本实用新型专利技术公开了一种IC料块回转式检测打标编带机的工位系统盘装置,包括均位于水平面内的第一和第二工位盘,第一工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个一级工位,第二工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个二级工位,一级工位包括作为起始工位的与上料装置的送料终点位置相对应的上料工位和作为终端工位的与编带装置的置入底带位置相对应的放入底带工位,以及位于上料工位与放入底带工位之间的打标取放工位;二级工位包括与激光打标器相对应的打标工位和所述打标取放工位,使第一和第二工位盘通过打标取放工位相交接。本实用新型专利技术的工位系统盘装置既可配合实现高效的回转式输送,又可满足与打标相关的各二级工位相对各一级工位对料块输送的不同要求。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及回转式检测打标编带机的工位系统盘装置,更准确地说,涉及一种为高速间歇回转输送过程中的料块提供取料、转向、检测、清洁、打标、剔除、编带放料等加工位置(以下简称工位)的一种工位系统盘装置。
技术介绍
对于块粒状芯片料块(简称料块)的打标和编带,有托盘式直线输送检测打标机和托盘式直线检测编带机等,这些需要打标或编带的料块要先排装在矩阵式托盘中,在对托盘输送过程中,由真空吸嘴不断从托盘中反复取放料块进行检测、打标或者编带。实践证明,无论直线式输送料条或是输送料块,其输送方式的生产效率都低于回转输送方式,但要在转盘带着料块高速间歇回转的过程中完成取料、转向、检测、清洁、打标、剔除、编带放料 等加工工序,就要有与转盘相对应的固装在工作台面上的工位系统盘装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种配合可将料块间歇式回转输送至下一工位上的取放料转盘模组装置使用的,可为高速间歇回转输送过程中的料块提供取料、转向、检测、清洁、打标、剔除、编带放料等加工位置的一种工位系统盘装置。本技术采用的技术方案为一种IC料块回转式检测打标编带机的工位系统盘装置,包括均位于水平面内的第一工位盘和第二工位盘,所述第一工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个一级工位,所述第二工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个二级工位,所述一级工位包括作为起始工位的与IC料块回转式检测打标编带机的上料装置的送料终点位置相对应的上料工位和作为终端工位的与IC料块回转式检测打标编带机的编带装置的置入底带位置相对应的放入底带工位,以及位于上料工位与放入底带工位之间的打标取放工位;所述二级工位包括与激光打标器相对应的打标工位和所述打标取放工位,使所述第一工位盘和第二工位盘通过打标取放工位相交接。其中,一级工位至少包括顺次布置的所述上料工位、与用于检测料块方向是否正确的摄像头相对应的方向检测工位、与旋转定向装置相对应的第一旋转定向工位、与用于检测料块图像是否正确的摄像头相对应的图像检测工位、与用于剔除图像检测结果不合格的料块的剔除装置相对应的第一剔除工位、所述打标取放工位、与用于剔除打标不合格的料块的剔除装置相对应的第三剔除工位、与另一旋转定向装置相对应的第二旋转定向工位和所述放入底带工位。其中,所述一级工位还包括沿从上料工位至放入底带工位方向顺次布置于第一剔除工位与打标取放工位之间的与第一组电性能检测装置相对应的第一组电性能检测工位和与用于剔除第一组电性能检测装置检测不合格的料块的剔除装置相对应的第二剔除工位。其中,所述第一组电性能检测装置包括用于检测料块不同电性能的第一和第二电性能检测装置,所述第一组电性能检测工位包括顺次布置的分别与第一和第二电性能检测装置相对应的第一和第二电性能检测工位。其中,所述一级工位还包括沿从上料工位至放入底带工位方向顺次布置于第三剔除工位与第二旋转定向工位之间的与第三电性能检测装置相对应的第三电性能检测工位、与第四电性能检测装置相对应的第四电性能检测工位、与用于剔除第三电性能检测装置检测不合格的料块的剔除装置相对应的第四剔除工位和与用于剔除第四电性能检测装置检测不合格的料块的剔除装置相对应的第五剔除工位。其中,二级工位包括顺次布置的所述打标取放工位、标前清洁工位、所述打标工位、标后清洁工位、与打标标识检测装置相对应的标识检测工位。其中,二级工位还包括位于打标取放工位与标前清洁工位之间的第一空工位,位于标前清洁工位与打标工位之间的第二空工位、位于标识检测工位与打标取放工位之间的 第三空工位。本技术的有益效果为本技术的工位系统盘装置包括与IC料块回转式检测打标编带机的取放料转盘模组装置对应的第一工位盘和与为打标输送料块的打标转盘对应的第二工位盘,其中,与打标相关的二级工位要求料块的上表面无遮挡,因此,打标转盘为可转动的具有承载料块的凹槽的结构,而一级工位需要由抓放可控的具有吸嘴的取放料转盘模组装置输送料块,本技术的工位系统盘装置利用第一和第二工位盘具有重合的打标取放工位,而使一料块在取放料转盘模组装置的作用下从上料工位开始顺次经过各一级工位到达打标取放工位,并在打标转盘的作用下顺次经过各二级工位并再回到打标取放工位,之后再在取放料转盘模组装置的作用下顺次到达打标取放工位后的各一级工位,这样既可实现高效的回转式输送,又可满足与打标相关的各二级工位相对各一级工位对料块输送的不同要求。附图说明图I为根据本技术的工位系统盘装置的一种实施方式的俯视图;图2为图I的简化示意图;图3为IC料块回转式检测打标编带机的配合图I中第一工位盘使用的取放料转盘模组装置的一种实施方式的立体结构示意图。具体实施方式如图I和2所示,本技术的工位系统盘装置5包括均位于水平面内的第一工位盘和第二工位盘,第一工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个一级工位(在此应理解为多个一级工位的料块放置位的中心基本位于同一圆周上),所述第二工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个二级工位(在此应理解为多个二级工位的料块放置位的中心基本位于同一圆周上),该一级工位包括作为起始工位的与IC料块回转式检测打标编带机的上料装置(通常为振动上料装置)的送料终点位置相对应的上料工位51和作为终端工位的与IC料块回转式检测打标编带机的编带装置的置入底带位置(即将料块置入编带底带的料块凹槽中的位置)相对应的放入底带工位516,以及位于上料工位51与放入底带工位516之间的打标取放工位59 ;该二级工位包括与激光打标器相对应的打标工位518和所述打标取放工位59,使所述第一工位盘和第二工位盘通过打标取放工位59相交接,也可理解为第一和第二工位盘在打标取放工位59处相切。为了便于理解设置两个相交接的工位盘实现回转式输送的有益效果,以下将简要地说明与IC料块回转式检测打标编带机的与第一工位盘相对应的取放料转盘模组装置和与第二工位盘相对应的打标转盘。如图3所示,IC料块回转式检测打标编带机的取放料转盘模组装置3包括转盘33、带动转盘33转动的例如是直接驱动电机的转动驱动装置31和等间距地安装于转盘33的一圆周上的各吸嘴组件3A ;取放料转盘模组装置还包括为各吸嘴组件3A分时(此处的分时是针对同一吸嘴组件而言)提供真空通路和真空断路的真空分配装置以及带动各吸嘴组件3A向下运动的一加压装置,其中,各吸嘴组件3A均具有在加压装置撤销所施加的压力时进行复位的弹性复位件。上述真空分配装置可在电气控制系统的控制下独立控制各吸嘴组件的状态,即各吸嘴组件在同一时间的状态可以是不同的,各吸嘴组件在通常情况下与真空通路常通(即吸嘴组件总是处于可吸住料块的状态),只有当某工位需要分离料块(如将料块放入编带底带的凹槽中或放入不合格料块收集槽)时,真空通路被瞬间破气而释放料块。 作为吸嘴组件的一种实施结构,其可包括轴承座37、导向轴套310、安装夹38、吸嘴连接管、吸嘴管39和导向轴311,该轴承座37和导向轴套310固定安装于转盘33的与各自相对应的安装孔中;该导向轴311和吸嘴连接管例如通过夹装的方式固装于安装夹38上,导向轴311和吸嘴连接管分别与导向轴套310和轴承座37滑动配合连接,由下向上穿出,即使安装夹38位于转盘33的下方,吸嘴管39连接于吸嘴连接管的下端(即吸嘴管39位于转盘3本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种IC料块回转式检测打标编带机的工位系统盘装置,其特征在于:包括均位于水平面内的第一工位盘和第二工位盘,所述第一工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个一级工位,所述第二工位盘的一圆周上等间隔地布置有多个二级工位,所述一级工位包括作为起始工位的与IC料块回转式检测打标编带机的上料装置的送料终点位置相对应的上料工位和作为终端工位的与IC料块回转式检测打标编带机的编带装置的置入底带位置相对应的放入底带工位,以及位于上料工位与放入底带工位之间的打标取放工位;所述二级工位包括与激光打标器相对应的打标工位和所述打标取放工位,使所述第一工位盘和第二工位盘通过打标取放工位相交接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:林宜龙,付义超,黄水清,刘国才,林清岚,杨春辉,董波,
申请(专利权)人:格兰达技术深圳有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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