一种电子元器件电性测盘制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子元器件电性测盘，所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。本实用新型专利技术的有益效果是：由于在电子元器件电性测盘的开设有槽道，在测盘的被测电子元器件由于测盘的振动容易进入槽道并进入通孔，从而实现电子元器件的定位，进而测试器具才可以进行测试；再者，设置在边缘的环形槽不仅可以让更多的被测电子元器件进入环形槽，而且在测盘转动时，只需要将测试器具固定在一个位置即可以对每个经过的通孔内的电子元器件进行测试；另外增加测盘的厚度使其更加耐用寿命更长。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电子元器件电性测盘。
技术介绍
目前电性能已成为电子元器件的质量核心，业界要求对产品的电性能进行全面高速检验。随着自动化设备的大力推广，快速、准确将产品植入测盘显得尤为重要。目前，片式元件分选测盘通常采用平盘结构，在实际的使用过程中由于平盘薄，使用寿命短且产品植入效率不高，影响测试速度。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种电子元器件电性测盘，以提高测试效率，降低生产耗用成本。一种电子元器件电性测盘，所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。优选地，所述槽道是弧形槽。优选地，所述弧形槽是与所述电子元器件电性测盘同圆心的环形槽。优选地，所述通孔是方形通孔，且所述方形通孔的侧壁与所述环形槽的离圆心较远的内侧壁相切。优选地，所述槽道的厚度小于所测电子元器件的长度。优选地，所述槽道设置在电子元器件电性测盘的边缘。本技术的有益效果是由于在电子元器件电性测盘的开设有槽道，在测盘的被测电子元器件由于测盘的振动容易进入槽道并进入通孔，从而实现电子元器件的定位，进而测试器具才可以进行测试；再者，设置在边缘的环形槽不仅可以让更多的被测电子元器件进入环形槽，而且在测盘转动时，只需要将测试器具固定在一个位置即可以对每个经过的通孔内的电子元器件进行测试；另外增加测盘的厚度使其更加耐用寿命更长。附图说明图I是本技术的电子元器件电性测盘的一种具体实施例的结构示意图；图2是图I的局部放大示意图。具体实施方式以下将结合附图，对本技术的具体实施例作进一步详细说明。如图I所示，一种电子元器件电性测盘100，所述电子元器件电性测盘100的表面开有槽道101，所述槽道内开有通孔102。当被测的电子元器件被放到电子元器件电性测盘100上时，电子元器件电性测盘100在驱动装置的带动下振动，电子元器件即会慢慢进入槽道101，并插入通孔102内而固定在测盘上。电子元器件电性测盘100转动，测试电子元器件的电性的测试器具则对每个插入通孔102内的电子元器件进行测试。优选地，所述槽道101是弧形槽，开弧形槽较为容易，且比方槽不易卡住被测的电子元器件。当然槽道101并不局限于弧形槽，也可以是斜槽或直槽，槽道101也可以设置多个。优选地，所述弧形槽101是与所述电子元器件电性测盘同圆心的环形槽，只需要将测试器具固定在某个通孔102的对应位置，当电子元器件电性测盘100转动时，每个通孔102都会经过该测试器具的位置，测试器具可以不用作太大的调整动作即可以对电子元器件进行测试。优选地，所述通孔101是方形通孔，且所述方形通孔的侧壁与所述环形槽的离圆心较远的内侧壁相切，方形通孔有利于保证电子元器件的两个引脚通过而电子元器件的主体不通过通孔。 优选地，所述槽道101的厚度小于所测电子元器件的长度，有利于电子元器件的引脚通过通孔而被测试器具测试，增加测盘100的厚度能提高其使用寿命。优选地，所述槽道设置在电子元器件电性测盘的边缘，这有利于所有散落在测盘100上的电子元器件都在振动下进入槽道101内。本电子元器件电性测盘100尤其适用于具有两个引脚的电子器件，且两个引脚位于电子器件主体的两端。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，则应当视为属于本技术由所提交的权利要求书确定的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元器件电性测盘，其特征是：所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件电性测盘，其特征是所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。2.如权利要求I所述的电子元器件电性测盘，其特征是所述槽道是弧形槽。3.如权利要求I所述的电子元器件电性测盘，其特征是所述槽道是与所述电子元器件电性测盘同圆心的环形槽。4.如权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈健业，曾艳军，田志飞，
申请(专利权)人：深圳顺络电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：