平行度检测系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开一种平行度检测系统及其方法，其系统包括：一具有待测单元的待测模块、一参照单元与一光学量测单元。光学量测单元包括一光学量测模块与一位移模块。待测单元的下表面是一待测表面,参照单元的上表面是一参照表面。光学量测模块包括一光源单元、一反射单元与一传感单元。光源单元发射一准直光束，依序经由待测表面、反射单元与参照表面反射至传感单元，传感单元侦测准直光束的位置，即可算出待测表面与参照表面之间的一间隔距离，利用位移模块移动光学量测模块，以量测不同点的间隔距离。透过多数个间隔距离即可求出待测表面与参照表面之间的平行度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种，特别是有关于一种利用光学量测技术的。
技术介绍
在液晶显示器的领域中，追求产品的轻薄与高分辨率是未来的趋势。因此在产品生产过程中，每一组件的对位与结合的精确度与平整度更显得重要，因此生产设备的稳定性、精密度与校正动作，将会直接影响产品的生产良率与质量。目前用来检测生产压合设备平行度的方法，一般是采用感压纸进行检测。感压纸是一种用于精确地测量出压力大小、压力分布和压力均匀度的检测组件，感压纸在受到压力后，会改变颜色，压力越大时，其颜色越深，因此可检测出压力大小、压力 分布和压力均匀度。感压纸的变色原理是当感压纸受到外在压力时，感压纸内部的微小颗粒色球会破裂，进一步和显色剂材料作用后产生颜色，透过微小颗粒的分子控制技术，微小颗粒色球是一种特殊的设计，可用来检测不同程度压力大小与压力分布。当感压纸受到的压力越大，会使感压纸内部的微小颗粒色球破裂越多，因此产生的颜色越深。感压纸可依据检测物施予压力的大小，选择不同检测压力范围的感压纸。例如微压(0.5 21^€八1112)、极超低压(2 6kgf/c m2)、超低压(5 25kgf/c m2)、低压(25 IOOkgf/c m2)、中压(100 500kgf/c m2)、高压(500 1300kgf/c m2)、超高压(1300 3000kgf/c m2)。因此，感压纸可应用于瓷砖业、弹簧组设计、点焊接、机械加工、乐器制造、家具业、IXD模块、航天工业、轮胎业、医学临床生物学分析…等的量测。由于感压纸能将受压状况以颜色的深浅显示出来，且能测量密合接面之间的压力值，压力测试范围0. 5kgf/c rtf 3000kgf/c m2，因此能有效改善产品质量，减少只凭人为感觉而进行多次调整或修改所产生的生产成本。在一液晶显示器的液晶面板中，液晶面板需要透过一电源模块，来提供液晶面板所需的电力与控制讯号，透过将电压施加于液晶面板内的液晶单元上，进而控制液晶旋转以达到亮度变化的目的。其中，所述液晶面板与所述电源模块的电路板是透过一软性电路板相互连结，由于此软性电路板的厚度非常薄，且可嵌设驱动IC与电子组件于所述软性电路板上，因此在将软性电路板压合至液晶面板上以及电源模块上时，压合的力道与施力均匀度是非常重要的制程参数，欲提升压合的施力均匀度，可透过压合机台的上、下两压合平面彼此平行，达到施力均匀的目的。因此，压合机台的上下两压合平面的平行度需要时常被量测与监控。图I为传统平行度检测系统I的架构图。所述传统平行度检测系统I包括一待测单元10、一辅助单元11、一参照单元12与一感压纸13。其中，待测单元10的下表面是一平整的待测表面101，待测单元10的上表面与辅助单元11结合。辅助单元11用以调整待测单元10的倾斜角度，并可使待测单元10上下移动。参照单元12的上表面是一平整的参照表面121，因此，参照表面121做为平行度检测的基准平面。其中，感压纸13放置于参照单元12的参照表面121上方，当辅助单元11使待测单元10向下方垂直移动并施压于参照单元12时，待测表面101与参照表面121即会夹住感压纸13，而感 压纸13则会依照上述的变色原理，将所承受压力的大小转换成颜色的深浅。因此，生产人员可判读出待测表面101施力于参照表面121的均匀度，接着借由辅助单元11调整待测单元10的倾斜角度，使待测单元10的待测表面101与参照单元12的参照表面121为平行状态。由于感压纸属于一次性的消耗材料，且价格昂贵，仅靠颜色的深浅仍无法有效的数据化，因此如何使用一种可稳定量测、多次使用且可以将测试结果数据化的替代方案，则是极需解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服现有使用感压纸量测平行度时，无法重复使用、价格昂贵且量测结果无法数据化的问题。因此本专利技术提出一种平行度检测系统，其可以稳定量测平行度、多次使用且可以将测试结果数据化。本专利技术的次要目的在于，克服现有使用感压纸量测平行度时，无法重复使用、价格昂贵且量测结果无法数据化的问题。因此本专利技术提出一种平行度检测方法，其可以稳定量测平行度、多次使用且可以将测试结果数据化。为了解决上述使用感压纸量测平行度所造成的问题，本专利技术提出一种平行度检测系统，其包括一待测模块、一参照单元与一光学量测单元，所述待测模块包括一待测单元与一辅助单元。所述待测单元的下表面是一平整的待测表面，所述待测单元的上表面与所述辅助单元结合。所述辅助单元用以调整所述待测单元的倾斜角度与上下移动。所述参照单元的上表面是一平整的参照表面，当作平行度检测的基准平面。所述光学量测单元用于检测所述待测表面与所述参照表面的平行度，此平行度检测系统的特征在于，所述光学量测单元包括一光学量测模块与一位移模块。所述光学量测模块包括一光源单元、一反射单元与一传感单元。所述光源单元向所述待测表面发射一准直光束，所述准直光束被所述待测表面反射至所述反射单元，所述反射单元再次反射所述准直光束向所述参照表面，所述准直光束被所述参照表面反射至所述传感单元，所述传感单元侦测所述准直光束的位置，即可算出所述待测表面与所述参照表面之间的一间隔距离。所述位移模块用于移动所述光学量测模块，并使所述光源单元、所述反射单元与所述传感单元保持固定的倾斜角度与保持彼此的相对距离。所述位移模块包括一支撑单元与一位移单元。所述支撑单元用以支撑所述光学量测模块。所述位移单元具有使配置在所述位移单元上的所述支撑单元，依所述位移单元的延伸方向移动的功能。前述的平行度检测系统，更包括所述光源单元是一激光光源，提供所述光学量测模块一稳定的平行准直光源。前述的平行度检测系统，更包括所述传感单元是一位置感知器，用于侦测所述准直光束在所述传感单元上的位置。前述的平行度检测系统，更包括所述位移单元包括一滑轨结构，使装设于所述滑轨结构上的所述支撑单元，可在所述滑轨结构上移动。前述的平行度检测系统，更包括所述位移单元包括一伺服马达，用以控制装设在所述滑轨结构上的所述支撑单元的移动方向、移动速度与移动距离。本专利技术亦提出一种用于平行度检测系统的平行度检测方法，其平行度检测系统包括一待测模块、一参照单元与一光学量测单元。其中所述待测模块包括一待测单元与一辅助单元。所述待测单元的下表面是一平整的待测表面，所述待测单元的上表面与所述辅助单元结合。所述辅助单元用以调整所述待测单元的倾斜角度与上下移动。所述参照单元的上表面是一平整的参照表面，当作平行度检测的基准平面。所述光学量测单元包含一光学量测模块及一位移模块，所述光学量测模块包括一光源单元、一反射单元与一传感单元。所述位移模块包括一位移单元与一支撑单元。所述的平行度检测方法，其特征在于，包括由所述光源单元发射一准直光束至所述待测表面。由所述待测表面、所述反射单元与 所述参照表面依序反射所述准直光束至所述传感单元。由所述传感单元侦测所述准直光束的位置，计算出所述待测表面与所述参照表面之间的一间隔距离。由所述位移单元控制所述支撑单元，使装设在所述支撑单元上的所述光学量测模块进行移动。重复上述步骤，直到取得所有欲量测点的间隔距离。依据多个量测点的间隔距离，计算出待测表面与参照表面之间的平行度。前述的平行度检测方法，更包括所述光源单元是一激光光源，提供所述光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平行度检测系统，包括：一待测模块、一参照单元与一光学量测单元，所述待测模块包括一待测单元与一辅助单元，所述待测单元的下表面是一平整的待测表面，所述待测单元的上表面与所述辅助单元结合，所述辅助单元用以调整所述待测单元的倾斜角度与上下移动，所述参照单元的上表面是一平整的参照表面，当作平行度检测的基准平面，所述光学量测单元用于检测所述待测表面与所述参照表面的平行度，其特征在于，包括：一光学量测模块，包含：一光源单元，向所述待测表面发射一准直光束；一反射单元，所述准直光束被所述待测表面反射至所述反射单元，并再次反射向所述参照表面；以及一传感单元，所述准直光束被所述参照表面反射至所述传感单元后，所述传感单元侦测所述准直光束的位置，即可算出所述待测表面与所述参照表面之间的一间隔距离；以及一位移模块，用于移动所述光学量测模块，并使所述光源单元、所述反射单元与所述传感单元保持固定的倾斜角度与保持彼此的相对距离，包括：一支撑单元，用以支撑所述光学量测模块；以及一位移单元，具有使配置在所述位移单元上的所述支撑单元，依其延伸方向移动的功能。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈方甫，丁涛，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：