荧光计的校准方法技术

为了处理影响荧光测量的水样品的一种或更多种光学性能，一些实施例提供用于校准荧光计的方法。在一些情况下，用来自特定的现场地点的样品水制备一种或更多种校准溶液。从水样品和一种或更多种校准溶液进行荧光测量，并且，基于测量确定校准参数。在一些情况下，通过向样品水加入示踪物以包含较高浓度的荧光示踪剂制备校准溶液，并且，进行测量以表征校准斜率系数。在一些情况下，通过添加酸制备校准溶液，并且进行测量以表征样品中的背景荧光。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的实施例一般涉及用于确定和监视液体样品中的一种或更多种物质的浓度的荧光测定传感器和荧光计，更特别地，涉及这种荧光测定传感器和荧光计的校准。
技术介绍
在清洁和抗菌操作中，商业用户(例如，餐馆、宾馆、食品和饮料工厂、食品杂货店等)依赖于清洁或抗菌产品的浓度以使得产品有效地工作。有效工作的清洁或抗菌产品的失效(由于浓度问题)可导致商业用户感觉产品具有低的质量。最终消费者也会感觉商业用户提供了劣质的服务。另外，商业用户会被政府监察和卫生部门调查和/或制裁。因此，需要可确定产品的浓度是否在规定的浓度范围内的系统。对于其它的应用，诸如水看护、害物防治、饮料和装瓶操作和封装操作等，也同样如此。 一种监视产品的浓度的方法依赖于监视当样品(连同样品内的产品)暴露于预定波长的光时出现的产品的荧光。例如，产品内的化合物或添加到产品的荧光示踪剂在暴露于一定波长的光时会发荧光。然后，可通过使用测量化合物的荧光并基于测量的荧光计算化学品的浓度的荧光计确定产品的浓度。荧光测定分光法关注由关注的样品发射的荧光的检测。它包括使用激励样品中的某些化合物的分子中的电子并导致它们发射低能量的光(即，“发荧光”)的通常为紫外(UV)光的光束。存在几种类型的用于测量发射的荧光的荧光计。荧光计一般具有激励辐射能量源、激励波长选择器、用于包括样品材料的样品单元、发射波长选择器、具有信号处理器的检测器和读出装置。滤波器荧光计使用光学滤波器以使入射光与荧光分离。分光荧光计使用衍射光栅单色器以使入射光与荧光分离。荧光计的测量精度以及最终计算的浓度的精度依赖于荧光计处理现场中的各种因素的能力。因此，为了校正如果不考虑则会明显影响荧光测量的诸如背景荧光的水性能，许多的荧光计在测量荧光之前被校准。另外，水性能常常随时间和地点改变，从而导致更加难以在现场获得精确的荧光测量。
技术实现思路
本专利技术的一些实施例提供一种或更多种用于校准荧光计的方法。在一些情况下，一个或更多个校准方法考虑地点特定的水性能，并由此对于现场的特定地点校准荧光计。在一些实施例中，一种用于校准荧光计的方法包括提供被配置为从来自工业水系统的水的样品中的荧光标记测量荧光信号的荧光计。荧光计还被配置为从荧光信号确定水样品中的水处理产品的浓度。水处理产品的标称浓度Ctl与水样品中的荧光标记的标称浓度Cf对应。方法还包括从工业水系统取回水样品和从水样品确定斜率系数Km并从水样品或零水溶液确定零位偏移4。根据本专利技术的一个方面，校准方法还包括用荧光计从水样品测量第一荧光信号S1和制备第一校准溶液。通过制备包含约PXCtl的浓度的水处理产品和约PXCf的浓度的荧光标记的示踪溶液并向约N份的水样品添加约I份的示踪溶液，来制备第一校准溶液。然后，用荧光计从第一校准溶液测量第二荧光信号S2，并且计算斜率系数Km，该斜率系数Km约 ((N+ \\ ( N \\等于Xβ方法还包括从零水溶液的样品测量第三荧光信号和将零位偏移Ztl设为等于s3。然后，通过使用斜率系数和零位偏移校准荧光计。根据本专利技术的另一方面，一种用于校准荧光计的方法也包括用荧光计从水样品测量第一荧光信号S1和制备第一校准溶液。通过制备包含约PXCtl的浓度的水处理产品和约PXCf的浓度的荧光标记的示踪溶液并向约N份的水样品添加约I份的示踪溶液，来制备第一校准溶液。然后，用荧光计从第一校准溶液测量第二荧光信号S2，并且计算斜率系数Km，该斜率系数Km约等于方法还包括制备第二校准溶液以确定零 位偏移。通过制备包含约Q%的酸的酸溶液并向约M份的水样品添加约I份的酸溶液，来制备第二校准溶液。然后，用荧光计从第二校准溶液测量第三荧光信号S3。计算零位偏移Ztl, { M 4~\\该零位偏移Ztl约等于& - A，并且，通过使用斜率系数和零位偏移校准荧光计。 \ M J根据本专利技术的另一方面，一种用于校准荧光计的方法包括用荧光计从水样品测量第一荧光信号Si。通过制备包含约IOOXCci的浓度的水处理产品和约IOOXCf的浓度的荧光标记的示踪溶液并向约99份的水样品添加约I份的示踪溶液，来制备第一校准溶液。然后用荧光计从第一校准溶液测量第二荧光信号S2,并且计算斜率系数Km，该斜率系数Km约等于CV(S2-S1Xi). 99)。方法还包括制备第二校准溶液以确定零位偏移。通过制备包含约5% 约30%的酸的酸溶液并向约9份的第一校准溶液添加约I份的酸溶液，来制备第二校准溶液。然后，从第二校准溶液测量第三荧光信号S3,并且计算零位偏移Ztl,该零位偏移Ztl约等于s2-(s3x I. I)。方法还包括通过使用斜率系数和零位偏移校准荧光计。根据本专利技术的另一方面，一种用于校准荧光计的方法包括用荧光计从水样品测量第一荧光信号S1和通过制备包含约IOOXCci的浓度的水处理产品和约IOOXCf的浓度的荧光标记的第一示踪溶液并向约99份的水样品添加约I份的第一示踪溶液制备第一校准溶液。然后用荧光计从第一校准溶液测量第二荧光信号s2。方法还包括通过制备包含约5% 30%的酸的酸溶液并向约9份的水样品添加约I份的酸溶液制备第二校准溶液。从第二校准溶液测量第三荧光信号s3。方法还包括通过制备包含约IOOXCci的浓度的水处理产品和约IOOXCf的浓度的荧光标记的第二示踪溶液并向约99份的第二校准溶液添加约I份的示踪溶液制备第三校准溶液。用荧光计从第三校准溶液测量第四荧光信号S4。在一些情况下，计算斜率系数Km，该斜率系数Km约等于Cf/ (S2-S1X O. 99)。在一情况下，计算零位偏移 ( (S — S is B (S — V )))Z0,该零位偏移 Ztl 约等于__________________________________________________TT1______________________________:______^ h其中，Bz 是约为 O. 005 约 O. 05的背景校正系数。方法还包括通过使用斜率系数和零位偏移校准荧光计。本专利技术的一些实施例可提供以下的特征和/或优点中的一个或更多个。一些实施例提供提高现场荧光计校准的精度的校准过程。一些实施例考虑特定的时间的水系统的原位(on-site)性能，以改善荧光计校准。一些实施例处理诸如可影响荧光测量的背景荧光、散射、吸收率、浊度、颜色和其它因素的一种或更多种水性能。在一些情况下，校准方法提供+/-2%的平均校准精度。在一些情况下，最大校准误差比10%低。阅读以下的详细的描述，这些和各种其它的特征和优点将变得十分明显。附图说明以下的示图解释本专利技术的特定的实施例，并因此不限制本专利技术的范围。附图没有按比例(除非陈述)并且要结合以下的详细的描述中的解释使用。以下，结合附图描述本专利技术的实施例，其中，类似的附图标记表示类似的要素。图I是根据本专利技术的一些实施例的手持荧光计的透视图。图2是根据本专利技术的一些实施例的激励和发射光谱强度的曲线图。图3是根据本专利技术的一些实施例的手持荧光计的分解图。图4是根据本专利技术的一些实施例的控制器板的示意图。·图5是根据本专利技术的一些实施例的光源板的透视图。图6是根据本专利技术的一些实施例的发射检测器板的透视图。图7A是根据本专利技术的一些实施例的传感器头的顶部透视图。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：E·托克图夫，C·J·欧文，S·K·特里吉斯泰德，A·菲利普晨柯，
申请(专利权)人：埃科莱布美国股份有限公司，
类型：发明
国别省市：