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单组元差分扫描量热方法技术

技术编号:7916719 阅读:173 留言:0更新日期:2012-10-25 01:37
本发明专利技术属于热分析技术领域,公开了一种单组元差分扫描量热方法。本发明专利技术方法采用单组元差分扫描量热仪进行测量,该仪器采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元。该仪器的样品单元由内,外两个坩埚组成。通过测量和控制两个坩埚的温度,来计算流入或流出样品的热流。测量分为三步骤:(1)空坩埚,(2)标样和(3)试样。通过空坩埚和标样的测量,来表征内外坩埚的热流与样品热容的关系,然后利用此关系来计算样品热容和热焓。本发明专利技术的单组元差分扫描量热技术不仅适用于差分扫描量热仪器(DSC),而且也适用于差热分析仪器(DTA),热重-差分扫描量热仪器(TG-DSC),热重-差热分析仪器(TG-DSC)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于热分析
,涉及一种测定试样热物理性质随着温度变化的热分析方法,特别涉及一种采用单组元差分扫描量热仪进行差分扫描量热的方法。
技术介绍
差分扫描量热技术(DifferentialScanning Calorimetry, DSC)是指在可控的升降温环境下,测量输入(输出)到被测物质与参比物的能量与温度的关系,依此来确定被检测物质的热物理及化学性质。利用此技术可定量测量物质的热物理,化学性质,如热容,相变温度,结晶潜热坐寸o从本世纪60年代开始,由美国Perkin-Elmer首先推出该公司的DSC — I以来,许多仪器公司(如杜邦)等先后向市场推出了多种型号的DSC。尽管各公司推出的DSC各种各样,但就其基本原理来讲,可分为两大型号热流式和能量补偿式。热流式差分扫描量热仪器是在样品单元及参照单元下面设一热流板,当加热器在程序控制下加热时,热量通过热流板传递到样品及参照物。通过测量流入被测物体与参照物的热流及样品温度,再经过适当的转换。样品的热物理化学性质就可以被表达出来。该方法的主要优点是对样品的形状没有要求。能量补偿式差分扫描量热仪比热流式DSC多了两个小加热器分别紧贴于试样参比物热电阻下面,通过调节这两个小加热器的功率以补偿样品与参照物由于不同物性所引起的温差。现行商用仪器存在问题和不足之处热流式差分扫描量热仪和能量补偿式差分扫描量热仪的双盘设计(样品单元和参照单元)存在以下不足之处(I).由于样品单元和参照单元的热交互作用,导致测量的热流并不能真正反映样品的物性变化,而是被一种被模糊了(smeared)的信息。(2)仪器的测量温度不能真正反应被测物体的真实温度。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有热流式差分扫描量热仪和能量补偿式差分扫描量热仪不足之处,而提出的一种。本专利技术方法采用去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元的单组元差分扫描量热仪。本专利技术要解决的技术问题是采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元。本专利技术的主要技术方案,其特征是采用单组元差分扫描量热仪进行差分扫描量热;所述仪器采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元;仪器的样品单元包括内、外两个坩埚;通过测量和控制两个坩埚的温度,来计算流入或流出样品的热流;测量分为三步骤(I)空坩埚、(2)标样和(3)试样,通过空坩埚和标样的测量,来表征内外坩埚的热流与样品热容的关系,然后利用此关系来计算样品热容和热焓。所述的中空坩埚测量热平衡方程a A TDEdt = CEdTE、标样测量热平衡方程a A TDCdt = (Cc+CE) dTc试样测量热平衡方程a A TDSdt = (CS+CE) dTs式中,a :内外坩埚间温差与热流交换系数;ATde:空坩埚测量时,内外坩埚间温差;dt :测量时间步长;CE :空坩埚热容;dTE :空坩埚测量时内坩埚温度变化;ATdc :标样测量时,内外坩埚间温差;Cc+CE :标样加空坩埚的热容;dTc :标样测量时标样温度变化;ATds:试样测量时,内外坩埚间温差;CS+CE :试样加空坩埚的热容;dTs :试样测量时试样温度变化。通过空坩埚和标样的测量,内外坩埚间温差与热流交换系数a和空坩埚热容Ce被定量化,然后通过已知的标样热融热容C。和测量得到的内外坩埚间温差ATe,ATdc, ATds和内坩埚,标样,试样温度变化dTE,dTc, dTs,来计算样品热焓变化dHs:权利要求1.一种,其特征是采用单组元差分扫描量热仪进行差分扫描量热;所述仪器采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元;仪器的样品单元包括内、外两个坩埚;通过测量和控制两个坩埚的温度,来计算流入或流出样品的热流;测量分为三步骤(I)空坩埚、(2)标样和(3)试样,通过空坩埚和标样的测量,来表征内外坩埚的热流与样品热容的关系,然后利用此关系来计算样品热容和热焓。2.如权利要求I所述的,其特征是 空坩埚测量热平衡方程aATDEdt = CEdTE 标样测量热平衡方程aATDedt = (Cc+CE) dTc 试样测量热平衡方程aATDSdt = (CS+CE) dTs 式中,a :内外坩埚间温差与热流交换系数;ATde:空坩埚测量时,内外坩埚间温差;dt :测量时间步长;CE :空坩埚热容;dTE :空坩埚测量时内坩埚温度变化;ATdc :标样测量时,内外坩埚间温差;Ce+CE :标样加空坩埚的热容;dT。标样测量时标样温度变化;ATds:试样测量时,内外坩埚间温差;CS+CE :试样加空坩埚的热容;dTs :试样测量时试样温度变化。3.如权利要求I或2所述的,其特征是通过空坩埚和标样的测量,内外坩埚间温差与热流交换系数a和空坩埚热容Ce被定量化,然后通过已知的标样热融热容C。和测量得到的内外坩埚间温差ATe,ATdc, ATds和内坩埚,标样,试样温度变化dTE,dTc, dTs,来计算样品热焓变化dHs:4.如权利要求I所述的,其特征在于所述外坩埚的内径为10-20mm,外径为14_24mm,高度为10-30mm,上下各有一个厚度为l-4mm的圆盘板与外甘祸形成一个封闭的等温体;所述内相'祸的内径为4-10mm,外径为6-14mm,高度为上下各有一个厚度为1_4_的圆盘板与内坩埚形成一个封闭的等温体。5.根据权利要求I或4所述的,其特征是样品陈放于内坩埚内,1-6个热电偶插入到外坩埚1/3 - 2/3高度来测量和控制外坩埚的温度,1-6个热电偶插入到内坩埚1/3 - 2/3高度来测量和控制内坩埚的温度,I个样品热电偶插入到样品0-2/3高度测量样品的温度。全文摘要本专利技术属于热分析
,公开了一种。本专利技术方法采用单组元差分扫描量热仪进行测量,该仪器采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元。该仪器的样品单元由内,外两个坩埚组成。通过测量和控制两个坩埚的温度,来计算流入或流出样品的热流。测量分为三步骤(1)空坩埚,(2)标样和(3)试样。通过空坩埚和标样的测量,来表征内外坩埚的热流与样品热容的关系,然后利用此关系来计算样品热容和热焓。本专利技术的单组元差分扫描量热技术不仅适用于差分扫描量热仪器(DSC),而且也适用于差热分析仪器(DTA),热重-差分扫描量热仪器(TG-DSC),热重-差热分析仪器(TG-DSC)。文档编号G01N25/20GK102749352SQ20121025539公开日2012年10月24日 申请日期2012年7月23日 优先权日2012年7月23日专利技术者董洪标 申请人:朱家平, 董洪标本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种单组元差分扫描量热方法,其特征是采用单组元差分扫描量热仪进行差分扫描量热;所述仪器采用单组元设计,去除了传统差分扫描量热仪中的参照单元;仪器的样品单元包括内、外两个坩埚;通过测量和控制两个坩埚的温度,来计算流入或流出样品的热流;测量分为三步骤:(1)空坩埚、(2)标样和(3)试样,通过空坩埚和标样的测量,来表征内外坩埚的热流与样品热容的关系,然后利用此关系来计算样品热容和热焓。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董洪标
申请(专利权)人:董洪标朱家平
类型:发明
国别省市:

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