晶体管特性测试结构及采用该结构的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种晶体管特性测试结构及采用该结构的测试方法，涉及显示器技术领域，使得薄膜晶体管特性测试更加简便。该结构包括：用于阵列检测的连接单元；多个晶体管测试导体垫片；所述多个晶体管测试导体垫片包括晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片；所述晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片通过所述连接单元分别连接于栅线和数据线；其方法为：将多个探针与所述多个晶体管测试导体垫片接触，并通过所述连接单元为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头的探针与像素中的薄膜晶体管的漏极或像素电极接触，实现晶体管特性测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示器
，尤其涉及一种。
技术介绍
目前，对于显示器面板中薄膜晶体管特性测试，如图I所示，采用三个运动轴的马达驱动三个接触头(每个接触头包括至少一个探针)分别对栅线、数据线和像素电极进行对位接触，从而进行测试。在每次测试一个指定像素的薄膜晶体管特性时，需要三个接触头分别移动到位。使得薄膜晶体管特性测试过程复杂。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种晶体管特性测试结构，使得薄膜晶体管特性测试更加简便。为解决上述技术问题，本专利技术的实施例采用如下技术方案一种晶体管特性测试结构，包括用于阵列检测的连接单元；多个晶体管测试导体垫片；所述多个晶体管测试导体垫片包括晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片;所述晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片通过所述连接单元分别连接于栅线和数据线。所述连接单元包括多个阵列检测导体垫片；所述多个阵列检测导体垫片分别连接于栅线和数据线；所述多个晶体管测试导体垫片连接于所述多个阵列检测导体垫片。所述晶体管栅极导体垫片包括第一导体垫片和第二导体垫片；所述晶体管源极导体垫片包括第三导体垫片和第四导体垫片；所述多个阵列检测导体垫片包括多个阵列栅极导体垫片和多个阵列源极导体垫片;所述多个阵列栅极导体垫片连接于多根栅线；所述多个阵列源极导体垫片连接于多根数据线；所述第一导体垫片或/和第二导体垫片通过所述多个阵列栅极导体垫片连接于栅线；所述第三导体垫片或/和第四导体垫片通过所述多个阵列源极导体垫片连接于数据线。所述多个阵列栅极导体垫片为两个阵列栅极导体垫片；所述两个阵列栅极导体垫片分别连接于奇数栅线和偶数栅线；所述第一导体垫片和第二导体垫片分别连接于所述两个阵列栅极导体垫片。所述多个阵列源极导体垫片为两个阵列源极导体垫片；所述两个阵列源极导体垫片分别连接于奇数数据线和偶数数据线；所述第三导体垫片和第四导体垫片分别连接于所述两个阵列源极导体垫片。多个源极测试信号开关管或多个栅极测试信号开关管；所述多个源极测试信号开关管的漏极分别连接于所述多个阵列源极导体垫片； 所述多个栅极测试信号开关管的漏极分别连接于所述多个阵列栅极导体垫片。所述第一导体垫片连接于所述多个栅极测试信号开关管的源极；所述第二导体垫片连接于所述多个栅极测试信号开关管的栅极；所述第三导体垫片连接于所述多个源极测试信号开关管的源极；所说第四导体垫片连接于所述多个源极测试信号开关管的栅极。多个源极测试信号开关管和多个栅极测试信号开关管；所述第一导体垫片连接于所述多个栅极测试信号开关管的源极；所述第二导体垫片连接于所述多个栅极测试信号开关管的栅极；所述第三导体垫片连接于所述多个源极测试信号开关管的源极；所说第四导体垫片连接于所述多个源极测试信号开关管的栅极。所述测试结构还包括模拟测试晶体管；所述第三导体垫片连接于所述模拟测试晶体管的栅极；所述第二导体垫片和第四导体垫片分别连接于所述模拟测试晶体管的源极和漏极；所述第二导体垫片连接于所述多个栅极测试信号开关管的源极；所述第四导体垫片连接于所述多个源极测试信号开关管的源极；所述第一导体垫片连接于多个所述源极测试信号开关管和栅极测试信号开关管的栅极。本专利技术实施例还相应提供一种晶体管特性测试方法，该方法采用上述任一种晶体管特性测试结构，并将多个探针与所述多个晶体管测试导体垫片接触，并通过所述连接单元为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头的探针与像素中的薄膜晶体管的漏极或像素电极接触，实现晶体管特性测试。将一个包括四个探针的接触头与所述第一导体垫片，第二导体垫片、第三导体垫片和第四导体垫片分别接触，所述四个导体垫片通过所对应接触的四个探针分别输入测试信号，并通过所述连接单元为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头的探针与像素中的薄膜晶体管的漏极或像素电极接触，实现晶体管特性测试。在具有模拟测试晶体管的结构中进行像素中的晶体管特性测试时，将一个包括四个探针的接触头，其中三个探针分别与所述第一导体垫片，第二导体垫片、和第四导体垫片接触，所述第一导体垫片，第二导体垫片和第四导体垫片通过所对应接触的探针输入测试信号，并通过所述连接单元为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头的探针与像素中的薄膜晶体管的漏极或像素电极接触，实现晶体管特性测试。在测试像素中的晶体管进行之前对模拟测试晶体管进行测试，将一个包括四个探针的接触头，其中两个探针分别与所述第二导体垫片、第三导体垫片接触，所述第二导体垫片，第三导体垫片通过所对应接触的探针输入测试信号，另外使用一个接触头的探针与第四导体垫片接触，实现模拟测试晶体管测试。本专利技术实施例的提供的晶体管特性测试结构和方法，在晶体管特性测试时，使用一个接触头上的多个探针与多个晶体管测试导体垫片接触，从而通过连接单元为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头与实际像素中的薄膜晶体管漏极或像素电极接触，实现晶体管特性测试。由于通过晶体管测试导体垫片和连接单元与栅线和数据线连接，因此可以同时向所有的栅线和数据线提供测试信号，从而无需再每次测试一个指定像素的薄膜晶体管特性时都分别移动三个接触头，只需移动一个接触头即可，从而使得薄膜晶体管特性测试更加简便。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为现有技术中薄膜晶体管特性测试的示意图；图2为本专利技术实施例中一种晶体管特性测试结构的示意图；图3为本专利技术实施例中另一种晶体管特性测试结构的示意图；图4为本专利技术实施例中另一种晶体管特性测试结构的示意图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图2所示，本专利技术实施例提供了一种晶体管特性测试结构，包括用于阵列检测的连接单元I ;多个晶体管测试导体垫片2 ;多个晶体管测试导体垫片2包括晶体管栅极导体垫片2a和晶体管源极导体垫片2b ;晶体管栅极导体垫片2a和晶体管源极导体垫片2b通过连接单元I连接于栅线和数据线，栅线和数据线相互垂直，并限制了像素区域5。显示器中面板的检测包括阵列检测和晶体管特性测试。具体地，连接单元I可以包括单独的信号连接线，使晶体管栅极导体垫片2a和晶体管源极导体垫片2b通过连接单元I的信号连接线连接于栅线和数据线；连接单元I与面板中的栅线和数据线分别进行连接，从而使用较少的总线对面板内所有像素进行充放电，以实现阵列检测。在晶体管特性测试时，使用一个接触头上的多个探针分别与多个晶体管测试导体垫片2接触，从而通过连接单元I为栅线和数据线提供测试信号的输入，另外使用一个接触头与面板中的像素电极接触，实现晶体管特性测试。本专利技术提供的晶体管特性测试结构，由于通过晶体管测试导体垫片和连接单元与栅线和数据线连接，因此可以同时向所有的栅线和数据线提供测试信号，从而无需再每次本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体管特性测试结构，其特征在于，包括：用于阵列检测的连接单元；多个晶体管测试导体垫片；所述多个晶体管测试导体垫片包括晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片；所述晶体管栅极导体垫片和晶体管源极导体垫片通过所述连接单元分别连接于栅线和数据线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏振，郭世波，张小松，陈庆友，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：