去除了将要测量的电流上的噪声。水平电源线（PVDD）布置在水平方向上，并且向各个对应的水平线中的像素提供电流。开关（8）将水平电源线（PVDD）的组以可切换方式连接到位于像素区外部的第一电源线（PVDDa）或第二电源线（PVDDb）。仅为将被测量的像素所属组中的水平电源线（PVDD）提供来自第二电源线（PVDDb）的电力，以测量该组中的每个像素的电流，并且测量流入与除了将被测量的像素之外的其它像素所属组连接的电源（PVDDa）的电流，从而基于测得的两个电流之差来计算像素电流。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测 量显示装置中的像素电流的方法，在该显示装置中，将用于显示的像素数据写入以矩阵方式设置的每个像素中。2.
技术介绍
图I示出有源矩阵型有机电致发光(EL)显示装置中的像素(彩色面板中的子像素)的基本电路构造。图2示出显示面板的示例性构造以及输入到显示面板的信号。在保持水平延伸的选通线(Gate)处于高电平以使选择薄膜晶体管(TFT)2导通的同时，对垂直延伸的数据线(Data)施加具有对应于显示亮度的电压的数据信号，从而在存储电容器C中累积该数据信号。存储电容器C允许驱动TFT I向有机EL元件3提供对应于该数据信号的驱动电流，并且有机EL元件3发光。在此，有机EL元件的发光量与其电流具有基本成比例的关系。通常，在驱动TFTl的栅极和PVdd之间施加电压(Vth)，在该电压(Vth)下，漏电流开始流动，接近图像的黑水平。施加导致接近白水平的预定亮度的幅值作为图像信号的幅值。如图2中所示，面板具有以矩阵方式设置的像素6，其中，选通线Gate从选通驱动器4延伸并且针对每行像素6来设置。选通线Gate (对于写入数据信号的线)顺序变为高电平，并且相应的选择TFT 2导通。另一方面，数据线Data从源驱动器5延伸并且针对每列像素来设置，并且对数据线Data顺序施加对应像素6的数据信号。为了执行这个操作，根据需要，向选通驱动器和源驱动器提供图像数据信号、水平和垂直同步信号、像素时钟以及其它驱动信号。图3示出流过有机EL元件3的CV电流(对应于亮度)与驱动TFT I的数据(Data)电压(数据线Data上的数据信号的电压)的关系。确定数据信号，使得Vb被施加作为黑水平电压并且Vw被施加作为白水平电压，从而使得能够对有机EL元件3进行适当的灰度控制。当以给定数据电压驱动像素时流动的电流取决于驱动TFT I的特性(如，电压Vth和V-I曲线的斜率(μ ))。因此，如果对于面板中的多个驱动TFT l，Vth和μ的特性波动，则出现不均匀的亮度。为了校正亮度的不均匀，必须向每个像素输入数据电压，以得到具有相同输入信号值的相同亮度。为此原因，面板中的一个或预定数量的像素在不同信号电平下点亮，并且基于处于相应信号电平的面板电流，确定TFT的V-I曲线(参见日本专利申请特许公开 No. 2004-264793 和 2005-284172)。流入一个像素的电流取决于有机EL元件的效率和像素密度，并且通常为几μ A或更小，即使是以最大可用亮度发光。因此，尤其是在确定接近黑的电流值的波动时，必须测量I μ A或更小的电流。因此，来自面板外部的入侵噪声和来自面板内部的驱动电路的噪声会造成测量精度降低。作为应对措施，在日本专利申请特许公开No. 2008-098057中，每次测量PVDD电流和CV电流并将其加到一起，以去除共模噪声。通过这种方式，多个像素6使用公共线将电力PVdd提供到驱动TFT I的源极，因此，尽管在图I和图2的电路中省去了电阻组件，但是如果存在由于布线导致的电阻组件，则用于驱动有机EL元件3的驱动TFT I的源极电压根据其它像素6中流动的电流量而变化。如果驱动TFT I的源极电压在选择TFT 2导通以将数据电压写入存储电容器C时降低，则驱动TFT I的Vgs的绝对值变小。结果，驱动TFT I的电流减小并且有机EL元件3的电流也减小，从而发光亮度降低。为了解决这个问题，日本专利申请特许公开No. 2009-258301公开了如图4所示的构造，其中，提供了两种类型的垂直PVDD电源线，即，用于点亮像素的电源线PVDDa和用于写入像素数据的电源线PVDDb，并且开关8切换水平PVDD线的电压源，以向对应水平线中的像素6提供PVDD电压。通过PVDD线选择电路7提供的控制信号Ctl控制针对每个水平线提供的开关8的切换。图4是示出四个水平线(m至m+3)中的三列(n+2至η)像素的图示，并且图5示出其整体构造，重点在电源线(垂直PVDD线PVDDa和PVDDb以及水平PVDD线)。注意的是，垂 直PVDD线PVDDa和PVDDb的电压分别被称为PVDDa和PVDDb。在此，PVDD线选择电路7和用于PVDD的开关8可以由TFT形成，并且可以采用设置有这种功能的IC芯片。在正常使用中，在点亮期间，开关8转到“a”侧，使得可以从垂直PVDD线PVDDa提供电力。在写入数据电压时，对应开关8转到“b”侧，使得可以从垂直PVDD线PVDDb提供电力，垂直PVDD线PVDDb的电压明显低于垂直PVDD线PVDDa上的点亮电压。换言之，在写入数据电压期间，像素电流减小，以防止PVDD线中的电压降。图4是示出将像素数据写入水平线m+1中的状态的图示，其中，包括省去部分的其它水平PVDD线的所有开关8转到“a”侧。图6示出选通线Gate和控制信号Ct I之间的时序关系。垂直同步信号VD每帧变为H电平。在每一帧中，选通信号Gate和控制信号Ctl按每水平线顺序导通，从而在从垂直PVDD线PVDDb提供电源电压的同时将数据信号写入对应像素。如图7中所示，可以每多个水平PVDD线提供开关8。图7是示出在每四个水平PVDD线提供开关8的情况下在四条线中的三列像素的图示，并且图8示出其整体构造，重点放在电源线。当写入像素数据时，用于将被写入的像素所属组的开关8转到“b”侧，使得可以从垂直PVDD线PVDDb提供电力，并且同时，将被测量的像素所属线上的选通选择线Gate变为高电平。依次从屏幕上部逐线写入数据电压，因此在图7中，在开关8转到“b”侧时，选通线Gatem至Gatem+3顺序变为高电平。当完成对所述组中的水平线的写入操作时，开关8切换到“a”侧，并且下一个组的线m+4至m+7中的水平PVDD线通过另一个对应开关8连接到PVDDb。图9示出在两侧都设置开关8的情况下电源线的布线实例。在具有较少像素的小型面板中，来自其它像素的漏电流小，并且影响测量速度的PVDD线的电容分量也小。因此，如在上述日本专利申请特许公开No. 2008-098057中的，通过在将PVdd连入所有像素的同时只向一个像素提供电流，可以测量PVDD端的电流。然而，在具有更多像素的大尺寸面板中，由于来自除了将被测量的像素之外的关闭(OFF)像素的漏电流导致的噪声总量变大，从而测量精度降低。另外，存在另一个问题，即，因为由于PVDD线的电容分量导致的对时间常数的影响，所以无法高速测量像素电流。同时，具有更多像素的大面板具有大电流消耗和长PVDD线，因此PVDD线中的电压降是严重的问题，并且希望将PVDD线分成用于写入像素数据的PVDD线和用于发光的PVDD线，如在上述日本专利申请特许公开No. 2009-258301中所描述的。在这种情况下，测量像素电流的优选方式是，使得仅仅使用于将被测量的像素所属PVDD线的组的开关成为连接状态，以向其施加电压并且测量 像素电流。以这种方式，可以消除其它组中的PVDD线上的电容分量，并且还可以消除来自其它组中的像素的漏电流。然而，如果在测量期间断开除了包括将被测量的像素的组之外的像素中的PVdd，则入侵噪声的量和波形对于PVDD和CV明显不同。因此，在假设入侵共模噪声(来自面板外部的入侵噪声和来自面板内部的驱动电本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：水越诚一，森信之，河野诚，
申请(专利权)人：全球OLED科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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