴)交叉分布形成一个电容矩阵，电容矩阵中的每一个值对应其中一条X轴和其中一条Y轴交叉点的电容值。例如矩阵中第二行第三列的数值就表示X2与Y3交叉点的电容值。MIN 、MAX 是M行N列的矩阵。本专利技术的发送和接收通道结构示意图如图3所示，X为发送通道，发送驱动信号，比如一定频率的正弦波或方波'Y为接收通道，由于发送通道驱动信号的影响，发送通道与接收通道交叉处会存在耦合电容，接收通道感应耦合电容大小，具体是将耦合电容转换为电压或电流信号经IC内部ADC处理后，变成数字信号。进一步的，步骤2所述的CPU发命令给触摸屏驱动IC，且触摸屏驱动IC读取完成后再将数据回传给CPU是CPU通过I2C、SPI通讯接口与触摸屏驱动IC相互通讯实现的。 进一步的，步骤2所述的读取的触摸屏电容矩阵基准值为二维矩阵，且读取电容触摸屏上所有的电容矩阵基准值。进一步的，将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较包括 设置电容触摸屏的基准值的上限数值为MAX ，下限数值为MIN ，读取的触摸屏电容矩阵基准值为M ，X、Y表示触摸屏的发送和接收通道数，MAX 、MIN为二维矩阵的其中一个数值； MIN 〈M <MAX 则为该电容矩阵基准值均在正常范围以内，否则不在正常范围以内。进一步的，所述的比较结果包括 若触摸屏所有的电容矩阵基准值均在正常范围以内，则判定触摸屏是良品，若存在一个电容矩阵基准值不在正常范围以内，则判定触摸屏是不良品。一种所述的移动终端电容触摸屏的快速测试系统，包括 上下限设置模块，用于设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存在系统CPU中； 主要是将触摸屏模组厂家提供的上下限数值写入到手机软件中，上下限数值由一个上限矩阵MAX 和一个下限矩阵MIN 组成。上下限是固化的程序里面的，每次触摸屏测试时，都调用这个上下限数值矩阵。(X、Y表示触摸屏的发送和接收通道数。MIN 、MAX 是M行N列的矩阵) 电容矩阵基准值获取模块，用于在进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动1C，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种移动终端电容触摸屏的快速测试方法，所述方法应用于移动终端，包括以下步骤：步骤1、设置触摸屏电容矩阵的基准值的上下限数值，并保存；步骤2、进入电容触摸屏测试后，CPU发命令给触摸屏驱动IC，发出获取触摸屏电容矩阵基准值命令，触摸屏驱动IC收到命令后，读取触摸屏电容矩阵基准值，读取完成后再将数据回传给CPU；步骤3、将读取的触摸屏基准值数据与上下限数值进行比较；步骤4、显示比较结果，触摸屏为良品或不良品。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周辉，
申请(专利权)人：广东欧珀移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：
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