记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒技术

本发明专利技术提供一种记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒。成像盒的芯片包括基板和设置在基板上的信息存储单元和控制单元，信息存储单元包括优先写入区域和常规读写区域，记录芯片使用状态信息的方法包括：当芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制单元监控到通信干扰信号时，芯片上的控制单元更新优先写入区域中存储的芯片使用状态参数值，芯片使用状态参数值用于对芯片进行故障分析。成像盒包括上述成像盒的芯片。所记录的芯片使用状态参数值可以反映芯片本身的使用状态信息，为发现和解决芯片与成像装置之间的通信问题提供有力的资料。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及成像技木，尤其涉及ー种记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒。
技术介绍
随着成像技术的发展，诸如复印机、打印机、传真机、文字处理机等成像装置已广泛被应用。成像装置中都设置有方便用户更换的成像盒等耗材，其中成像盒上通常都设置有芯片，芯片内记录着成像盒内存储记录材料的种类、成像盒制造日、成像页数、记录材料剰余量等信息。在成像盒使用过程中，成像装置需要不断更新成像盒上芯片内的数据，以使得芯片内始终记录着成像盒的最新状态。因此成像盒上的芯片就显得尤为重要，如果成像 盒在使用过程中芯片出现了问题，那么整个成像盒都无法继续使用。为了保证成像盒能够正常使用，对芯片的性能要求就非常高。虽然现在通过提高芯片的エ艺、采用新技术等途径，使得芯片的性能有极大的提高。但在实际使用中，仍会有一些芯片出现异常，导致成像盒不可用。为了便于生产商查找成像盒质量问题，现有的一种成像盒芯片可以记录与成像盒相关的温度、湿度、打印页数、开关打印机次数、是否重新安装过成像盒、安装次数、适用区域、生产商信息等參数，生产商可以通过采集芯片中的信息查找成像盒质量问题。然而，上述状态參数仅能够反映成像盒的使用状态，并没有记录芯片本身的使用状态。若芯片本身出现问题同样导致成像盒不可用。现有技术中在芯片中记录的上述參数无法对芯片进行故障分析。
技术实现思路
针对现有技术的上述缺陷，本专利技术提供ー种记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒。能够为发现和解决芯片与成像装置之间的通信问题提供有力的资料。本专利技术提供ー种记录芯片使用状态信息的方法，芯片包括基板和设置在基板上的信息存储单元和控制单元，信息存储单元包括优先写入区域。记录芯片使用状态信息的方法包括当芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制单元监控到通信干扰信号吋，芯片上的控制单元更新优先写入区域中存储的芯片使用状态參数值，芯片使用状态參数值用于对芯片进行故障分析。本专利技术还提供了ー种成像盒的芯片，包括基板和设置在基板上的信息存储单元和控制单元，信息存储单元包括优先写入区域，优先写入区域用于存储芯片使用状态參数值，控制単元用于在芯片接收到成像装置的读/写操作命令或接收到通信干扰信号吋，更新优先写入区中存储的芯片使用状态參数值，所述芯片使用状态參数值用于对芯片进行故障分析。本专利技术还提供了ー种成像盒，包括上述成像盒的芯片。本专利技术提供的记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒，芯片信息存储单元中设置有优先写入区域，优先写入区上记录的芯片使用状态參数值可以反映芯片本身的使用状态信息，为发现和解决芯片与成像装置之间的通信问题提供有力的资料，进而利于查找成像盒及芯片出现故障的原因。附图说明图I为本专利技术第一实施例中记录芯片使用状态信息的方法流程图；图2为本专利技术实施例中成像盒的芯片的组成示意图；图3为本专利技术第一实施例中成像盒的芯片信息存储单元数据排列示意图；图4为本专利技术第二实施例中记录芯片使用状态信息的方法流程图；图5为本专利技术第二实施例中成像盒的芯片信息存储单元数据排列示意图； 图6为本专利技术第三实施例中记录芯片使用状态信息的方法流程图；图7为本专利技术第三实施例中成像盒的芯片信息存储单元数据排列示意图；图8为本专利技术第四实施例中记录芯片使用状态信息的方法流程图；图9为本专利技术第四实施例中成像盒的芯片信息存储单元数据排列示意图。具体实施例方式图I为本专利技术第一实施例中记录芯片使用状态信息的方法流程图，芯片包括基板和设置在基板上的信息存储单元和控制单元，信息存储单元包括优先写入区域和常规读写区域，如图I所示，该方法包括步骤101、芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制单元监控到通信干扰信号；步骤102、芯片上的控制单元更新优先写入区域中存储的芯片使用状态參数值；上述芯片使用状态參数值用于对芯片进行故障分析。在执行上述步骤102后，芯片上的控制单元还可以更新常规读写区域中各存储区域内记录的数据。成像盒为成像装置上的组件，其中成像盒安装到成像装置上，成像盒上安装有成像盒的芯片。图2为本专利技术实施例中成像盒的芯片的组成示意图，图3为本专利技术第一实施例中成像盒的芯片信息存储单元数据排列示意图，如图2和图3所示，本实施例中成像盒的芯片包括基板和设置在基板上的信息存储单元10和控制单元20，信息存储单元10包括优先写入区域11，进ー步的该信息存储单元10还包括常规读写区域12，优先写入区域11用于存储芯片的芯片使用状态參数值，其初始值为O。常规读写区域中的各存储区域中分别存储着成像盒安装次数、记录材料剰余量数据、打印页数等在打印操作会变化的成像盒状态信息，和成像盒开封时间、生产日期、序列号等不随打印操作变化的成像盒识别数据。在本实施例中，常规读写区域12中第一存储区域121用于存储成像盒安装次数的数据，第二存储区域122、第三存储区123分别用于存储第一记录材料剰余量数据和第二记录材料剰余量数据。常规读写区域12中存储的数据供成像装置进行常规的读写操作。所述常规的读写操作具体指成像装置读取信息存储单元10中的成像盒型号、记录材料顔色、成像盒生产日期等成像盒识别数据，及记录材料剰余量、打印页数等成像盒状态信息；及成像装置将新的记录材料剰余量、打印页数等成像盒状态数据写入到信息存储单元10中，更新所述成像盒状态信息。控制单元20用于在芯片接收到成像装置的读/写操作命令或接收到通信干扰信号时，更新优先写入区11中存储的芯片使用状态參数值，该芯片使用状态參数值用于对芯片进行故障分析。如图I至图3所示，当芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制単元20监控到通信干扰信号吋，控制单元20首先指向存储区域111的地址，优先写入区域11被访问，更新优先写入区域11中存储的芯片使用状态參数值，具体为芯片使用状态參数值加一，接着控制单元20还可以指向存储区域121的地址，常规读写区域12被访问，成像装置更新常规读写区域12中相应存储区域的数据。本实施例提供的成像盒的芯片、成像盒及记录芯片使用状态信息的方法可通过优先写入区11上记录的芯片使用状态參数值来反映芯片本身的使用状态信息，而且由于芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或芯片上的控制单元20监控到通信干扰信号吋，控制单元20会首先指向存储区域111的地址，优先写入区域11被访问，更新优先写入区域 11中存储的芯片使用状态參数值，所以成像装置对芯片是否操作成功不会影响该使用状态信息发挥其应有的作用，为发现和解决芯片与成像装置之间的通信问题提供有力的资料，有利于查找芯片出现故障的原因。在图I或图3所述实施例的基础上，本专利技术提供的记录芯片使用状态信息的方法或成像盒的芯片中所述芯片使用状态參数值可包括写入次数參数值、正常通信參数值、读取次数參数值、通讯故障次数參数值、通信干扰次数參数值中的ー种或几种。成像盒的芯片的工作环境、使用者的误操作、芯片读写寿命用尽及芯片自身故障等，都可能导致芯片出现异常。若成像盒的芯片使用次数不多就出现了异常，那么很大程度上是由芯片本身的性能问题造成的；而如果成像盒的芯片已经被读写多次，出现故障的原因则可能是芯片的正常寿命将尽。当成像盒的芯片出现异常时，通过读取成像盒的芯片内信息存储单元中优先写入区域中的芯片使用状态本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种记录芯片使用状态信息的方法，所述芯片包括基板和设置在所述基板上的信息存储单元和控制单元，所述信息存储单元包括优先写入区域，其特征在于，所述方法包括：当所述芯片接收到成像装置发送的读/写操作命令或所述芯片上的控制单元监控到通信干扰信号时，所述芯片上的控制单元更新所述优先写入区域中存储的芯片使用状态参数值，所述芯片使用状态参数值用于对芯片进行故障分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘卫臣，
申请(专利权)人：珠海艾派克微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：