投影机制造技术

本发明专利技术涉及投影机。提供能够对可靠性的下降进行抑制的投影机。投影机具备外装壳体、投影光学系统和检测装置，所述外装壳体具有光可以通过的开口部；所述投影光学系统配置于外装壳体的内部空间且包括具有对来自光源装置的光束进行反射并将其导向开口部的反射面的反射构件，介由开口部向外装壳体的外部射出光束；所述检测装置对开口部的射出侧的光束的光路上的异物进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及投影机。
技术介绍
在对从光源射出的光束相应于图像信息进行调制而投影的投影机中，例如已知如公开于下述专利文献的采用反射型成像光学系统的投影机。专利文献I :日本特开2011—002650号公报在专利文献I记载的投影机中，以非球面镜进行了反射的投影光在投影机的外装壳体具有的开ロ部附近会聚。若该开ロ部以容易吸收光的异物覆盖，则例如投影机的温度有可能上升。其结果，投影机的可靠性有可能下降。
技术实现思路
本专利技术的方式目的在于提供能够对可靠性的下降进行抑制的投影机。按照本专利技术的ー个方式，可提供如下的投影机具备外装壳体、投影光学系统和检测装置，所述外装壳体具有光可以通过的开ロ部；所述投影光学系统配置于所述外装壳体的内部空间，且包括具有对来自光源装置的光束进行反射并将其导向所述开ロ部的反射面的反射构件，介由所述开ロ部向所述外装壳体的外部射出所述光束；所述检测装置对所述开ロ部的射出侧的所述光束的光路上的异物进行检测。根据本专利技术的ー个方式，因为在以投影光学系统的反射构件进行反射井介由外装壳体的开ロ部向外装壳体的外部射出光束的构成的投影机中，设置有对该开ロ部的射出侧的光束的光路上的异物进行检测的检测装置，所以能够对在光路是否存在异物进行把握。因此，在基于检测装置的检测结果，判断为在光路存在异物的情况下，能够采取用于对投影机的温度上升进行抑制的适当的措施。从而，能够对投影机的可靠性的下降进行抑制。所述检测装置也可以构成为，包括射出检测光的发光部和可以对所述检测光进行受光的受光部。由此，能够以非接触方式对异物的存在与否进行检測。并且，通过以光学性方式对异物进行检测，在光路存在异物的情况下，能够对该异物瞬时性地进行检測。所述检测装置也可以构成为，配置于所述开ロ部的周围的至少一部分。由此，能够对开ロ部的射出侧的异物良好地进行检測。所述检测装置也可以构成为，包括相对于所述开ロ部的中心配置于一方侧的第I检测装置和配置于另一方侧的第2检测装置。由此，能够利用至少2个检测装置而扩大检测区域，能够对异物良好地进行检测。所述检测装置也可以构成为，沿所述开ロ部的尺寸较短方向而配置。由此，能够缩短成为无法对异物进行检测的范围的各检测装置之间的距离，能够对异物良好地进行检測。所述检测装置也可以构成为，配置于所述内部空间。由此，由于从配置于内部空间的投影部照射的检测光扩展，能够扩大可以对异物进行检测的检测区域。并且，因为检测装置配置于投影机的内部，所以难以受到尘埃等的影响。附图说明图I是表示投影机的设置例的图。图2是表示第I实施方式涉及的投影机的一例的立体图。图3是表示第I实施方式涉及的投影机的一部分的图。图4是表示第I实施方式涉及的检测装置的一例的图。图5是表示第I实施方式涉及的投影机的工作的一例的图。图6是表示第2实施方式涉及的投影机的一部分的图。 图7是表示投影机的设置例的图。符号的说明I···投影机,2···外装壳体,4···开口部,5···透射构件,7···投影光学系统,9···反射构件，40···检测装置，41···投影部，42···受光部，SP…内部空间。具体实施例方式(第I实施方式)以下，关于本专利技术的第I实施方式基于附图进行说明。图I及图2是表示本实施方式涉及的投影机I的一例的图。在图I及图2中，投影机I具备构成该投影机I的外装的外装壳体2。外装壳体2例如为合成树脂制。外装壳体2具有顶面部2A、底面部2B、侧面部2C和侧面部2D。投影机I将顶面部2A朝向上下左右都可以进行投影。在本实施方式中，以投影机I使顶面部2A朝向上方而设置的状态为例进行说明。投影机I向屏幕SC照射投影光PL，将图像投影到该屏幕SC。顶面部2A具有第I倾斜面2A1及第2倾斜面2A2。在第I倾斜面2A1，形成凹部3。外装壳体2在顶面部2A具有光可以通过的矩形的开口部4及投影开口部30。开口部4形成于凹部3的上端，投影开口部30形成于凹部3的底部。在本实施方式中，在投影开口部30，配置光可以通过的透射构件5。在开口部4，虽然未配置透射构件，但是也可以配置。侧面部2C具有缝隙状的吸气开口部2C1。在吸气开口部2C1的内侧，设置空气过滤器及吸气风扇。吸气风扇介由吸气开口部2C1及空气过滤器，向外装壳体2的内部空间SP,导入用于对装置主体进行冷却的冷却空气。投影机I具有配置于外装壳体2的内部空间SP的光学单兀6。光学单兀6包括光源装置、包括对从光源装置射出的光束PL进行调制的液晶面板等的光调制装置61及对来自光调制装置61的光束PL进行投影的投影光学系统7等。再有，光学单元6的投影光学系统7以外的构成因为可在各种一般性的投影机中使用所以将具体性的说明进行省略，并在以下，关于投影光学系统7进行说明。图3是示意性地表示投影光学系统7的一部分的剖视图。投影光学系统7具有介由光调制装置61的来自光源装置的光束PL所入射的多个透镜8、具有对来自透镜8的光束PL进行反射的反射面9A的反射构件9和对透镜8及反射构件9进行收置的收置构件10。在本实施方式中，反射面9A包括凹面，反射构件9为非球面镜。在以下的说明中，将反射构件9适当地称为非球面镜9。反射面9A为非旋转对称的自由曲面形状的反射面。在本实施方式中，非球面镜9在投影光学系统7中的光路最下游配置为，反射面9A朝向斜上方。非球面镜9对通过多个透镜8导引的光束PL进行反射，使其折返到斜上方侧并广角化。投影开ロ部30及开ロ部4能够使以非球面镜9进行了反射的光PL通过。投影开ロ部30及开ロ部4配置于收置构件10的上方侧。投影光学系统7以如下方式设置于外装壳体2的内部空间SP :使得以非球面镜9进行了反射的光PL在收置构件10的上方侧能够通过投影开ロ部30及开ロ部4。非球面镜9 (反射面9A)对来自透镜8的光束PL进行反射，将其导向投影开ロ部30及开ロ部4。来自反射构件9的光束PL在通过投影开ロ部30之后，通过开ロ部4。来自反射构件9的光束PL介由投影开ロ部30及开ロ部4，射出到外装壳体2的外部空间。投影开ロ部30形成于以非球面镜9的反射面9A进行了反射的光束PL会聚的聚 光点P的附近。通过将投影开ロ部30设置于聚光点P的附近，能够减小投影开ロ部30的面积。在本实施方式中，投影机I具备对介由投影开ロ部30 (透射构件5)及开ロ部4射出到外装壳体2的外部空间的光束(投影光)PL的光路上的异物进行检测的检测装置40。检测装置40对开ロ部4的射出侧的光束PL的光路上的异物进行检测。在本实施方式中，检测装置40配置于外装壳体2。检测装置40包括沿开ロ部4的尺寸较短方向相对于开ロ部4的中心配置于斜面2A2侧(一方侧)的第I检测装置40A和配置于斜面2A1侧(另一方侧)的第2检测装置40B。检测装置40 (40A、40B)在开ロ部4的射出侧，配置于光束PL的光路的外側。在本实施方式中，检测装置40A与检测装置40B为相同规格的装置。在本实施方式中，检测装置40射出检测光SL。检测装置40利用检测光SL，对异物光学性地进行检測。第I检测装置40A向外部空间中的光束(投影光)PL的光路照射检测光SL，对该光束PL的光路上的异物进行检测。第2检测装置40B对斜面2A1上的异物进行检測。还有，第2检测装置40B既可以将检测光SL照射到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种投影机，其特征在于，具备：外装壳体，其具有光可以通过的开口部；投影光学系统，其配置于所述外装壳体的内部空间，包括具有反射面的反射构件，所述反射面对来自光源装置的光束进行反射并将其导向所述开口部，所述投影光学系统介由所述开口部向所述外装壳体的外部射出所述光束；和检测装置，其对所述开口部的射出侧的所述光束的光路上的异物进行检测。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：小山美佳，小林靖幸，大月伸行，白仓清政，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：