本发明专利技术涉及一种行星结构内齿圈检测装置。解决了目前检测成本较高内且效率低下的问题。包括底座、支承圈、定位齿轮、轴承I、定位齿轮定位轴、测量齿轮、轴承II、测量齿轮定位轴、上挡板、千分表、侧挡板、滑块、弹簧和限位块，定位齿轮和测量齿轮竖直安装在滑块上并能自由转动，滑块安装在底座上的滑槽内并可在滑槽内自由滑动，检测时，内齿圈工件放置在支承圈上，限位板和滑块之间安装有压缩弹簧，压缩弹簧一端压紧在限位板上，另一端压紧在滑块上，千分表安装在侧挡板上，其测量头穿过侧挡板压在滑块端面上。本发明专利技术使用效率高，操作方便，可快速、准确、全面地检测齿轮，同时其中的零部件可灵活更换，通用性强。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种内齿圈检测装置，具体涉及一种行星结构内齿圈检测装置。
技术介绍
随着机械传动领域行星结构的大量应用，行星结构中内齿圈进入了大批量生产的时代，内齿圈在进入装配环节前，必须对内齿圈的齿轮公差及极限偏差项目进行全面的检测。目前，内齿圈径向综合偏差和一齿径向综合偏差的检测主要靠齿轮检测仪来完成，大批量生产时内齿圈送检数量也相应增加，齿轮检测仪检测内齿圈时间相对较长、且对操作者的专业技能要求较高。因此内齿圈径向综合偏差和一齿径向综合偏差的检测在整个制造过程中占用时间较长，且检测成本较高，对于大批量生产来说会占用大量的时间和精力，严重影响生产效率。
技术实现思路
本专利技术通过提供一种检测装置，解决了目前行星结构中内齿圈检测成本较高内且效率低下的问题。本专利技术是由以下技术方案实现的—种行星结构内齿圈检测装置，包括底座、支承圈、定位齿轮、轴承I、定位齿轮定位轴、测量齿轮、轴承II、测量齿轮定位轴、上挡板、千分表、侧挡板、滑块、弹簧、限位块，定位齿轮通过定位齿轮定位轴和轴承I竖直安装在底座上并能自由转动，测量齿轮通过测量齿轮定位轴和轴承II竖直安装在滑块上并能自由转动，滑块安装在底座上的滑槽内并可在滑槽内自由滑动，滑槽由安装在底座上的限位块、支承圈、上挡板、侧挡板和底座形成，检测时，内齿圈工件放置在支承圈上，定位齿轮和测量齿轮同时与内齿圈工件啮合，限位板和滑块之间安装有压缩弹簧，压缩弹簧一端压紧在限位板上，另一端压紧在滑块上，千分表安装在侧挡板上，其测量头穿过侧挡板压在滑块端面上。定位齿轮为三个，与内齿圈工件啮合时，相对于内齿圈工件轴线均布。本专利技术由于采取以上技术方案，其具有以下优点(I)行星结构内齿圈检测装置结构简单合理，制造成本低；(2)行星结构内齿圈检测装置利用行星齿轮啮合原理，通过观察千分表指针跳动，可快速、准确地检测径向综合偏差和一齿径向综合偏差值，适用效率高，操作方便，适合批量生产的检测；(3)可模拟内齿圈实际工作状态，预先了解内齿圈局部可能存在问题的确切位置；(4)通过更换定位齿轮和测量齿轮，可实现不同模数的直齿、斜齿等内齿圈工件的检测，通用性强。附图说明图I是本专利技术的俯视图；图2是本专利技术的正剖视图。具体实施例方式本专利技术用于对内齿圈径向综合偏差和一齿径向综合偏差进行检测，模拟内齿圈实际工作状态，工件垂直方向依靠支承圈定位，水平方向利用呈行星结构布置的定位齿轮定位，测量齿轮沿径向与内齿圈压紧，测量齿轮通过定位轴、滑块与千分表联动，具体结构如下如图I、图2所示，本专利技术包括底座I、起吊螺钉2、支承圈3、螺钉4、内齿圈工件5、定位齿轮6、轴承I 7、定位齿轮定位轴8、测量齿轮9、轴承II 10、螺母11、垫圈12、测量齿轮定位轴13、上挡板14、螺钉15、衬套16、千分表17、侧挡板18、滑块19、压缩弹簧20、限位块21等零部件。定位齿轮6通过定位齿轮定位轴8和轴承I 7竖直安装在底座I上并能自由转动，支承圈3通过螺钉4与底座I连接，测量齿轮9通过测量齿轮定位轴13、垫圈12、螺母11和轴承II 10竖直安装在滑块19上并能自由转动，滑块19可在底座I上的滑槽内自由滑动。滑槽由安装在底座I上的限位块21、支承圈3、上挡板14、侧挡板18和底座I形成，检测时，内齿圈工件5放置在支承圈3上，定位齿轮6和测量齿轮9同时与内齿圈工件5啮合，定位齿轮6为三个，均布安装在底座I上，这样就能与内齿圈工件5稳定啮合，并将内齿圈工件5定位。限位板21和滑块19上设置压缩弹簧20定位孔，压缩弹簧20安装在定位孔中，压缩弹簧20 —端压紧在限位板21上另一端压紧在滑块19上，压缩弹簧20将测量齿轮9向内齿圈工件5压紧。千分表17安装在侧挡板18上，并通过螺钉15、衬套16将千分表17压 紧，千分表17测量头压在滑块19端面上。本专利技术的工作原理和工作过程如下工作前，先将测量齿轮9向测量装置中心方向拨动，使滑块19向左移动并压缩弹簧20，然后将内齿圈工件5放置于支承圈3上，利用3个定位齿轮6使内齿圈工件5自动定位，同时将测量齿轮9松开，利用压缩弹簧20的弹力推动滑块19向右移动，并通过测量齿轮定位轴13带动测量齿轮9与内齿圈工件5压紧，然后将千分表17压紧在滑块19端面，并用螺钉15通过衬套16将千分表17锁紧，在检测时转动内齿圈工件5，内齿圈工件5带动测量齿轮9转动，同时测量齿轮9会随着内齿圈工件5齿部的偏差带动滑块19沿底座I的滑槽左右移动，通过观察千分表17的指针跳动情况，可获得实际的测量值。通过更换定位齿轮6和测量齿轮9，可实现不同模数的直齿、斜齿等内齿圈工件5的检测，但定位齿轮6和工件内齿圈5需满足行星传动的配齿关系。权利要求1.一种行星结构内齿圈检测装置，其特征是包括底座、支承圈、定位齿轮、轴承I、定位齿轮定位轴、测量齿轮、轴承II、测量齿轮定位轴、上挡板、千分表、侧挡板、滑块、弹簧、限位块，定位齿轮通过定位齿轮定位轴和轴承I竖直安装在底座上并能自由转动，测量齿轮通过测量齿轮定位轴和轴承II竖直安装在滑块上并能自由转动，滑块安装在底座上的滑槽内并可在滑槽内自由滑动，滑槽由安装在底座上的限位块、支承圈、上挡板、侧挡板和底座形成，检测时，内齿圈工件放置在支承圈上，定位齿轮和测量齿轮同时与内齿圈工件啮合，限位板和滑块之间安装有压缩弹簧，压缩弹簧一端压紧在限位板上，另一端压紧在滑块上，千分表安装在侧挡板上，其测量头穿过侧挡板压在滑块端面上。2.根据权利要求I所述的一种行星结构内齿圈检测装置，其特征是定位齿轮为三个，与内齿圈工件啮合时，相对于内齿圈工件轴线均布。全文摘要本专利技术涉及一种行星结构内齿圈检测装置。解决了目前检测成本较高内且效率低下的问题。包括底座、支承圈、定位齿轮、轴承I、定位齿轮定位轴、测量齿轮、轴承II、测量齿轮定位轴、上挡板、千分表、侧挡板、滑块、弹簧和限位块，定位齿轮和测量齿轮竖直安装在滑块上并能自由转动，滑块安装在底座上的滑槽内并可在滑槽内自由滑动，检测时，内齿圈工件放置在支承圈上，限位板和滑块之间安装有压缩弹簧，压缩弹簧一端压紧在限位板上，另一端压紧在滑块上，千分表安装在侧挡板上，其测量头穿过侧挡板压在滑块端面上。本专利技术使用效率高，操作方便，可快速、准确、全面地检测齿轮，同时其中的零部件可灵活更换，通用性强。文档编号G01B5/00GK102798323SQ201210332620公开日2012年11月28日 申请日期2012年9月11日 优先权日2012年9月11日专利技术者张瑞君, 郑志伟, 许军恒, 杨忠林, 居玉辉, 李永立, 潘树民, 张淑珍, 周桂芬, 李江平, 张东海, 吕金辉 申请人:内蒙古第一机械集团有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种行星结构内齿圈检测装置，其特征是：包括底座、支承圈、定位齿轮、轴承I、定位齿轮定位轴、测量齿轮、轴承II、测量齿轮定位轴、上挡板、千分表、侧挡板、滑块、弹簧、限位块，定位齿轮通过定位齿轮定位轴和轴承I竖直安装在底座上并能自由转动，测量齿轮通过测量齿轮定位轴和轴承II竖直安装在滑块上并能自由转动，滑块安装在底座上的滑槽内并可在滑槽内自由滑动，滑槽由安装在底座上的限位块、支承圈、上挡板、侧挡板和底座形成，检测时，内齿圈工件放置在支承圈上，定位齿轮和测量齿轮同时与内齿圈工件啮合，限位板和滑块之间安装有压缩弹簧，压缩弹簧一端压紧在限位板上，另一端压紧在滑块上，千分表安装在侧挡板上，其测量头穿过侧挡板压在滑块端面上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张瑞君，郑志伟，许军恒，杨忠林，居玉辉，李永立，潘树民，张淑珍，周桂芬，李江平，张东海，吕金辉，
申请(专利权)人：内蒙古第一机械集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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