本实用新型专利技术涉及一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,它包括引脚(1)和芯片(2),所述芯片(2)有多个,所述多个芯片(2)倒装于引脚(1)正面,所述芯片(2)底部与引脚(1)正面之间设置有底部填充胶(7),所述引脚(1)外围的区域、引脚(1)与引脚(1)之间的区域、引脚(1)上部和引脚(1)下部的区域以及芯片(2)外均包封有塑封料(3),所述引脚(1)下部的塑封料(3)表面上开设有小孔(4),所述小孔(4)内设置有金属球(6),所述金属球(6)与引脚(1)背面相接触,所述引脚(1)有多圈。本实用新型专利技术的有益效果是:降低了制造成本,提高了封装体的安全性和可靠性,减少了环境污染,能够真正做到高密度线路的设计和制造。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,属于半导体封装
技术介绍
传统的高密度基板封装结构的制造工艺流程如下所示步骤一、参见图3,取一玻璃纤维材料制成的基板,步骤二、参见图4,在玻璃纤维基板上所需的位置上开孔,步骤三、参见图5,在玻璃纤维基板的背面披覆一层铜箔,步骤四、参见图6,在玻璃纤维基板打孔的位置填入导电物质,步骤五、参见图7,在玻璃纤维基板的正面披覆一层铜箔,步骤六、参见图8,在玻璃纤维基板表面披覆光阻膜,步骤七、参见图9,将光阻膜在需要的位置进行曝光显影开窗,步骤八、参见图10,将完成开窗的部分进行蚀刻,步骤九、参见图11,将基板表面的光阻膜剥除,步骤十、参见图12,在铜箔线路层的表面进行防焊漆(俗称绿漆)的披覆,步骤十一、参见图13,在防焊漆需要进行后工序的装片以及打线键合的区域进行开窗,步骤十二、参见图14,在步骤十一进行开窗的区域进行电镀,相对形成基岛和引脚,步骤十三、完成后续的装片、打线、包封、切割等相关工序。上述传统高密度基板封装结构存在以下不足和缺陷I、多了一层的玻璃纤维材料,同样的也多了一层玻璃纤维的成本;2、因为必须要用到玻璃纤维,所以就多了一层玻璃纤维厚度约10(Tl50Mm的厚度空间;3、玻璃纤维本身就是一种发泡物质,所以容易因为放置的时间与环境吸入水分以及湿气,直接影响到可靠性的安全能力或是可靠性的等级;4、玻璃纤维表面被覆了一层约5(Tl00Mffl的铜箔金属层厚度,而金属层线路与线路的蚀刻距离也因为蚀刻因子的特性只能做到5(Tl00Mffl的蚀刻间隙(参见图15,最好的制作能力是蚀刻间隙约等同于被蚀刻物体的厚度),所以无法真正的做到高密度线路的设计与制造;5、因为必须要使用到铜箔金属层,而铜箔金属层是采用高压粘贴的方式,所以铜箔的厚度很难低于50Mm的厚度,否则就很难操作如不平整或是铜箔破损或是铜箔延展移位等等;6、也因为整个基板材料是采用玻璃纤维材料,所以明显的增加了玻璃纤维层的厚度10(Tl50Mm,无法真正的做到超薄的封装;7、传统玻璃纤维加贴铜箔的工艺技术因为材质特性差异很大(膨胀系数),在恶劣环境的工序中容易造成应力变形,直接的影响到元件装载的精度以及元件与基板粘着性与可靠性。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述不足,提供一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,其工艺简单,不需使用玻璃纤维层,减少了制造成本,提高了封装体的安全性和可靠性,减少了玻璃纤维材料带来的环境污染,而且金属基板线路层采用的是电镀方法,能够真正做到高密度线路的设计和制造。本技术的目的是这样实现的一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,它包括引脚和芯片,所述芯片有多个,所述多个芯片倒装于引脚正面,所述芯片底部与引脚正面之间设置有底部填充胶,所述引脚外围的区域、引脚与引脚之间的区域、引脚上部和引脚下部 的区域以及芯片外均包封有塑封料,所述引脚下部的塑封料表面上开设有小孔,所述小孔与引脚背面相连通,所述小孔内设置有金属球,所述金属球与引脚背面相接触,所述引脚有多圈。所述金属球与引脚背面之间设置有金属保护层。所述引脚包括引脚上部、引脚下部和中间阻挡层,所述引脚上部和引脚下部均由单层或多层金属电镀而成,所述中间阻挡层为镍层、钛层或铜层。与现有技术相比,本技术具有以下有益效果I、本技术不需要使用玻璃纤维层,所以可以减少玻璃纤维层所带来的成本;2、本技术没有使用玻璃纤维层的发泡物质,所以可靠性的等级可以再提高,相对对封装体的安全性就会提高;3、本技术不需要使用玻璃纤维层物质,所以就可以减少玻璃纤维材料所带来的环境污染;4、本技术的二维金属基板线路层所采用的是电镀方法,而电镀层的总厚度约在l(Tl5Mffl,而线路与线路之间的间隙可以轻松的达到25Mm以下的间隙,所以可以真正地做到高密度内引脚线路平铺的技术能力;5、本技术的二维金属基板因采用的是金属层电镀法,所以比玻璃纤维高压铜箔金属层的工艺来得简单,且不会有金属层因为高压产生金属层不平整、金属层破损以及金属层延展移位的不良或困惑;6、本技术的二维金属基板线路层是在金属基材的表面进行金属电镀,所以材质特性基本相同,所以镀层线路与金属基材的内应力基本相同,可以轻松的进行恶劣环境的后工程(如高温共晶装片、高温锡材焊料装片以及高温被动元件的表面贴装工作)而不容易产生应力变形。附图说明图I为本技术一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构的示意图。图2为图I的俯视图。图:T图14为传统的高密度基板封装结构的制造工艺流程的各工序示意图。图15为玻璃纤维表面铜箔金属层的蚀刻状况示意图。其中引脚I芯片2塑封料3小孔4金属保护层5金属球6底部填充胶7。具体实施方式参见图I、图2,本技术一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,它包括引脚I和芯片2,所述芯片2有多个,所述多个芯片2倒装于引脚I正面,所述芯片2底部与引脚I正面之间设置有底部填充胶7,所述引脚I外围的区域、引脚I与引脚I之间的区域、引脚I上部和引脚I下部的区域以及芯片2外均包封有塑封料3,所述引脚I下部的塑封料3表面上开设有小孔4,所述小孔4与引脚I背面相连通,所述小孔4内设置有金属球6,所述金属球6与引脚I背面相接触。所述金属球6与引脚I背面之间设置有金属保护层5,所述金属保护层5为抗氧化剂,所述引脚I有多圈。所述金属球6材料采用锡或是锡合金。所述底部填充胶7采用环氧树脂。所述引脚I包括引脚上部、引脚下部和中间阻挡层,所述引脚上部和引脚下部均由单层或多层金属电镀而成,所述中间阻挡层为镍层、钛层或铜层。权利要求1.一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,其特征在于它包括引脚(I)和芯片(2),所述芯片(2)有多个,所述多个芯片(2)倒装于引脚(I)正面,所述芯片(2)底部与引脚(I)正面之间设置有底部填充胶(7),所述引脚(I)外围的区域、引脚(I)与引脚(I)之间的区域、引脚(I)上部和引脚(I)下部的区域以及芯片(2)外均包封有塑封料(3),所述引脚(I)下部的塑封料(3)表面上开设有小孔(4),所述小孔(4)与引脚(I)背面相连通,所述小孔(4)内设置有金属球(6),所述金属球(6)与引脚(I)背面相接触,所述引脚(I)有多圈。2.根据权利要求I所述的一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,其特征在于所述金属球(6 )与引脚(I)背面之间设置有金属保护层(5 )。3.根据权利要求I所述的一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,其特征在于所述引脚(I)包括引脚上部、引脚下部和中间阻挡层,所述引脚上部和引脚下部均由单层或多层金属电镀而成,所述中间阻挡层为镍层、钛层或铜层。专利摘要本技术涉及一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,它包括引脚(1)和芯片(2),所述芯片(2)有多个,所述多个芯片(2)倒装于引脚(1)正面,所述芯片(2)底部与引脚(1)正面之间设置有底部填充胶(7),所述引脚(1)外围的区域、引脚(1)与引脚(1)之间的区域、引脚(1)上部和引脚(1)下部的区域以及芯片(2)外均包封有塑封料(3),所述引脚(1)下部的塑封料(3)表面上开设有小孔(4),所述小孔(4)内设置有金属球(6),所述金属球(6)与引脚(1)背面相接触,所述引脚(1)有多圈。本技术的有本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种无基岛多圈多芯片倒装封装结构,其特征在于:它包括引脚(1)和芯片(2),所述芯片(2)有多个,所述多个芯片(2)倒装于引脚(1)正面,所述芯片(2)底部与引脚(1)正面之间设置有底部填充胶(7),所述引脚(1)外围的区域、引脚(1)与引脚(1)之间的区域、引脚(1)上部和引脚(1)下部的区域以及芯片(2)外均包封有塑封料(3),所述引脚(1)下部的塑封料(3)表面上开设有小孔(4),所述小孔(4)与引脚(1)背面相连通,所述小孔(4)内设置有金属球(6),所述金属球(6)与引脚(1)背面相接触,所述引脚(1)有多圈。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王新潮,李维平,梁志忠,
申请(专利权)人:江苏长电科技股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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