一种集成电路引脚开短路的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路引脚开短路的测试装置，包括：包括引脚测试模块、测试机总线、控制单元以及上位机；所述引脚测试模块与控制单元均连接在所述测试机总线上，所述上位机与控制单元相连；所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于1的自然数；所述控制单元通过所述测试机总线来读写引脚测试模块，所述控制单元将从所述引脚测试模块中获取的数据传输到所述上位机供其分析。利用该装置可以实现并行测试多个引脚开短路，大大降低了测试时间，提高了测试效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

该技术属于集成电路自动测试设备
，特别涉及一种集成电路引脚开短路的测试装置。
技术介绍
测试集成电路引脚开短路是判断集成电路好坏所必须的一个测试项目，也是集成电路自动测试设备所必须具备的功能之一，其基本原理是通过测试该引脚连接到电源引脚(VDD)和地引脚(VSS)上的保护二极管来实现。目前一般的方法是测试设备的控制单元首先将集成电路的VDD引脚和VSS引脚设置成0V，并设定好引脚开路电压(VOH)和引脚短路电压(VOL)，其中VOH大于V0L。图I为现有测试设备测试集成电路引脚对地开短路基本原理图，控制单元控制恒流源对集成电路的被测引脚施加一个恒定的电流，方向是从集成电路引脚到恒流源，然后控制单元再控制精密测量单元(PMU)来测量该引脚上的电压，PMU测量引脚上的电压是采用模拟到数字转换器(ADC)来将模拟电压转换成数字电压，控制单元通过读取该ADC的数字电压值来判定引脚上的电压所处的电压区间来判断引脚的好坏，考虑到二极管的特性，一般控制单元将VOH设置成-O. 2V，VOL设置成-I. 2V，如果该引脚上的电压处于-I. 2V和-O. 2V之间，则认为该引脚是正常的，如果该电压大于-O. 2V，则判定该引脚为对地短路，如果该电压小于-I. 2V，则判定对地开路。图2为现有测试设备测试集成电路引脚对电源开短路基本原理图，请参看图2，控制单元控制恒流源对集成电路的被测引脚施加一个恒定的电流，方向是从恒流源到集成电路引脚，然后控制单元再控制精密测量单元(PMU)来测量该引脚上的电压，考虑到二极管的特性，一般将VOH设置成I. 2V，VOL设置成O. 2V，如果该引脚上的电压处于O. 2V和I. 2V之间，则认为该引脚是正常的，如果该电压大于I. 2V，则判定该引脚为对电源开路，如果该电压小于O. 2V，则判定对电源短路。测试完一个引脚对地和对电源开短路的情况后，测试设备再对其他的引脚进行这样重复的开短路测试。一般PMU上ADC精度至少为8位二进制数，最多可达24位二进制数，控制单元通过测试机总线获取一个引脚上的电压，一次传输至少也要8位二进制数的信息量，最多需要传输24位二进制数的信息量，因此，这种方法最大的缺点就是传输的二进制数信息量大，而测试机总线一般最多也不过64位，且当集成电路的引脚一般都比较多时，这时候测试设备只能串行的测试集成电路引脚的开短路状况，这样测试速度会比较慢。
技术实现思路
本技术提供一种集成电路引脚开短路的测试装置，可以达到一次并行测试多个集成电路引脚的目的，以解决现有测试方法中所存在的效率低下的问题。为解决上述技术问题，本技术提供一种集成电路引脚开短路的测试装置，其特征在于包括引脚测试模块、测试机总线、控制单元以及上位机；所述引脚测试模块与控制单元均连接在所述测试机总线上，所述上位机与控制单元相连；所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于I的自然数；所述控制单元通过所述测试机总线来读写引脚测试模块，所述控制单元将从所述引脚测试模块中获取的数据传输到所述上位机供其分析。可选的，所述引脚测试模块还包括接口模块以及参考电压产生模块，所述N个引脚测试通道分别与接口模块相连，所述参考电压产生模块与每个引脚测试通道相连，同时参考电压产生模块与接口模块相连，接口模块同时与所述测试机总线连接。可选的，所述引脚测试通道包括一个测试端口、恒流源、第一电压比较器、第二电压比较器以及所述参考电压产生模块产生的引脚开路电压和引脚短路电压，所述恒流源与接口模块以及所述测试端口相连，第一电压比较器的反向输入端与第二电压比较器的正向输入端相连后与所述测试端口相连，所述第一电压比较器的正向输入端输入引脚开路电压，第二电压比较器的反向输入端输入引脚短路电压，第一电压比较器的输出和第二电压比较器的输出与所述接口模块相连。 可选的，所述引脚测试通道包括一个测试端口、恒流源、第一电压比较器、第二电压比较器以及所述参考电压产生模块产生的引脚开路电压和引脚短路电压，所述恒流源与接口模块以及所述测试端口相连，第一电压比较器的正向输入端与第二电压比较器的正向输入端相连后与所述测试端口相连，所述第一电压比较器的反向输入端输入引脚开路电压，第二电压比较器的反向输入端输入引脚短路电压，第一电压比较器的输出和第二电压比较器的输出与所述接口模块相连。可选的，所述引脚测试通道包括一个测试端口、恒流源、第一电压比较器、第二电压比较器以及所述参考电压产生模块产生的引脚开路电压和引脚短路电压，所述恒流源与接口模块以及所述测试端口相连，第一电压比较器的反向输入端与第二电压比较器的反向输入端相连后与所述测试端口相连，所述第一电压比较器的正向输入端输入引脚短路电压，第二电压比较器的正向输入端输入引脚开路电压，第一电压比较器的输出和第二电压比较器的输出与所述接口模块相连。与现有技术相比，本技术具有以下优点在本技术的集成电路引脚开短路的测试装置中，引脚测试模块内包括多个引脚测试通道，允许多个集成电路的引脚分别连接到所述多个引脚测试通道上。另外，本技术通过增加两个电压比较器，使得测试设备的控制单元只需读取二元码就可知道引脚上的电压所处的区间，大大降低了信息量。如此，通过将多个引脚的二元码组合成与测试机总线位宽相等的二元码，并传输给测试机总线。这样就实现了并行测试多个引脚开短路，大大降低了测试时间，提高了测试效率。附图说明图I为现有测试设备测试集成电路引脚对地开短路基本原理图；图I为现有测试设备测试集成电路引脚对电源开短路基本原理图；图3为本技术一种集成电路引脚开短路的测试装置的示意图；图4为本技术一实施例中引脚测试模块内部电路图。具体实施方式为了使本技术的目的，技术方案和优点更加清楚，以下结合附图来进一步做详细说明。图3为本技术一种集成电路引脚开短路的测试装置的示意图，包括引脚测试模块21、测试机总线22、控制单元23以及上位机24。所述引脚测试模块21与控制单元23连在所述测试机总线22上，所述上位机24与控制单元23相连。所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于I的自然数。所述控制单元23通过所述测试机总线22来读写引脚测试模块21，所述控制单元23将从引脚测试模块21中获取的数据传输到上位机24供其分析。下面就各个功能模块做详细说明I、引脚测试模块图4为本技术一实施例中引脚测试模块内部电路图。所述引脚测试模块21包括N个引脚测试通道30 (图中示出两个，N的大小等于被测试的集成电路引脚个数，N为大于等于I的自然数)、接口模块40以及参考电压产生模块50。所述每个引脚测试通道30分别与接口模块40相连，所述参考电压产生模块50负责产生出引脚开路电压VOH和引脚短路电压V0L，参考电压产生模块50与每个引脚测试通道30相连，同时参考电压产生模块50与接口模块40相连，接口模块40同时与测试机总线22连接。A)引脚测试通道所述引脚测试通道包括一个测试端口 25、恒流源31、第一电压比较器32、第二电压比较器33以及所述参考电压产生模块50产生的引脚开路电压VOH和引脚短路电压V0L。所述恒流源31与接口模块40相连，恒流源31与测试端口 25相连，第一电压比较器32的反向输本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路引脚开短路的测试装置，其特征在于：包括引脚测试模块、测试机总线、控制单元以及上位机；所述引脚测试模块与控制单元均连接在所述测试机总线上，所述上位机与控制单元相连；所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于1的自然数；所述控制单元通过所述测试机总线来读写引脚测试模块，所述控制单元将从所述引脚测试模块中获取的数据传输到所述上位机供其分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张波，魏建中，
申请(专利权)人：杭州士兰微电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：