本发明专利技术关于一种具备用于同时调节旋转及升降运动的单一驱动部的旋转装置,包括:检查台,其包含自旋转中心向外侧延伸的支撑框架,以及位于支撑框架的末端用于安放被检查体的安放部件;驱动部,其接收电信号而产生旋转力;以及传动部件,其连接至检查台的旋转中心的下部,并自驱动部接收旋转力而转换成检查台的断续性的旋转及升降运动。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具备用于同时调节旋转及并进运动的単一驱动部的旋转装置,特别涉及能够通过一个驱动部调节支撑多个检查对象物的检查台的旋转及并进(即,升降)运动的旋转装置。
技术介绍
由于种种原因,在发光二极管(LED)产品或半导体的制造过程中产生不良产品。 如果在制造过程中无法立即去除这些不良产品,其需要经过不必要的后续エ序,最终导致材料费、エ序费用等的损失。为了減少此种损失,需要ー种装置,该装置在发光二极管产品或半导体的制造エ序上,将发光二极管芯片或半导体芯片等作为检查对象物、即被检查体而实施测试,井根据其测试结果按适当的等级分类被检查体。作为此种装置的一例,推出了发光二极管芯片测试装置,其在封装エ序之前測量发光二极管芯片的光特性,并基于測量数据按等级分类发光二极管芯片。图I为现有技术的发光二极管芯片测试装置的概略图。參阅图1,可以得知,图示的现有技术的发光二极管芯片测试装置I由检查台10、接触単元20以及测量単元30构成。检查台10包含安放部件11,用以支撑如发光二极管芯片的对象物L ;以及支撑框架12,用以支撑安放部件11,并以旋转轴A为中心向半径方向延伸。在支撑框架12的下侧连接电机等的驱动部13,同时,具备多个支撑框架12及安放部件11。随着检查台10通过驱动部13的驱动而旋转,放置有被检查体的安放部件11按顺序放置于测试位置。接触单元20例如由探针卡构成,并具备如探针销的接触销21。如果接触销21例如与安放部件11上的发光二极管芯片接触而向发光二极管芯片供电,则发光二极管芯片发光而实施测试。接触単元20在上下方向可移动地连接于被固定的框架22。测量单元30为如同积分球接收自发光二极管芯片发射的光线而测量光特性的装置。测量单元30中设置如光检测器或分光仪的测量器31。可以通过图2获知此种现有的发光二极管芯片测试装置的动作过程。在图2中,上侧图表为表示检查台的旋转驱动时序的图表。在该图表上X轴表示时间轴,y轴表示角速度。并且,在图2中,下侧图表为表示接触单元20的驱动时序的图表。在该图表上X轴表示时间轴,y轴表示垂直方向并进运动速度。在此,y轴的正(+ )方向,即上侧方向表示接触单元20相对于框架22具有上行运动,y轴的负(_)方向,即下侧方向表示接触単元20相对于框架22具有下行运动。通过图2的图表可知,首先,测量单元30上行移动而断开与经过测试的被检查体L的连接(I区间)。然后,检查台10旋转移动而使待测试的对象物L位于测量単元30的下侧(II区间)。其后,测量单元30向下侧移动而使待测试的对象物L与接触销21相连接(III区间)。此时,由于接触销21为具有弹性的细微探针或者悬臂形态的部件,因此有可能因接触销21与对象物L的接触而发生振动。因此,在接触销21接触到对象物L之后,需 要规定的稳定化时间(IV区间)。之后,通过接触销21向对象物L施加电流而测量其特性(V区间)。上述IV、V区间中不发生检查台10或接触単元20的旋转/并进运动。如此,在现有的发光二极管芯片测试装置中检查台与接触単元的运动区间按顺序进行,因此无法大幅缩减エ序时间。并且,接触销与对象物接触之后需要稳定化时间,这也成为缩减エ序时间的障碍。并且,现有技术的发光二极管芯片测试装置中需要按顺序驱动检查台与接触単元所需的各个控制动作,为了分别驱动相关构成还需要不同的驱动部,因此导致成本増加。
技术实现思路
因此,鉴于上述问题,本专利技术的目的在于提供一种旋转装置,其具备同时调节旋转及升降运动的単一驱动部,从而在测量发光二极管芯片或半导体芯片等被检查体时,能够缩短エ序时间的同时减少配件而节约费用。根据本专利技术的思想,提供一种旋转装置,其包括检查台,其包括自旋转中心向外侧延伸的支撑框架,以及位干支撑框架的末端用于安放被检查体的安放部件;驱动部,其接收电信号而产生旋转カ;以及传动部件,其连接至上述检查台的旋转中心的下部,自驱动部接收旋转力并转换成检查台的断续性的旋转及升降运动。还可以包含杆,其连接形成于上述支撑框架与上述传动部件之间,并与上述传动部件的运动联动而实现上述支撑框架的旋转及升降运动。优选地,该杆为空气能够沿轴方向流动的空心轴部件。并且,优选为,上述支撑框架自检查台的旋转中心以辐射状分枝形成多个,相互隔着一定的中心角并以相同长度延伸形成。另外,优选进一歩包含耦合部件,其连接形成于上述驱动部与上述传动部件之间,控制自上述驱动部接收的旋转カ的大小及方向并传递至上述传动部件。在此,上述传动部件可以利用滚子齿式凸轮(roller gear cam)机构或者槽轮(geneva gear)机构中的任意一个。另外,在支撑框架的个数为η时,上述传动部件使检查台毎次旋转360°/n并具有相当于设定时间长度的暂停时间(pause time)。根据传动部件的驱动,检查台可以具有向远离或者接近传动部件的方向进行升降驱动的运动、进行旋转驱动的运动及具有一定时间长度的暂停时间的运动中的任意ー个以上的运动模式。根据优选实施例,上述检查台能够具有连续地实现如下运动的运动模式,S卩,向远离或者接近传动部件的方向进行升降驱动的同时进行旋转驱动的第一运动;以及以与上述第一运动的相反方向进行升降驱动的同时,以与第一运动相同的方向进行旋转驱动的第二运动。并且,检查台能够具有连续地实现如下运动的运动模式,S卩,在远离或者接近上述传动部件的方向进行升降驱动的同时进行旋转驱动的第一运动;只在与上述第一运动相同的方向进行旋转驱动的第二运动;以及以与第一运动相反的方向进行升降驱动的同吋,以与第一运动相同的方向进行旋转驱动的第三运动。并且,检查台能够具有连续地实现如下运动的运动模式,即,仅在远离或者接近上述传动部件的方向进行升降驱动的第一运动;以与上述第一运动相同的方向进行升降驱动的同时进行旋转驱动的第二运动;以与上述第一运动相反的方向进行升降驱动的同吋,以与上述第一运动相同的方向进行旋转驱动的第三运动;以及仅以与上述第一运动相反的方向进行升降驱动的第四运动。并且,上述检查台能够具有连续地实现如下运动的运动模式,S卩,只在远离或者接近上述传动部件的方向进行升降驱动的第一运动;以与上述第一运动相同的方向进行升降驱动的同时进行旋转驱动的第二运动;仅以与上述第一运动相同的方向进行旋转驱动的第 三运动;以与上述第一运动相反的方向进行升降驱动的同时进行旋转驱动的第四运动;以及仅以与上述第一运动相反的方向进行升降驱动的第五运动。作为本专利技术的优选实施方式,被检查体可以利用半导体芯片或者发光二极管(LED)芯片。根据本专利技术的具备用于同时调节旋转及升降运动的単一驱动部的旋转装置,在测量发光二极管芯片或半导体芯片等的被检查体的不良时,配置単一的驱动部,其能够同时调节配置被检查体的检查台的旋转及升降运动,从而具有能够缩短エ序时间的同时节约费用的技术效果。附图说明图I为现有技术的发光二极管芯片测试装置的概略图。图2为现有技术的发光二极管芯片测试装置的运动模式的时序图。图3为概括地表示具备本专利技术一实施例的旋转装置的发光二极管芯片测试装置的侧视图。图4为概括地表示本专利技术ー实施例的传动部件的动作的立体图。图5为说明本专利技术ー实施例的旋转装置的运动模式的驱动时序图。图6为本专利技术一实施例的旋转装置的运动模式的第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.02.12 KR 10-2010-00132541.一种旋转装置,包括 检查台,包括自旋转中心向外侧延伸的支撑框架,以及位于上述支撑框架的末端用于安放被检查体的安放部件; 驱动部,接收电信号而产生旋转力;以及 传动部件,连接至上述检查台的旋转中心的下部,从上述驱动部接收旋转力并转换成上述检查台的断续性的旋转及升降运动。2.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,包括杆,该杆连接形成于上述支撑框架与上述传动部件之间,并与上述传动部件的运动联动而实现上述支撑框架的旋转及升降运动。3.如权利要求2所述的旋转装置,其特征在于,上述杆为空气能够沿轴方向流动的空 心轴部件。4.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,自上述检查台的旋转中心以辐射状分枝形成有多个上述支撑框架。5.如权利要求4所述的旋转装置,其特征在于,上述支撑框架自上述检查台的旋转中心相互隔着一定中心角并以相同的长度延伸形成。6.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,进一步包括耦合部件,其连接形成于上述驱动部与上述传动部件之间,控制自上述驱动部接收的旋转力的大小及方向并传递至上述传动部件。7.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,当上述支撑框架的个数为η时,上述传动部件使上述检查台每次旋转360° /n后具有相当于预设时间长度的暂停时间。8.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,上述传动部件为滚子齿式凸轮机构。9.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,上述传动部件为槽轮机构。10.如权利要求I所述的旋转装置,其特征在于,上述检查台根据上述传动部件的驱动转换,具有向远离或者接近上述传动部件的方向进行升降驱动的运动、进行旋转驱动的运动以及具有...
【专利技术属性】
技术研发人员:柳炳韶,李炳植,张铉三,金范中,
申请(专利权)人:QMC株式会社,柳炳韶,
类型:
国别省市:
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