【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于计量领域，具体涉及，用于对测量直流大电 流的直流电流比较仪的比例进行校准。
技术介绍
直流电流比较仪(简称DCC)是一种基于磁调制技术的直流电流比例仪器，它通过检测铁芯的磁势平衡，使得一、二次的电流比等于一、二次的匝数的反比，实现了电流的高准确度变换。测量直流大电流的大电流DCC的一次偏心母线和返回导体的大电流，将给DCC带来强烈的漏磁场和杂散磁场，这些统称为干扰磁场。采用磁屏蔽虽然可以抑制这些磁场的干扰，但由于磁屏蔽中气隙的存在，比较仪的磁屏蔽效能很有限(请参考邵海明等的The Effect of Interfering Flux on Direct Current Comparator. CPEM 2010，Dajeon，Korea :539-540),较强的干扰磁场将给比较仪的比例带来显著误差，即导致DCC在大电流下比例与低电流下比例的不同，这给准确评定DCC的比例准确度带来了很大的困难。大电流DCC —、二次比例K 一般较大(1000甚至10000以上)，现有的自校准方法主要有等安匝法、参考绕组法、加法和乘法校准等。等安匝法校准时，一次绕组的绕制位置具有随机性，母线产生的漏磁随机变化，干扰磁场引起的误差具有不确定性，这就决定了校准的不确定度不容易进一步减小；参考绕组法和加法校准需要DCC引出很多比例端子，测量步骤多，不适用于大比例情况；乘法校准比例扩展快，但作为标准的DCC只能在低电流下校准、高电流下使用。这些校准方法存在的共同问题是不能在额定磁势和实际漏磁势的实际工作条件下准确校准DCC的电流比。因此，在额定磁势(或电流)下、校准...
【技术保护点】
一种直流大电流比较仪的电流比例的串并联自校准方法，其特征在于：设直流大电流比较仪的标称电流比例为K＝n∶1，其一次绕组包括n个能够串联或并联连接的同标称值母线绕组，每个母线绕组与二次绕组的标称匝数比N均为1∶n，所述n个母线绕组在铁芯的圆周上均匀分布；所述方法首先将该直流大电流比较仪的一次绕组的全部母线绕组同向串联连接，使得该直流大电流比较仪的电流比例变成1∶1，然后对其进行1∶1自校准；1∶1自校准完成后将该直流大电流比较仪一次绕组的全部母线绕组并联，并且使各个母线绕组均匀分流，这样该直流大电流比较仪的一次绕组和二次绕组的标称比例N变成1∶n，其电流比例K变成n∶1，将其作为标准比较仪对更大比例的直流大电流比较仪进行校准。
【技术特征摘要】
1.ー种直流大电流比较仪的电流比例的串并联自校准方法，其特征在于设直流大电流比较仪的标称电流比例为K = η 1，其一次绕组包括η个能够串联或并联连接的同标称值母线绕组，每个母线绕组与二次绕组的标称匝数比N均为I : η，所述η个母线绕组在铁芯的圆周上均匀分布； 所述方法首先将该直流大电流比较仪的一次绕组的全部母线绕组同向串联连接，使得该直流大电流比较仪的电流比例变成I : I，然后对其进行I : I自校准；I I自校准完成后将该直流大电流比较仪一次绕组的全部母线绕组并联，并且使各个母线绕组均匀分流，这样该直流大电流比较仪的一次绕组和二次绕组的标称比例N变成I : η，其电流比例K变成η 1，将其作为标准比较仪对更大比例的直流大电流比较仪进行校准。2.根据权利要求I所述的直流大电流比较仪的电流比例的串并联自校准方法，其特征在干所述I : I自校准是这样实现的将一次绕组的一端与电流源的正极连接，另一端与微安表的负极连接，微安表的正极与电流源的负极连接，将二次绕组的一端与微安表的正极连接，另一端与微安表的负极连接，通过微安表测得一次电流和二次电流的偏差ΛΙ’然后通过下式得到一次绕组和二次绕组在比例为I : I时电流比例相对偏差εχι，完成自校准3.根据权利要求2所述的直流大电流比较仪的电流比例的串并联自校准方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵海明，林飞鹏，滑晓欣，梁波，贾凯，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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