本发明专利技术提供一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,包含一光源、一第一佛氏透镜、一第二佛氏透镜、一受光组件及一镜筒;第一佛氏透镜与第二佛氏透镜平行设置于镜筒内。藉此,可使光源透过第一佛氏透镜发出平行光源至第二佛氏透镜上,再由第二佛氏透镜将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。
【技术实现步骤摘要】
利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置
本专利技术涉及一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,尤指一种尤指一种利用镜筒与佛氏透镜的设置,可将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试受光组件之各项光电特性者。
技术介绍
一般习用受光组件检测装置,通常由一受光组件,以及一以适当之距离设置于对应受光组件一面上之光源模块所构成;可藉由调整该受光组件与该光源模块间之距离,使该光源模块发出之平行光照射于受光组件上,达到测试受光组件各项光电特性之效果。虽然上述习用之受光组件检测装置可测试受光组件之各项光电特性,但是由于进行光源照射时,系受限于该光源模块之光照射情形,因此该光源模块于设置时,必须与受光 组件间形成较远之距离,才能使该光源模块于照射时具有仿真平行光之效果,故造成设定光源模块之光照射距离过远及光照射位置不易对位等问题。且由于光照射距离过远,会导致光源强度衰减情况严重,大部份光源将无法集中照射于受光组件上,除非大幅提高光源之强度,否则测试工作将难以施行;而且为配合该光源模块之光照射情形及达到模拟平行光之效果,该整套受光组件检测装置与待测之受光组件间须使用相当大的空间,因此,导致测试流程之成本增高。所以,习用之受光组件检测装置并无法符合实际使用时之所需。
技术实现思路
本专利技术的目的在于可使一光源透过一镜筒内的一第一佛氏透镜发出一平行光源至一第二佛氏透镜上,再由该第二佛氏透镜将该平行光源集中聚光照射于一受光组件上,以达到有效测试一受光组件各项光电特性之效果,其能降低光源功率进行测试,具有节省能源的效果;还可以减少装置的设置空间,具有缩小机台尺寸的功效。本专利技术采用的技术方案是一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,包含一光源、一镜筒、一第一佛氏透镜、一第二佛氏透镜及一受光组件;其中,第一佛氏透镜与第二佛氏透镜平行设置于镜筒内。藉此,可使光源透过第一佛氏透镜发出平行光源至第二佛氏透镜上,再由第二佛氏透镜将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。本专利技术的目的、优点和特点,将通过下面优选实施例的非限制性说明进行图示和解释,这些实施例参照附图仅作为例子给出。附图说明图I是本专利技术利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置立体分解图;图2是本专利技术利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置剖视图;图3是本专利技术利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置检测示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式给予详细说明。请同时参考图I、图2,本专利技术 是一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,由一受光组件I、一光源2、一第一佛氏透镜3、一第二佛氏透镜4及一镜筒所构成,可使光源2将光源集中聚光照射于受光组件I上,达到有效测试该受光组件I之各项光电特性。上述所提受光组件I,其至少包括有一载台11,而光源2至少包括一光源座21。受光组件I为一光感应电子组件,例如太阳能电池、光感应电阻或光二极管等,其载台11为各种为了固定受光组件I的基板、电路板或架体;光源2可以是各种人造光源,如LED光源、灯泡光源或光纤照明光源等,其光源座21为各种固定光源的灯泡座、LED基板,光纤缆线的支架等等。镜筒5可以是工程塑料、金属等材质,镜筒5外表面尺寸最佳与受光组件I或光源2相同,镜筒5内部设有一第一台阶51与一第二台阶52,第一佛氏透镜3、第二佛氏透镜4分别置于镜筒5内的第一台阶51与第二台阶52,第二台阶52与第二佛氏透镜4直径分别小于第一台阶51与第一佛氏透镜3,第一台阶51与第二台阶52的圆筒直径分别相同或略大于第一佛氏透镜3与第二佛氏透镜4,佛氏透镜(FRESNEL LENS)是一种为了降低厚度而改良的放大透镜。第一佛氏透镜3具有一同心圆折射面31与一平面32,同心圆折射面31设置于光源2相对应的一面,第二佛氏透镜4具有一同心圆折射面41与一平面42,平面42对应于第一佛氏透镜3的平面32平行设置,受光组件I对应设置于所述第二佛氏透镜4的同心圆折射面41。第一佛氏透镜3与第二佛氏透镜4的放大倍率可以是相同的也可以是不同的,可以依照待测受光组件的尺寸与特性予以调整变更。请参考图3,为本专利技术利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置检测示意图。光源2的光线由光源点辐射状照射到第一佛氏透镜3的同心圆折射面31,一般透镜的特性是能将平行光线(例如阳光)聚焦到一个点,第一佛氏透镜3则是利用此原理反向将光源2的点状辐射光线通过同心圆折射面31折射成平行光线,然后通过平面32照射到第二佛氏透镜4的平面42,平面42再将由第一佛氏透镜3所接收的平行光线,通过同心圆折射面41折射后聚焦到受光组件1,藉此,光源2通过第一佛氏透镜3发出平行光源至第二佛氏透镜4上,再由第二佛氏透镜4将光线集中聚光照射于受光组件I上,如此可以大幅降低光源之强度要求,节省测试所消耗的能量。综上所述,本专利技术利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置可有效改善习用之种种缺点,可使一光源透过第一佛氏透镜发出平行光源至第二佛氏透镜上,再由第二佛氏透镜将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试一受光组件各项光电特性之效果,进而使本创作能更节省能源、具有更缩短装置所占空间的效果。当然,以上仅是本专利技术的具体应用范例,对本专利技术的保护范围不构成任何限制。除上述实施例外,本专利技术还可以有其它实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案,均落在本专利技术所要求保护的范围之内。权利要求1.一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于其包含 一光源; 一镜筒; 一第一佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第一佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述同心圆折射面对应于所述光源设置; 一第二佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第二佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述平面对应于所述第一佛氏透镜的平面平行设置; 一受光组件,对应朝向于所述第二佛氏透镜的同心圆折射面设置; 藉此,所述光源依序通过所述第一佛氏透镜的同心圆折射面、平面发出平行光线至所述第二佛氏透镜的平面,再由所述第二佛氏透镜的同心圆折射面将光源集中聚光照射于所述受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。2.如权利要求I所述的利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于所述镜筒设有一第一台阶,所述第一佛氏透镜设置于所述第一台阶。3.如权利要求2所述的利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于所述镜筒设有一第二台阶,所述第二台阶与所述第二佛氏透镜直径小于所述第一台阶与第一佛氏透镜,所述第二佛氏透镜设置于所述第二台阶。4.如权利要求3所述的利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于所述光源为LED光源。5.如权利要求3所述的利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于所述光源为灯泡光源。6.如权利要求3所述的利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于所述光源为光纤照明光源。全文摘要本专利技术提供一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,包含一光源、一第一佛氏透镜、一第二佛氏透镜、一受光组件及一镜筒;第一佛氏透镜与第二佛氏透镜平行设置于镜筒内。藉此,可使光源透过第一佛氏透镜发出平行光源至第二佛氏透镜上,再由第二佛氏透镜将光源集中聚光照射于受光组件上本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于其包含:一光源;一镜筒;一第一佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第一佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述同心圆折射面对应于所述光源设置;一第二佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第二佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述平面对应于所述第一佛氏透镜的平面平行设置;一受光组件,对应朝向于所述第二佛氏透镜的同心圆折射面设置;藉此,所述光源依序通过所述第一佛氏透镜的同心圆折射面、平面发出平行光线至所述第二佛氏透镜的平面,再由所述第二佛氏透镜的同心圆折射面将光源集中聚光照射于所述受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张旻郁,
申请(专利权)人:昆山洺九机电有限公司,
类型:发明
国别省市:
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