对焦机构制造技术

本发明专利技术涉及一种对焦机构包含基座、设置于该基座上的对焦群框、致动该对焦群框相对该基座滑移的致动单元，及用于检测该对焦群框位置的检测单元，该致动单元包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石，该检测单元包括设置于该基座的霍尔组件，及设置于该对焦群框的检测磁石，利用控制该线圈的磁场强度来驱动该致动磁石相对移动，进而带动该对焦群框相对该基座滑移，达到无噪音驱动的功效，此外，利用霍尔组件来感知该检测磁石的位置，提高该对焦群框的对焦精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种光学镜头装置，特别是指一种对焦机构。
技术介绍
以往的一种对焦机构，例如中国台湾第1310848号专利技术专利「可防止泄光的镜头」，是将减速齿轮设置于对焦螺杆与步进马达间，步进马达通过减速齿轮来驱动对焦螺杆，进而使对焦群框相对基座滑移，但此类型的对焦机构，会因减速齿轮组间的背隙(backlash)而影响对焦精度，此外还会产生噪音。参阅图I与图2，而以往的另一种对焦机构1，是利用步进马达11直接驱动对焦螺杆12及螺帽13，进而使对焦群框14相对基座15滑移，但由于步进马达11的轴心会前后窜动，将会直接影响到对焦的精度，此外，步进马达11同样有作动噪音大的缺失。 在位置检知方面，以往的检测单元16仅能检测对焦群框12是否到达检测点，而无法检测对焦群框12在例如近拍端(Near)、远拍端(Infinite)等各种不同位置，此外，在驱动对焦群框12相对基座13滑移时，各位置是采用步进马达11的步数来控制，推测该对焦群框12的位置，因此，若当因机构干涉产生失步时，将无法准确控制对焦群框12的位置，进而影响对焦精度。因此，一种可以提高对焦精度且降低噪音的对焦机构，为目前相关业者的研发目标之一 O
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术中的对焦机构噪音大或者对焦精度不高的缺陷，提供一种可以提高对焦精度且降低噪音的对焦机构。本专利技术为解决其技术问题所采用的技术方案是，提供一种对焦机构，包含基座、对焦群框、致动单元，及检测单元。该对焦群框可滑移地设置于该基座上，该致动单元包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石，该检测单元包括设置于该基座的霍尔组件，及设置于该对焦群框的检测磁石。本专利技术的功效在于，利用该线圈来驱动该致动磁石相对移动，进而带动该对焦群框相对该基座滑移，达到无噪音驱动的功效，再利用霍尔组件来感知该检测磁石的位置，达到提闻对焦精度的功效。附图说明图I是立体图，说明以往的一种对焦机构；图2是立体图，说明以往对焦机构的检测单元；图3是立体分解图，说明本专利技术对焦机构的第一较佳实施例；图4是立体图，说明本第一较佳实施例的基座及对焦群框的组配关系；图5是顶视图，说明本第一较佳实施例在近拍端位置；及图6是顶视图，说明本第一较佳实施例在远拍端位置。具体实施例方式有关本 专利技术的前述及其它
技术实现思路
、特点与功效，在以下配合附图的一个较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。在本专利技术被详细描述之前，要注意的是，在以下的说明内容中，类似的组件是以相同的编号来表不。参阅图3与图4，本专利技术对焦机构的第一较佳实施例包含基座2、对焦群框3、致动单元4,及检测单元5。该基座2包括导槽21及导引轴22。该对焦群框3可滑移地设置于该基座2上，该对焦群框3包括对应该导槽21的导引凸块31，及对应套设于该导引轴22的导引套管32。该致动单元4包括设置于该基座2的线圈41，及设置于该对焦群框3的致动磁石42。该检测单元5包括设置于该基座2的霍尔组件51，及设置于该对焦群框3的检测磁石52。在本第一较佳实施例中，该制动磁石42与检测磁石52呈一体式,而该对焦群框3还包括供该制动磁石42与检测磁石52固定的导磁金属板33，该致动单元4与该检测单元5彼此共享该磁石42、52，有助于降低用料成本并简化制造流程。参阅图3、图5与图6，在驱动该对焦群框3相对该基座2滑移进行对焦动作时，是通过该致动单元4的线圈41产生预定磁场强度，以致动该致动磁石42相对趋近或远离该线圈41，进而带动该对焦群框3相对该基座2滑移至预定位置，在进行对焦时，该对焦群框3利用该导引凸块31在该基座2导槽21中滑移，与利用该导引套管32在该导引轴22上滑移，维持对焦时的准直度。在驱动完成后，利用该检测单元5的霍尔组件51，检知该检测磁石52的磁场强度，以得知该检测磁石52与该霍尔组件51的相对距离，进而可以检测该对焦群框3是否到达预定的对焦位置，提高对于该对焦群框3在例如近拍端(配合参阅图5)、远拍端(配合参阅图6)等不同位置的检测精确度。值得一提的是，该致动磁石42与该检测磁石52也可分别设置，不限于呈一体式，同样可以达到本第一较佳实施例的功效。综上所述，本第一较佳实施例的优点在于—、利用该致动单元4的线圈磁场强度，以无接触(contactless)方式致动该致动磁石42，替代以往的步进马达、减速齿轮等驱动机构，确实改善致动该对焦群框3时的噪音问题，达到无噪音驱动的功效。二、通过该检测单元5的霍尔组件51与检测磁石52，来检测该对焦群框3的位置，提高对该对焦群框3在不同位置的检测精确度，有效避免因机构干涉而产生失步的缺失。三、使用线圈41与致动磁石42取代步进马达，达到降低成本的功效。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，不能以此限定本专利技术实施的范围，即凡依本专利技术权利要求及专利技术说明内容所作的简单的等效变化与修饰，均仍属本专利技术专利涵盖的范围内 。权利要求1.一种对焦机构，其特征在于，包括 基座; 对焦群框，可滑移地设置于该基座上； 致动单元，包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石；及 检测单元，包括设置于该基座的霍尔组件，及设置于该对焦群框的检测磁石。2.根据权利要求I所述的对焦机构，其特征在于，该制动磁石与检测磁石呈一体式。3.根据权利要求2所述的对焦机构，其特征在于，该对焦群框还包括提供该制动磁石与检测磁石固定的导磁金属板。4.根据权利要求I所述的对焦机构，其特征在于，该基座包括导槽及导引轴，该对焦群框包括对应该导槽的导引凸块，及对应套设于该导引轴的导引套管。全文摘要本专利技术涉及一种对焦机构包含基座、设置于该基座上的对焦群框、致动该对焦群框相对该基座滑移的致动单元，及用于检测该对焦群框位置的检测单元，该致动单元包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石，该检测单元包括设置于该基座的霍尔组件，及设置于该对焦群框的检测磁石，利用控制该线圈的磁场强度来驱动该致动磁石相对移动，进而带动该对焦群框相对该基座滑移，达到无噪音驱动的功效，此外，利用霍尔组件来感知该检测磁石的位置，提高该对焦群框的对焦精度。文档编号G02B7/00GK102789036SQ201110130298公开日2012年11月21日 申请日期2011年5月18日 优先权日2011年5月18日专利技术者谢楷模, 颜宗与 申请人:亚洲光学股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对焦机构，其特征在于，包括：基座；对焦群框，可滑移地设置于该基座上；致动单元，包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石；及检测单元，包括设置于该基座的霍尔组件，及设置于该对焦群框的检测磁石。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：颜宗与，谢楷模，
申请(专利权)人：亚洲光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：