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一种薄膜晶体管的结构制造技术

技术编号:7965668 阅读:171 留言:0更新日期:2012-11-09 08:19
本实用新型专利技术的薄膜晶体管结构,自下而上依次有栅极、绝缘层、有源层、在有源层上覆盖有相隔的源电极和漏电极,栅极为“n”型形状,器件沟道的宽度等于“n”型底边的边宽,沟道处源电极和漏电极的宽度大于“n”型底边的宽度,器件沟道的长度等于源电极和漏电极之间相隔的距离。本实用新型专利技术的薄膜晶体管结构,由于采用“n”型形状的栅极,由“n”型底边的边宽来界定器件沟道的宽度,栅极和源、漏电极图案通过两步光刻完成,克服了由光刻源、漏电极图案同时控制沟道长度和宽度的工艺难度,有利于提高器件成品率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种薄膜晶体管的结构
技术介绍
薄膜晶体管技术已是现今平板显示的主导技术。在平板显示器件中引入薄膜晶体管(TFT)开关元件和存贮电容,可大大提高显示器件性能,实现大容量、高清晰度和全彩色的视频显示。目前,应用于显示器中的薄膜晶体管自下而上依次有栅极、绝缘层、有源层、在有源层上覆盖相隔的源电极和漏电极,栅极均为矩形平面(如图1),薄膜晶体管沟道的长度L是通过源电极和漏电极之间相隔的距离来界定,沟道的宽度W是通过器件沟道处源电极 或漏电极的宽度来界定的。源、漏电极图形是通过一歩光刻エ艺来实现的,即沟道的长度和宽度也是通过这ー步光刻エ艺来确定的,随着人们对显示器分辨率要求的提高,薄膜晶体管的集成度要求相应提高,器件尺寸包括其沟道的长度和宽度也要求成比例縮小,然而通过光刻源、漏电极图形来控制沟道长度和宽度同时成比例縮小,将增加光刻エ艺的难度,一旦这步エ艺出现问题,将严重影响器件的成品率。
技术实现思路
本技术的目的是提供ー种有利于提高器件成品率的薄膜晶体管结构。本技术的薄膜晶体管结构,自下而上依次有栅极、绝缘层、有源层、在有源层上覆盖有相隔的源电极和漏电极,器件沟道的长度等于源电极和漏电极之间相隔的距离,栅极为“n”型形状,器件沟道的宽度等于“n”型底边的边宽,沟道处源电极和漏电极的宽度大于“n”型底边的宽度。本技术的薄膜晶体管结构,由于采用“n”型形状的栅极,由“n”型底边的边宽来界定器件沟道的宽度,栅极和源、漏电极图案通过两步光刻完成,克服了由光刻源、漏电极图案同时控制沟道长度和宽度的エ艺难度,有利于提高器件成品率。附图说明图I为传统薄膜晶体管的结构俯视图;图2本技术的薄膜晶体管的结构俯视图;图3为图2的A-A剖面图。图中,I为栅极。2为绝缘层,3为有源层,4为源极,5为漏极,L为沟道长度,W为沟道宽度。具体实施方式以下结合附图进ー步说明本技术。參照图2和图3,本技术的薄膜晶体管的结构,自下而上依次有栅极I、绝缘层2、有源层3、在有源层3上覆盖有相隔的源电极4和漏电极5,栅极I为“n”型形状,器件沟道的宽度W等于“n”型底边的边宽,即器件沟道的宽度W由“n”型底边的边宽来界定,沟道处源电极4和漏电极5的宽度大于“n”型底边的宽度,器件沟道的长度L等于源电极4和 漏电极5之间相隔的距离,即器件沟道的长度L由源电极4和漏电极5之间距离来界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜晶体管的结构,自下而上依次有栅极(1)、绝缘层(2)、有源层(3)、在有源层(3)上覆盖有相隔的源电极(4)和漏电极(5),器件沟道的长度(L)等于源电极(4)和漏电极(5)之间相隔的距离,其特征在于栅极(1)为“n”型形状,器件沟道的宽度(W)等于“n”型底边的边宽,沟道处源电极(4)和漏电极(5)的宽度大于“n”型底边的宽度。

【技术特征摘要】
1. 一种薄膜晶体管的结构,自下而上依次有栅极(I)、绝缘层(2)、有源层(3)、在有源层(3)上覆盖有相隔的源电极(4)和漏电极(5),器件沟道的长度(L)等于源电极(4...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕建国张杰李喜峰叶志镇张焱吴萍
申请(专利权)人:浙江大学
类型:实用新型
国别省市:

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