【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及单层电容器,更具体地,涉及高电容单层陶瓷电容器和制造该电容器的方法。
技术介绍
单层陶瓷电容器具有有益的形状系数,以组装到存在于印刷电路板上的电路或者在空间有限的芯片载体或其它封装件内的集成电路中。陶瓷电容器的尺寸可以与容纳集成电路的芯片载体或者印刷电路板内的限制匹配。典型地,用导电性环氧树脂将陶瓷电容器的底面焊接到或者连接到印刷电路板的表面,并且陶瓷电容器的顶面有用作另一电路连接端点的一个或多个导电焊盘。典型地,通过金属化烧结的陶瓷材料的薄片的两面来制造单层陶瓷电容器。然后,通过锯切或者砂轮切割技术将金属化的陶瓷屏蔽(shield)切割成一定尺寸。尽管这些电容器的形状系数是理想的,但是可达到的电容量限制了它们在某些应用中的有用性,尤其在设计考虑要求特别小或特别薄的电容器时。在这种情形下,电容器不具有足以在组装到电路期间经受在例行处理中不期望的破裂或碎裂的结构强度。结果,必须在为了更大的强度而使用较厚的陶瓷层与为了更大的电容而使用较薄的陶瓷层之间做出设计折衷。先前对在单层电容器中达到更高电容、同时保持结构强度的尝试包括使用平坦的、水平的电容器,其中,在其具有间隙的下侧进行金属化。该设计所带来的问题是其在大于几吉赫的频率处产生了不需要的共振。另一方法使用常备的介电芯片,其具有相对的金属化表面并且具有附接至各个表面的金属引线。该设计所带来的问题是引线是易碎的,并且在制造、运送、处理以及按轨迹焊接到适当位置期间需要特别小心。另外,常备的引线电容器产生了显著的信号共振,尤其对于大于几吉赫的频率而言。对制造电容更高的单层电容器的进一步尝试包括将多层 ...
【技术保护点】
一种高电容单层陶瓷电容器,包括:陶瓷介电体,具有至少一个内部电极,所述至少一个内部电极延伸穿过所述陶瓷介电体的宽度的一部分并与导电金属化层电接触,所述导电金属化层位于所述陶瓷体的一个侧面和顶面或底面中的至少一部分上;以及至少一个电隔离的金属化焊盘,位于所述陶瓷体的相对的顶面或底面。
【技术特征摘要】
2011.06.24 US 13/168,879;2012.05.18 US 13/475,7711.一种高电容单层陶瓷电容器,包括陶瓷介电体,具有至少一个内部电极,所述至少一个内部电极延伸穿过所述陶瓷介电体的宽度的一部分并与导电金属化层电接触,所述导电金属化层位于所述陶瓷体的一个侧面和顶面或底面中的至少一部分上;以及至少一个电隔离的金属化焊盘,位于所述陶瓷体的相对的顶面或底面。2.根据权利要求I所述的电容器,还具有在所述陶瓷体内隔开的两个或更多个电极。3.根据权利要求I所述的电容器,其中,在所述电容器的顶面或底面上存在彼此电隔离的多个金属化焊盘。4.根据权利要求3所述的电容器,其中,所述金属化焊盘具有不同尺寸。5.根据权利要求I所述的电容器,其中,所述陶瓷体具有堡体,所述堡体具有沿着侧表面的金属化层以与又一电极电连接。6.一种高电容单层陶瓷电容器,包括陶瓷介电体,具有至少一个内部电极,所述至少一个内部电极延伸穿过所述陶瓷介电体的宽度的一部分并与导电金属化层电接触,所述导电金属化层位于所述陶瓷体的一个侧面和顶面或底面中的至少一部分上;以及位于所述顶面或底面上的又一电隔离的金属化焊盘,其与所述电极电接触。7.根据权利要求6所述的电容器,还具有在所述陶瓷体内隔开的两个或更多个电极。8.根据权利要求6所述的电容器,其中,所述陶瓷体具有堡体,所述堡体具有沿着侧表面的金属化层以与又一电极电连接。9.一种高电容单层陶瓷电容器,包括陶瓷介电体,具有至少一个内部电极,所述至少一个内部电极延伸穿过所述陶瓷介电体的宽度的一部分并通过通孔与位于所述陶瓷体的顶面或底面上的导电金属化层电接触,所述通孔包括延伸穿过所述陶瓷体的整个高度并与所述顶面或底面电连通的金属化层;以及又一电隔离的金属化焊盘,位于相对的顶面或底面。10.一种高电容单层陶瓷电容器,包括陶瓷介电体,具有至少两个内部电极,所述至少两个内部电极延伸穿过所述陶瓷体的整个宽度并被具有已知厚度的介电材料层分离,每个内部电极均与单独的导电金属化层电连通,所述导电金属化层位于所述陶瓷体的至少一个侧面和顶面或底面中的至少一部分上,所述导电金属化层被电绝缘带分离,所述电绝缘带围绕所述陶瓷体的侧表面延伸且部分地延伸进所述电极之间的介电层中。11.一种制造高电容单层陶瓷电容器的方法,包括如下步骤 在坯体状态的陶瓷介电片的层之间放置一个或多个电极; 在所述坯体状态的陶瓷片上印刷顶部金属化层和底部金属化层; 将所述坯体状态的陶瓷介电片切割成独立的陶瓷芯片; 烧制所述芯片以将所述介...
【专利技术属性】
技术研发人员:阿里·穆阿利米,尤安·帕特里克·阿姆斯特朗,
申请(专利权)人:特拉华资本构造公司,
类型:发明
国别省市:
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