触控感测单元、触控感测元件及触控感测装置制造方法及图纸

技术编号:7897892 阅读:113 留言:0更新日期:2012-10-23 04:11
一种触控感测单元,包含有一外围导电元件以及至少一内部导电元件。每一内部导电元件具有至少两端点分别连接至该外围导电元件,且该至少一内部导电元件与该外围导电元件所构成的一感测图样包含多个中空区域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种触控感测单元以及相关的触控感测元件及触控感测装置,尤指一种具有多个中空区域的感测图样的触控感测单元以及相关的触控感测元件及触控感测装置。
技术介绍
在现今各类型消费性电子产品中,平板计算机、个人数字助理(PDA)、移动电话(mobile phone)、卫星导航系统(GPS)与影音播放器等可携式电子产品已广泛地使用触控面板(touch panel)来取代传统的键盘,以作为人机数据沟通接口,藉此增加应用上的变化性。 请同时参考图I与图2,图I为已知触控感测单元的示意图,以及图2为触碰对象A与已知感测图样B的重迭面积的坐标化示意图。如图I所示,触控感测单元10为一电容式触控感测单元,具有一菱形的感测图样B (由一导电元件占满一菱形区域所构成),当测试对象A (本实施例中为一手指)沿一 X方向滑过感测图样B时,测试对象A会与感测图样B所对应的导电元件产生耦合,形成一感应电容,而感应电容的大小是与测试对象A与菱形的感测图样B所重迭的面积大小成正相关。如图2所示,当测试对象A滑过感测图样B所对应的导电元件时,由于感测图样B的形状为菱形,因此,两者的重迭面积(如斜线区域所示)并非是线性的增加,换言之,随着触碰对象A于X方向上的滑动,感应电容的大小并非是线性的增加,因此在应用上容易造成触控事件(touch event)的感应精准度不佳。因此,如何增加触控感测单元的线性度,实为此领域的重要课题之一。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的之一在于提出一种具有多个中空区域的感测图样的触控感测单元以及相关的触控感测元件及触控感测装置,以解决上述的问题。本专利技术揭露一种触控感测单兀,包含有一外围导电兀件以及至少一内部导电兀件。每一内部导电元件具有至少两端点分别连接至该外围导电元件。该至少一内部导电元件与该外围导电元件所构成的一感测图样包含多个中空区域。本专利技术还揭露一种触控感测元件,包含有一载板以及多个触控感测单元,承载于该载板上,其中该多个触控感测单元中每一触控感测单元的一感测图样包含多个中空区域。本专利技术还揭露一种触控感测装置,包含有一触控感测元件以及一控制电路。该触控感测元件包含有一载板,以及多个触控感测单元,承载于该载板上,该多个触控感测单元用来分别产生多个感测信号,该多个触控感测单元中的每一触控感测单元的一感测图样包含多个中空区域。该控制电路,耦接于该多个触控感测单元,用来根据该多个触控感测单元中至少一触控感测单元所产生的感测信号来检测一触控事件(touch event)。本专利技术还揭露一种触控板,包含有一载版;以及多条沿一第一方向平行排列的第一感测迹线,承载于该载版上,该第一感测迹线包括多个串接的第一触控感测单元,每一第一触控感测单元包含有多个中空区域。附图说明图I为已知触控感测单元的示意图。图2为触碰对象与已知感测图样的重迭面积的坐标化示意图。图3为本专利技术触控感测单元的一第一实施例的示意图。图4为本专利技术触控感测单元的一第二实施例的示意图。图5为本专利技术触控感测单元的一第三实施例的示意图。图6为测试对象与本专利技术感测图样的重迭面积的一坐标化示意图。 图7为本专利技术另一触控感测单元的一实施例的示意图。图8为本专利技术触控感测元件的一实施例的示意图。图9为本专利技术触控感测装置的一实施例的功能方块示意图。图10为本专利技术触控感测元件的一实施例的示意图。触控感测单元40触控感测元件50触控感测装置520控制电路410载板210、310外围导电元件220,320内部导电元件62X方向感测迹线64Y方向感测迹线HA1-HAn中空区域PUP2,Pn_1,P+ 感测图样A测试对象N1、N2、P1 P4 端点MpM2矩阵具体实施例方式在说明书及上述的申请专利范围当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中具有通常知识者应可理解,硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同样的元件。本说明书及上述的申请专利范围并不以名称的差异来作为区分元件的方式,而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及上述的请求项当中所提及的「包含」为一开放式的用语,故应解释成「包含但不限定于」。另外,「耦接」一词在此是包含任何直接及间接的电气连接手段。因此,若文中描述一第一装置耦接于一第二装置,则代表该第一装置可直接电气连接于该第二装置,或通过其它装置或连接手段间接地电气连接至该第二装置。请一并参考图3至图5,图3为本专利技术触控感测单元20的一第一实施例的示意图,图4为本专利技术触控感测单元20的一第二实施例的示意图,以及图5为本专利技术触控感测单元20的一第三实施例的示意图。如图3所示,触控感测单元20为一电容式触控感测单元(然而,此仅作为范例说明而非本专利技术的限制,亦即,任何具有本专利技术所揭示的感测图样的触控感测单元均落入本专利技术的范畴),且包含有一外围导电元件210以及至少一内部导电元件220,此外,外围导电元件210所包围的区域为一菱形区域,而每一内部导电元件220则为一带状区段,沿着一 X方向(平行于该菱形区域的一对角线)平均分布于该菱形区域,且每一内部导电元件220具有至少两端点N1、N2分别连接至外围导电元件210,于此实施例中,内部导电元件220的个数为1,故内部导电元件220与外围导电元件210是构成一感测图样P1,且感测图样P1会包含有两个中空区域HA1与撤2。同理,当内部导电元件220的个数为2时(如图4所示),则内部导电元件220与外围导电元件210是构成一感测图样P2,且感测图样P2会包含有三个中空区域HApHA2与撤3。以此类推,当内部导电元件220的个数为N-I时(如图5所示),内部导电元件220与外围导电元件210是构成一感测图样PN_1;且感测图样Pim包含有N个中空区域HA1 HAn。此外触控感测单元20的感测图样可通过于已知的触控感测单元10的感测图样上直接打洞(所需的中空区域的形状)来实现,亦或 将已知的触控感测单元10的感测图样挖空来取得所需的外围导电元件210后再加上所需的内部导电元件220而得。详细来说,当图I所示的测试对象A(在此实施例中为一手指)接触(或靠近)触控感测单元20中的外围导电元件210或内部导电元件220时,会因为电容耦合效应的影响而产生一感应电容,同样地,感应电容的大小是与测试对象A跟触控感测单元20中的导电元件所接触(或因靠近而感应)的重迭面积成正相关。因此通过测量感应电容大小、位置以及变化量/率,即可描述触控感测单元20所检测到的触控事件(touch event)。请参考图6,图6为测试对象A与本专利技术感测图样Pim的重迭面积的一坐标化示意图。当测试对象A沿着X方向滑过触控感测单元20时,感测图样Pim中的中空区域HA1 HAn可以减少测试对象A跟触控感测单元20中的导电元件所接触(或因靠近而感应)的面积的变化率,因此,虽然外围导电元件210所包围的区域为一菱形区域,然而,当测试对象A沿着X方向滑动时,可通过菱形区域中所特别设置的中空区域HA1 HAn来微调测试对象A与感测图样Pn^1的重迭面积变化量,因此可以降低触控感测单元20的非线性度,由图6可知,在测试对象A沿着X方向滑动的过程之中,测试对象A与感测图样Pim的重迭面积(如斜线区域所示)会线性增加,如此一来,相较于已知的触控感测单元10,本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控感测单元,包含有:一外围导电元件;以及至少一内部导电元件,每一内部导电元件具有至少两端点分别连接至该外围导电元件,其中该至少一内部导电元件与该外围导电元件所构成的一感测图样包含多个中空区域。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:蔡有仁杨学伟
申请(专利权)人:义隆电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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