本实用新型专利技术涉及一种HFS-10柄10°端面的专用量具,含有L型支架,量具主体固定在L型支架上,量具主体的上侧设置有圆锥形定位凹槽,在该定位凹槽上口外缘设置有环形的测量端面,该环形端面一侧设置有测量孔,千分表固定在量具主体和L型支架底座之间,并且千分表测杆上端的测头伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度。此专用量具采用10°锥面定位,在端面直接打表的测量原理,测量精度直接提高到μ级。用此量具,产品精度可以控制到0.001mm,提高了产品的精度。另外此量具使用相当方便,把产品柄部放到量具锥孔里,适度按压以使两锥面充分接触,就可以直接读数。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种机械精加工领域中的测量工具,具体涉及ー种HFS-10柄的10°端面专用量具。
技术介绍
以前的HFS-10柄10°锥面与端面轴向距离测量是用万能工具显微镜測量,这种方法是非接触式的光学測量,測量精度一般在0. 05mm左右,最好精度超不过0. 03mm。这种測量方法需要装夹、调试焦距,移动产品以产生读数,费时费力。
技术实现思路
本技术针对现有HFS-10柄10°端面的量具存在測量麻烦和精度不够高的问 题,提供ー种结构简单、容易操作、精度较高的HFS-10柄10°端面的专用量具。技术方案ー种HFS-10柄10°端面的专用量具,含有L型支架,该L型支架含有一个立板和ー个底座,在该立板的上端固定有一个量具主体,在该量具主体的上侧设置有定位凹槽,在该定位凹槽上口外缘设置有环形的測量端面,该环形端面一侧设置有測量孔,沿测量孔向下设置有贯穿量具主体的竖向通孔,该竖向通孔的下段内径大于上段内径,其下段是用于安装千分表固定套管的固定孔,上段是用于套装测杆的测杆孔,千分表固定在量具主体和L型支架底座之间,并且千分表测杆上端的测头伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度(在測量范围)。所述定位凹槽为圆锥形凹槽。L型支架底座上设置有与千分表后端防尘帽对应的通孔。与量具主体的固定孔垂直方向设置有顶丝孔,利用顶丝沿侧面将千分表的固定套管固定在量具主体的固定孔内。有益效果此专用量具采用10°锥面定位,在端面直接打表的測量原理,測量精度直接提高到U级。用此量具,产品精度可以控制到0.001mm,提高了产品的精度。另外此量具使用相当方便,把产品柄部放到量具锥孔里,适度按压以使两锥面充分接触,就可以直接读数。附图说明图I是本技术量具的侧面结构示意图;图2是图I的左视图;图3是L型支架的侧面结构示意图;图4是图3的左视图;图5是千分表的侧面结构示意图;图6是图5的左视图;图I是量具主体的侧面结构示意图;图8是图7的左视图;图9是图7的俯视图。图中,标号I为L型支架,2为千分表,3为顶丝,4为固定螺钉,5为量具主体,6为被测的HFS-10柄,11为螺栓安装孔,21为固定套管,22为测杆,23为测头,24为防尘帽,51为环形測量端面,52为定位凹槽,53为固定孔,54为测杆孔,55为螺纹孔。具体实施方式实施例一參见图I—图9,ー种HFS-10柄10°端面的专用量具,即L-HFSlO-Z量具,包括L型支架I、量具主体5和千分表2。其中,L型支架I含有一个立板和ー个底座,在该立板的上端固定有一个量具主体5,千分表2固定在量具主体5和L型支架底座之间。L型支架I底座上设置有与千分表2后端防尘帽24对应的通孔。在量具主体的固定孔53垂直方向设置有顶丝孔31,利用顶丝3沿固定孔ー侧将千分表的固定套管21固定在量具主 体的固定孔内。所述量具主体5的上侧设置有圆锥形定位凹槽52,定位凹槽52上口外缘设置有环形的測量端面51,该环形端面51 —侧设置有测量孔54,沿测量孔54向下设置有贯穿量具主体的竖向通孔,该竖向通孔的下段内径大于上段内径,其下段是用于安装千分表固定套管的固定孔53,上段是用于套装测杆22的测杆孔,并且千分表测杆22上端的测头23伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度(在測量范围)便于测量。使用本实施例量具对产品的前期处理要求①磨测量端面到位,平面度在0. OOlmm以内。②粗开定位凹槽的锥面,并用HFSlO锥面量具调整锥角到公差范围内后,用L-HFSlO-Z量具测量。使用步骤I、先用L-HFSlO-Z量具测量HFSlO标准柄。用适当カ气按压,以使标准柄的10°锥面与量具的10°锥面充分接触,记下此时千分尺读数A。2、按数据A计算出产品公差范围a彡尺寸彡b。3、用L-HFSlO-Z量具測量待测产品。用适当カ气按压,以使产品的10°锥面与量具的10°锥面充分接触,记下此时千分尺读数B。4、比较数据B与公差范围a-b :如果数据B < a,则说明产品尺寸没到位,需要继续磨削;如果a<B<b,则说明产品尺寸已经进入公差,合格;如果b<B,则说明产品尺寸超差,报废。结构特点I、本专利产品用10°准面为被测エ件的定位基准,测量另外一个エ件端面),消除了以前的測量手段中基准转换(两端中心孔为基准)所帯来的额外误差。2、本专利产品固定了千分表,量具用千分表做接触式測量,消除了以前光学測量中的视觉误差,直接把測量精度提高到了 U级。测量时エ件锥面与量具锥面接触,エ件端面压缩千分表表头,从而产生读数。3、本专利产品因结构限制,千分表换了一个细杆加长表头(测头)。权利要求1.一种HFS-IO柄10°端面的专用量具,其特征是含有L型支架,该L型支架含有一个立板和一个底座,在该立板的上端固定有一个量具主体,在该量具主体的上侧设置有定位凹槽,在该定位凹槽上口外缘设置有环形的测量端面,该环形端面一侧设置有测量孔,沿测量孔向下设置有贯穿量具主体的竖向通孔,该竖向通孔的下段内径大于上段内径,其下段是用于安装千分表固定套管的固定孔,上段是用于套装测杆的测杆孔,千分表固定在量具主体和L型支架底座之间,并且千分表测杆上端的测头伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度。2.根据权利要求I所述的HFS-10柄10°端面的专用量具,其特征是所述定位凹槽为圆锥形凹槽。3.根据权利要求I所述的HFS-10柄10°端面的专用量具,其特征是L型支架底座上设置有与千分表后端防尘帽对应的通孔。4.根据权利要求I所述的HFS-10柄10°端面的专用量具,其特征是在量具主体的固定孔垂直方向设置有顶丝孔,利用顶丝沿将千分表的固定套管固定在量具主体的固定孔内。专利摘要本技术涉及一种HFS-10柄10°端面的专用量具,含有L型支架,量具主体固定在L型支架上,量具主体的上侧设置有圆锥形定位凹槽,在该定位凹槽上口外缘设置有环形的测量端面,该环形端面一侧设置有测量孔,千分表固定在量具主体和L型支架底座之间,并且千分表测杆上端的测头伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度。此专用量具采用10°锥面定位,在端面直接打表的测量原理,测量精度直接提高到μ级。用此量具,产品精度可以控制到0.001mm,提高了产品的精度。另外此量具使用相当方便,把产品柄部放到量具锥孔里,适度按压以使两锥面充分接触,就可以直接读数。文档编号G01B5/00GK202648566SQ201220175968公开日2013年1月2日 申请日期2012年4月24日 优先权日2012年4月24日专利技术者岳鹏, 马庆华, 王波, 张嗣静 申请人:郑州市钻石精密制造有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种HFS?10柄10°端面的专用量具,其特征是:含有L型支架,该L型支架含有一个立板和一个底座,在该立板的上端固定有一个量具主体,在该量具主体的上侧设置有定位凹槽,在该定位凹槽上口外缘设置有环形的测量端面,该环形端面一侧设置有测量孔,沿测量孔向下设置有贯穿量具主体的竖向通孔,该竖向通孔的下段内径大于上段内径,其下段是用于安装千分表固定套管的固定孔,上段是用于套装测杆的测杆孔,千分表固定在量具主体和L型支架底座之间,并且千分表测杆上端的测头伸出环形测量端面的测量孔之外一定高度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:岳鹏,马庆华,王波,张嗣静,
申请(专利权)人:郑州市钻石精密制造有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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