本实用新型专利技术适用于电子技术领域,提供了一种功率型负温度系数热敏电阻器及电子装置,所述功率型负温度系数热敏电阻器包括左端电极以及与所述左端电极相对的右端电极,所述左端电极与右端电极间依次叠置有下盖、多片热敏电阻膜片及上盖。本实用新型专利技术采用叠层片式结构,具有相同稳态电流的叠层片式热敏电阻器面积较插装电阻器小60%以上,可以大大节省整机面积;实现PCB两面贴装,避免穿孔,方便布线;SMD结构,适合高密度表面贴装。另外,本叠层片式热敏电阻器高度不及插装电阻器高度的1/5,有利于电子装置轻薄化。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子
,尤其涉及ー种功率型负温度系数热敏电阻器及电子装置。
技术介绍
随着通讯、电脑以及其周边产品和家用电器不断向 片式化、小型化和数字化方向发展,对元器件的片式化、小型化的要求愈来愈迫切。近年来表面贴装技术(SMT)迅速崛起,传统的插装电路逐步被SMT电路替代,绝大部分带引线的电子元器件均已片式化。在电子电路电源部分(LED驱动板,荧光灯换流器,加热器等),开机的瞬间会产生ー个比正常工作电流高出百倍的浪涌电流。功率型负温度系数热敏电阻器(简称PNTC)在常温下阻值较大,可以抑制开机瞬间的浪涌电流,并且在完成抑制浪涌电流作用以后,随着热敏电阻器本体温度升高,其电阻值将下降到非常小的程度,消耗的功率可以忽略不计,从而保证线路的正常工作。例如,常温下,在开机电路中串接10 Q PNTC时,开机浪涌电流为I=220X1.414/(1+10) =28 (A),比未使用 PNTC 时的 31IA (1=220 X I. 414/1=311 (A))降低了 10 多倍,有效地抑制了浪涌电流。开机后,由于PNTC迅速发热、温度升高,其电阻值会在毫秒级的时间内迅速下降到一个很小的级别,一般只有零点几欧的大小,相对于传统的固定阻值限流电阻而言,这意味着电阻上的功耗因为阻值的下降随之降低了几十到上百倍,因此这种设计非常适合对转换效率和节能有较高要求的产品,如开关电源。断电后,PNTC随着自身的冷却,电阻值会逐渐恢复到标称零功率电阻值,恢复时间需要几十秒到几分钟不等。下一次启动时,又按上述过程循环。传统的功率型热敏电阻采用插件引脚型结构,产品直径体积大、尺寸高、质量重,不利于整机小型化、轻薄化;人工组装成本高,组装效率低,不利于大规模エ业化生产;材料电阻率及热敏感指数低,意味着最大电流时近似电阻较大。
技术实现思路
本技术实施例的目的在于提供ー种功率型负温度系数热敏电阻器,g在解决现有热敏电阻器体积大的问题。本技术实施例是这样实现的,ー种功率型负温度系数热敏电阻器,包括左端电极以及与所述左端电极相対的右端电极,所述左端电极与右端电极间依次叠置有下盖、多片热敏电阻膜片及上盖。本技术实施例的另一目的在于提供电子装置,所述电子装置采用上述功率型负温度系数热敏电阻器。本技术实施例采用叠层片式结构,具有相同稳态电流的叠层片式热敏电阻器面积较插装电阻器小60%以上,可以大大节省整机面积;实现PCB两面贴装,避免穿孔,方便布线;SMD结构,适合高密度表面贴装。另外,本叠层片式热敏电阻器高度不及插装电阻器高度的1/5,有利于电子装置轻薄化。附图说明图I是本专利技术实施例提供的热敏电阻器的结构示意图(切ロ剖面);图2是本专利技术实施例提供的热敏电阻器的结构示意图(长轴剖面);图3是本专利技术实施例提供的热敏电阻器的等效电路原理图;图4是空白U旲片的结构不意图;图5是热敏电阻膜片的结构示意图;图6是本专利技术实施例提供的功率型负温度系数热敏电阻器的制造方法的实现流程图;图7是带切割线的膜片的结构示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一歩详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。本技术实施例采用叠层片式结构,具有相同稳态电流的叠层片式热敏电阻器面积较插装电阻器小60%以上,可以大大节省整机面积;实现PCB两面贴装,避免穿孔,方便布线;SMD结构,适合高密度表面贴装。另外,本叠层片式热敏电阻器高度不及插装电阻器高度的1/5,有利于电子装置轻薄化。下面结合具体实施例对本技术的实现进行详细描述。如图1、2所示,本技术实施例提供的功率型负温度系数热敏电阻器包括左端电极11以及与所述左端电极11相対的右端电极12,所述左端电极11与右端电极12间依次叠置有下盖13、多片热敏电阻膜片14及上盖15。因采用叠层片式结构,具有相同稳态电流的叠层片式热敏电阻器面积较插装电阻器小60%以上,可以大大节省整机面积;实现PCB两面贴装,避免穿孔,方便布线;SMD结构,适合高密度表面贴装。另外,本叠层片式热敏电阻器高度不及插装电阻器高度的1/5,有利于电子装置轻薄化。本技术实施例中所述上盖13和下盖15均由多片空白膜片10依次叠置而成,所述空白膜片10为掺有四氧化三钴、ニ氧化锰、氧化镍及三氧化ニ铝的热敏陶瓷膜片,如图4所示。因四氧化三钴、ニ氧化锰、氧化镍及三氧化为高电阻率、高B值材料,能有效降低本叠层片式热敏电阻器最大电流时近似电阻,提高最大稳态电流。此外,为降低烧结温度,保护热敏电阻膜片,还可将掺有玻璃体、三氧化ニ铋、四氧化三钴、ニ氧化锰、氧化镍及三氧化ニ铝的热敏陶瓷膜片作为空白膜片10。在此增掺了玻璃体和三氧化ニ铋,还有助于加强瓷体强度,其中所述玻璃体三氧化ニ铋(质量比)优选为1:2,所述玻璃体与三氧化ニ铋质量之和占热敏陶瓷粉料总质量比为5 15%。通常,所述热敏电阻膜片14为叠印有内电极16的空白膜片10,如图5所示。叠置时,使相邻热敏电阻膜片的内电极交错,其等效电路并联,如图3所示。这样有助于降低开机后本热敏电阻器的阻值,更加节能。本技术实施例在热敏电阻器除端电极外的其余瓷体上形成均匀致密、耐湿的防护层17,有效解决了产品在电镀过程中导致的扩散及性能变差的问题,使产品更易于进行电镀镍、锡处理,大大提高了产品焊接可靠性。当然,采用上述热敏电阻器的电子装置体积小,重量轻,功耗更小。图6示出了本技术实施例提供的功率型负温度系数热敏电阻器的制造方法的实现流程,详述如下。在步骤SlOl中,调配热敏陶瓷粉料,使所述热敏陶瓷粉料中四氧化三钴ニ氧化锰氧化镍三氧化ニ铝为30 60%:40 70%: 10 30%:5 20% (摩尔比);本技术实施例通过调配热敏陶瓷粉料,使所述热敏陶瓷粉料中Co3O4:MnO2:NiO:AL203 (摩尔比)为 30 60%:40 70%: 10 30%:5 20%。此配比的热敏陶瓷粉料为高电阻率、高B值材料,能有效降低所制叠层片式热敏电阻器最大电流时近似 电阻,提闻最大稳态电流。为降低热敏电阻単体的烧结温度,保护热敏电阻膜片,还可将玻璃体和三氧化ニ铋掺入上述热敏陶瓷粉料。此处增掺的玻璃体和三氧化ニ铋还有助于加强瓷体强度,其中所述玻璃体三氧化ニ秘(质量比)优选为1:2,所述玻璃体与三氧化ニ秘质量之和占热敏陶瓷粉料总质量比为5 15%。当然,上述热敏陶瓷粉料还包含ー些常用的组份,如SiO2坐寸o在步骤S102中,将调配好的热敏陶瓷粉料与粘合剂、溶剤、增塑剂、分散剂混合,并磨成浆料;本技术实施例将调配好的热敏陶瓷粉料与粘合剤、溶剤、增塑剂、分散剂混合,并球磨成粘度为50 1500Pa s的浆料。其中,所述热敏陶瓷粉料粘合剂溶剂增塑剂分散剂(质量比)为100: (5 20): (80 150): (5 20): (0. 5 4);所述粘合剂为聚こ烯醇缩丁醛树脂(B-7856);所述溶剂为醋酸正丙脂与异丁醇按重量比(50 90) : (20 50)配制的混合物;所述增塑剂为邻苯ニ甲酸ニ辛脂(DOP);所述分散剂为こニ酸ニ甲脂(DMH)。上述各组份均为外购,易本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种功率型负温度系数热敏电阻器,包括左端电极以及与所述左端电极相对的右端电极,其特征在于,所述左端电极与右端电极间依次叠置有下盖、多片热敏电阻膜片及上盖。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李耀坤,徐鹏飞,李建辉,朱建华,明剑华,陈英放,何金芝,
申请(专利权)人:深圳振华富电子有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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