一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其中样品仓组件组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。本实用新型专利技术可以对置于在较大空间内的物品进行全方位的测定分析，测量时间短，准确度高，对安检、在线质量监控等领域的检测特别适用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于分析仪器领域，涉及一种新式X射线荧光光谱仪，具体涉及多探测器及多光管设计的针对大体积样品进行检测的X射线荧光光谱仪。技术背景X射线荧光光谱分析方法作为物质组成分析的必备方法之一，已经广泛应用于地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业、医药卫生、环境保护等领域的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。随着技术水平的不断提高，X射线荧光光谱仪正在向自动化、智能化、专业化等方向发展。现有的X射线荧光光谱仪，通常设计一个样品台，将待检样品置于台上进行检测， 只能针对体积较小的样品如电子元件、土壤、矿样、小型金属样品等进行检测，很难应用于体积较大且结构复杂的物品中低含量元素的测定分析，例如包裹、行李等
技术实现思路
针对上述问题，本技术的主要目的在于提供一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，能够对体积较大且结构复杂的物品中某些特定元素进行定性及定量分析。为达到上述目的，本技术所提供的一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其中所述样品仓组件，组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；所述X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；所述探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。所述多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，X光管组件设两个，安装在仓体两相对侧面对位照射。多个探测器组件分布位于仓体另外的侧面。探测器组件为2 20个，均布位于所述仓体侧面或集中密布于所述仓体侧面中间区域。外壳组件包括外壳及内部固定架，外壳上设电池仓、数据传输孔、工作指不灯和风扇。样品仓组件还包括一光电开关，光电开关装设在仓体两侧壁的最上端。X光管组件还包括高压电源、风扇和光管固定架。探测器组件还包括防护罩、探测器固定架、用于保护探测器探头的探测器保护套和出线口。滤光系统组件包括光栏、一次滤光片和二次滤光片，光栏与探测器保护套固定，二次滤光片置于探测器的探测头前端，一次滤光片置于X光管的出射口前端。高压电源、蓄电池、X光管、探测器、风扇、光电开关、工作指示灯电连接，从各探测器出线口引出的数据线汇集在数据传输孔中向外置计算机中输送。采用上述技术方案，样品仓的设计可以用于容纳大体积样品，组配装设多光管及多探测器可以对置于在较大空间内的物品进行全方位的测定分析。使用本技术，测量时间短，准确度高，经验证，该X射线荧光光谱仪对大尺寸行包IOOg或以上爆炸物的漏报率在0.5%以内，对小尺寸包裹，放于最佳位置(探测器探头正对位置)可以检测出内含15g以上炸药。本技术对安检、在线质量监控等领域的检测特别适用。附图说明图I是本技术外观结构示意图图2是本技术内部各组件布置图(不含外壳和仓门)图3示出本技术中一次滤光片安装位置图4显示本技术中探测器组件及滤光系统组件结构图 具体实施方式为了详细说明本技术的结构、特点及功效，现举以下较佳实施例并配合附图说明如下。如图I和图2所示，本技术提供的多探测器及多光管设计的X射线荧光光谱仪包括外壳组件10，样品仓组件20，X光管组件30和探测器组件40和滤光系统组件51-53(参见图3和图4)。如图I所示，外壳组件10包括一呈箱状的外壳以及置于其中的固定架(图中未显示)，外壳上设有电池仓11，数据传输孔12，工作指示灯13和风扇14;设备可外接电源工作或必要时在电池仓11放置蓄电池提供电源，数据传输孔12进行探测数据与外置计算机之间的传输，风扇14散热，工作指示灯13提示仪器是否正在工作。外壳内的固定架与外壳固定，用于安装固定其它组件。如图I和图2所示，样品仓组件20包括仓体21，仓门22和光电开关23，仓体21上开口，具有一容置空间用于放置待检测物品，仓门22装设在仓体21的上开口位置，可通过滑轨实施对仓体21的启闭，光电开关23装设在仓体21两侧壁的最上端。物品放于仓体21后，关闭仓门22，触碰光电开关23，检测仓门是否关闭，仓门22有特殊防护，可有效防止射线外泄。如图2所示，X光管组件30包括X光管31，高压电源32，风扇33和光管固定架34。X光管31提供射线源，高压电源32提供电力输出，风扇33进行散热。本技术中包括至少两个X光管组件，两个X光管31安装在仓体I两侧且X光出射端朝向仓体21的容置空间并对位照射；使用两个以上的X光管组件时，可按照测量对象对光路的要求对仓体21内进行多面照射。使用多个X光管用于增强样品仓内的源级射线强度。如图2至图4所示，探测器组件40包括探测器41，防护罩42，探测器固定架43，探测器保护套44和出线口 45。探测器41为主要探测装置，用已有的探测器，其前端具有一圆柱状的探测头，防护罩42设于探测器41外用以防止射线外泄，探测器固定架43用以固定探测器41，并且允许探测器41在一定范围内调整位置，探测器保护套44设于探测器的探测头外以保护探测器探头不受外界干扰以及防止碰撞，出线口 45用于穿过电源线和数据线等。本专利技术中包括多个(可以是2、3、4个或更多个，本实施例图2显示为8个)探测器组件，探测器组件数量与样品仓尺寸有关，更多探测器组件会增强检测灵敏度，因此对其数量上限本专利技术不做限定，但过多探测器组件可能会不经济，因此探测器组件推荐使用2 20个，这些探测器组件安装在仓体I未设X光管的两侧面，可以均布，也可以在样品仓中部位置较为密集地布设，或按照被测量物品的几何尺寸及形状排列，所有探测器的探测头朝向仓体I的容置空间，充分利用探测器的最佳探测区域，可同时探测样品仓内所有区域。如图3和图4所示，滤光系统组件包括光栏51，一次滤光片52和二次滤光片53。光栏51与探测器保护套44固定，有效去除散射背景，探测器41的探测头前端放置二次滤光片53，光栏51和二次滤光片53的数量与探测器组件40的数量相等；一次滤光片52放置在X光管31的出射口前端(参见图3)，一次滤光片52的数量与X光管组件30的数量相坐 寸o样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件按上述介绍组装后(参见图2)再固定在外壳组件内，则形成本技术多探测器及多光管设计的X射线荧光光谱仪(参见图I)。该仪器中，高压电源、蓄电池、X光管、探测器、风扇、光电开关、工作指示灯等电器件均以常规方式连接，从各探测器出线口引出的数据线汇集在数据传输孔中向外置计算机中输送。由上述说明可知，本技术将复杂的构件进行组合模块化设计，可便于安装和维修。另外，样品仓组件20以及多个X光管组件30、多个探测器组件40的相应设计，使本技术仪器能用于大体积样品的检测。工作时，待测样品放置于样品仓组件20的仓体21中，关闭仓门22，仓门22触碰光电开关23，信息反馈给X光管组件30的X光管31，高压电源32升管流管压，X光管31放出射线，并且工作指示灯13亮起。射线经过一次滤光片52、待测样品(包裹、行李等)、二次滤光片53进入探测器组件40的探测器41，探测结果通过数据传输孔12传输给外置计算机进行分析判断。检测实例采用上述设计的X射线荧光光谱仪，本实例中的样品仓尺寸为40本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其特征在于：所述样品仓组件，组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；所述X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；所述探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨李锋，张峰，刘铎，
申请(专利权)人：纳优科技北京有限公司，
类型：实用新型
国别省市：