本发明专利技术公开了一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。本发明专利技术解决了现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种产品定位装置，特别是涉及一种用于晶片电阻检测的定位装置。
技术介绍
目前的晶片电阻检测采用人工用显微镜通过肉眼来检测产品的外观及缺陷，人工检测有诸多的缺点如人的肉眼会疲劳导致品质不稳定、生产效率低下、被检外观精度不够，产品浪费较多，如一颗不良产品，会连同当颗的一整列都放弃不要，产品外观及缺陷检测在整个制程中非常关健，外观缺陷检测没法保障，会直接影响成品产品的品质与功能。而目前晶片电阻检测装置在定位机构上存在以下 缺点I、定位结构十分复杂，工艺繁琐，造价成本高。2、无法判别放置晶片电阻是否为良好品。3、定位机构的透光性能较差，不利于CXD的定位和检测。
技术实现思路
为了解决现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，本专利技术提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。为了解决上述问题，本专利技术所采取的技术方案是 一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述两个定位开口对称设置。前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于在放置开口的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口，在放置开口的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口。前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述两个定位爪横向避让口分别位于定位开口的上下两侧。前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述定位爪竖向避让口对称设置，所述定位爪横向避让口两两对称设置。前述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于在上方或下方的定位爪竖向避让口的两侧分别设置有一个光源透孔。本专利技术的有益效果是 I、本专利技术通过对射光电感应器安装支架将整个产品托板进行定位，定位方便快捷，同时通过设置有定位爪避让口，可使定位爪快速到位对晶片电阻进行微调，使用起来十分方便。2、本专利技术在射光电感应器安装支架上方设置有对射光电感应器,可有效且及时的判别当前晶片电阻的良好状况。3、在定位开口上连接有四个光源透孔，可将背光源的光线穿透上来，使透孔上方位置更亮，CCD再以此处做基准定位，达到了定位更准确的目的。附图说明图I是本专利技术晶片电阻检测的定位装置的立体结构示意图。图2是本专利技术晶片电阻检测的定位装置的平面结构示意图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术做进一步的描述。 如图1-2所示，一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器安装支架I、对射光电感应器2和产品托板3，在产品托板3上开设有用于放置产品的放置开口 4，在放置开口 4的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口 5，两个定位开口 5对称设置，对射光电感应器安装支架I伸入到定位开口 5内，对射光电感应器2安装在对射光电感应器安装支架I上。在放置开口 2的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口 6，在放置开口 2的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口 7，且两个定位爪横向避让口 7分别位于定位开口 5的上下两侧。定位爪竖向避让口 6对称设置，定位爪横向避让口 7两两对称设置。在上方或下方的定位爪竖向避让口 6的两侧分别设置有一个光源透孔8。综上所述，本专利技术通过对射光电感应器安装支架I将整个产品托板3进行定位，定位方便快捷，同时通过设置有定位爪避让口，可使定位爪快速到位对晶片电阻进行微调，使用起来十分方便。同时本专利技术通过对射光电感应器安装支架I上方设置有对射光电感应器2，可有效且及时的判别当前晶片电阻的良好状况。另外本专利技术在定位开口 5上连接有四个光源透孔8，可将背光源的光线穿透上来，使透孔上方位置更亮，CXD再以此处做基准定位，达到了定位更准确的目的。以上显示和描述了本专利技术的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。权利要求1.一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。2.根据权利要求I所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述两个定位开口对称设置。3.根据权利要求2所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于在放置开口的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口，在放置开口的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口。4.根据权利要求3所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述两个定位爪横向避让口分别位于定位开口的上下两侧。5.根据权利要求4所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述定位爪竖向避让口对称设置，所述定位爪横向避让口两两对称设置。6.根据权利要求5所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于在上方或下方的定位爪竖向避让口的两侧分别设置有一个光源透孔。全文摘要本专利技术公开了一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。本专利技术解决了现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。文档编号G01R27/02GK102830252SQ201210284520公开日2012年12月19日 申请日期2012年8月10日 优先权日2012年8月10日专利技术者李永传, 徐明哲, 李刚, 陈海滨, 黄斌, 马新升 申请人:昆山市和博电子科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李永传，徐明哲，李刚，陈海滨，黄斌，马新升，
申请(专利权)人：昆山市和博电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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