本发明专利技术公开了一种用以在手动、半自动或自动处理装置中，可预测地清洁诸如探针卡和测试插座等测试器接口的接触元件和支持硬件的介质和电气测试设备，使得单个晶片或IC封装的功能和性能能够被电气地评估。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：布雷特·A·汉弗里，詹姆斯·H·杜瓦尔，阿兰·E·汉弗里，杰里·J·布罗兹，
申请(专利权)人：国际测试解决方案有限公司，布雷特·A·汉弗里，詹姆斯·H·杜瓦尔，
类型：发明
国别省市：
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