一种检测内花键盲齿位置度的验具制造技术

一种检测内花键盲齿位置度的验具，用于解决花键盲齿位置度检测问题。技术方案是：它包括基底板和测量块，所述基底板上设有插销轴和定位轴，定位轴上设有键槽；所述测量块与键槽匹配插合，测量块一端为对称设置的测量齿，测量块上部设有操作手柄。本实用新型专利技术基底板的三个定位孔和一个连接螺纹孔可在立式加工中心一次装夹即可完成，制作工艺简单、位置精确度高、可靠性好；测量块对称设置测量齿，测量块中心由定位轴键槽中心线确定，可以准确测量花键孔盲齿位置度；测量时只需将测量块插在定位轴的键槽上，沿键槽轴向往下运动，若测量齿通过，判定工件合格，测量齿不通过，判定工件不合格，测量操作简单易行，可靠性好。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种工件检具，特别是用于检测内花键盲齿工件位置度的验具。
技术介绍
与带有盲齿的花键轴零件配合的花键孔零件，也需设有相匹配的盲齿。通常花键轴在拉床加工，花键孔和其它轴孔在立式加工中心来完成。目前，检测带有盲齿的花键孔工件位置度的方式有两种，I.中心定位轴采用装配用花键轴代替，盲齿角度基准根据花键轴双齿中心和工件标准样件计算，再计算确定第二基准位置，该测量方法因花键轴和花键孔之间间隙大，检测结果可靠性低；2.在中心定位轴上盲齿对应位置制作键槽，测量齿根据花键尺寸设计，在底板上用限位块限制旋转定盲齿角度，该方法验具设计和制造成本高，受人为因素影响过多。
技术实现思路
本技术用于克服上述已有技术之缺陷而提供一种检测简单易行、可靠性高、制造方便的检测内花键盲齿位置度的验具。本技术所称问题是以下技术方案解决的一种检测内花键盲齿位置度的验具，特别之处是它包括基底板和测量块，所述基底板上设有插销轴和定位轴，定位轴上设有键槽；所述测量块与键槽匹配插合，测量块一端为对称设置的测量齿，测量块上部设有操作手柄。上述检测内花键盲齿位置度的验具，定位轴中部设有限位台，所述基底板设有与定位轴匹配的定位轴孔，定位轴孔下部设有螺钉孔和定位销孔，上述两孔内分别设有螺钉和定位销，定位销与键槽下部匹配插合，定位轴经螺钉与基底板固定。上述检测内花键盲齿位置度的验具，所述基底板上还设有衬套孔，所述衬套孔内设有衬套，所述插销轴与衬套匹配插合。上述检测内花键盲齿位置度的验具，所述操作手柄与测量块螺接。本技术针对内花键盲齿位置度的验具制作成本高、检测可靠性低的问题进行了改进，其主要特点如下1.基底板的三个定位孔和一个连接螺纹孔可在立式加工中心一次装夹即可完成，制作工艺简单、位置精确度高、可靠性好；2.设有测量块，测量块上设有测量齿，测量齿的对称测量面模拟被测工件花键孔盲齿部分设计，测量块中心由定位轴键槽中心线确定，可以准确测量花键孔盲齿位置度；3.测量时只需将测量块插在定位轴的键槽上，沿键槽轴向往下运动，若测量齿通过，判定工件合格，测量齿不通过，判定工件不合格，测量操作简单易行，可靠性好。附图说明图I是本技术结构示意图；图2是图I的俯视图；图3是图2A处局部放大视图；图4是定位轴结构示意图；图5是图4的俯视图；图6是测量块结构示意图；图7是图6的俯视图。附图中标号表示如下1.基底板；2.衬套；3.插销轴；4.エ件；5.定位轴；5-1.键槽；5-2 ;限位台；6.定位轴孔；7.测量块；7-1.测量齿；7-2.操作手柄；8.定位销；9.定位销孔；10.螺钉；11.螺钉孔；12.衬套孔。具体实施方式參看图I、图2，本技术包括基底板I和测量块7。基底板I上设有对被测エ件4定位的插销轴3和定位轴4，被测エ件4的两个孔中分别由插销轴、定位轴插入，其中，插销轴和基底板中设有衬套2，衬套位于设置在基底板上的衬套孔12中，插销轴3与衬套匹配插合。被测エ件右侧的孔为设有盲齿的花键孔。參看图I、图2、图4、图5，定位轴5设有用于检测及定位的贯通设置的键槽5-1，键槽中心与被测エ件盲齿中心位置对应。定位轴中部设有限位台5-2 ;基底板上设有与定位轴匹配插合的定位轴孔6，定位轴孔下部设有螺钉孔11和定位销孔9，螺钉孔11、定位销孔9内分别设有螺钉10和定位销8，定位销与键槽5-1下部匹配插合，以起到对定位轴周向定位的作用，定位轴5经螺钉10与基底板形成固定连接。參看图I、图6、图7，测量块7的两侧面与键槽5-1匹配插合，测量块的一端(右侧端)为对称设置的测量齿7-1，測量齿的轮廓模拟被测エ件的盲齿。为便于測量操作，在测量块上部设有操作手柄7-2，操作手柄与測量块螺接。參看图1-3，本技术测量过程如下将被测エ件4穿过定位轴5置放在基底板I上,将插销轴3经エ件的另一孔插入衬套2内，将测量块7插入定位轴的键槽5-1内，测量齿7-1对准エ件被测部位，沿定位轴轴向向下移动测量齿，若测量齿通过，判定エ件合格，测量齿不通过，判定エ件不合格。权利要求1.一种检测内花键盲齿位置度的验具，其特征在于它包括基底板(I)和测量块(7)，所述基底板上设有插销轴(3)和定位轴(5)，定位轴上设有键槽(5-1);所述测量块(7)与键槽匹配插合，测量块一端为对称设置的测量齿(7-1)，测量块上部设有操作手柄(7-2)。2.根据权利要求I所述的检测内花键盲齿位置度的验具，其特征在于定位轴中部设有限位台(5-2)，所述基底板设有与定位轴匹配的定位轴孔(6)，定位轴孔下部设有螺钉孔(11)和定位销孔(9)，上述两孔内分别设有螺钉(10)和定位销(8)，定位销与键槽(5-1)下部匹配插合，定位轴经螺钉与基底板固定。3.根据权利要求2所述的检测内花键盲齿位置度的验具，其特征在于所述基底板(I)上还设有衬套孔(12 )，所述衬套孔内设有衬套(2 )，所述插销轴(3 )与衬套匹配插合。4.根据权利要求I或2或3所述的检测内花键盲齿位置度的验具，其特征在于所述操作手柄(7-2 )与测量块(7 )螺接。专利摘要一种检测内花键盲齿位置度的验具，用于解决花键盲齿位置度检测问题。技术方案是它包括基底板和测量块，所述基底板上设有插销轴和定位轴，定位轴上设有键槽；所述测量块与键槽匹配插合，测量块一端为对称设置的测量齿，测量块上部设有操作手柄。本技术基底板的三个定位孔和一个连接螺纹孔可在立式加工中心一次装夹即可完成，制作工艺简单、位置精确度高、可靠性好；测量块对称设置测量齿，测量块中心由定位轴键槽中心线确定，可以准确测量花键孔盲齿位置度；测量时只需将测量块插在定位轴的键槽上，沿键槽轴向往下运动，若测量齿通过，判定工件合格，测量齿不通过，判定工件不合格，测量操作简单易行，可靠性好。文档编号G01B5/00GK202522166SQ20122011181公开日2012年11月7日 申请日期2012年3月23日 优先权日2012年3月23日专利技术者侯彦伟, 马海亮 申请人:凌云工业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测内花键盲齿位置度的验具，其特征在于：它包括基底板（1）和测量块（7），所述基底板上设有插销轴（3）和定位轴（5），定位轴上设有键槽（5？1）；所述测量块（7）与键槽匹配插合，测量块一端为对称设置的测量齿（7？1），测量块上部设有操作手柄（7？2）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：侯彦伟，马海亮，
申请(专利权)人：凌云工业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：