调制方式检测方法及终端技术

本发明专利技术实施例提供调制方式检测方法及终端。本发明专利技术实施例通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定，或者对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定，剔除了一些不满足条件的聚类点，从而降低了检测的虚警，并提高了检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号调制技术，尤其涉及调制方式检测方法及终端。
技术介绍
在干扰受限的通信系统,例如码分多址(Code Division Multiple Access,简称CDMA)系统中，接收端设备可以通过如下方式检测接收到的调制信号的调制方式，从而能够利用所述调制方式，进行信号重构，能够进一步清除干扰信号。现有的调制方式检测技术通常是均衡后的信号进行能量直方图的统计，根据各调制方式的标准能量分布直方图峰值所在域的特点，对实际观测星座点落在各域内的点数进行判决，由此判定调制方式。然而，所述检测方法具有较高的识别率，会使得检测的虚警较高，从而导致了检测的准确性的降低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供调制方式检测方法及终端，用以降低检测的虚警，提高检测的准确性。一方面提供了一种调制方式检测方法，包括对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径；根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值；根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式。另一方面提供了一种调制方式检测方法，包括对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类占.根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值；确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值；根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。另一方面提供了一种终端，包括生成单元，用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；第一确定单元，用于根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径；计算单元，用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值； 第二确定单元，用于根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式。另一方面提供了一种终端，包括生成单元，用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；第一确定单元，用于根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；计算单元，用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值；第二确定单元，用于确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值；第三确定单元，用于根据所述第二确定单元确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。由所述技术方案可知，本专利技术实施例通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定，或者对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定，剔除了一些不满足条件的聚类点，从而降低了检测的虚警，并提高了检测的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本专利技术一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图；图2为本专利技术另一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图；图3为本专利技术另一实施例提供的终端的结构示意图；图4为本专利技术另一实施例提供的终端的结构示意图。具体实施例方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的技术方案可以应用于正交相移键控(Quadrature Phase ShiftKeying,简称QPSK)调制方式、包含16种符号的正交幅度调制(Quadrature AmplitudeModulation，简称QAM)即16QAM调制方式、包含32种符号的QAM即64QAM调制方式或包含64种符号的QAM即64QAM调制方式中的任意两种或者几种。图I为本专利技术一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图，如图I所示，本实施例的调制方式检测方法可以包括101、对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值； 例如具体可以调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行能量(进行参数的平方处理)统计，生成所述调制信号的能量直方图。102、根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；其中，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。详细描述可以参见现有技术中相关的内容，此处不再赘述。在本实施例的一个可选实施方式中，在102中，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，即方式一；或者当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时，则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，即方式二。或者当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，即方式一；或者当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时，则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，即方式二。在本实施例的一个可选实施方式中，还可以进一步结合两种不同方式，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，详细描述可以参见相关内容，此处不再赘述。在102中，可以分别确定每个直方图对应的每个调制方式的聚类点。对于一个直方图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种调制方式检测方法，其特征在于，包括 对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值； 根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径； 根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值； 根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式。2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，包括 当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时，则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；或者 当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时，则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。3.根据权利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值，包括 当信噪比大于预先设置的阈值时，对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值。4.根据权利要求I 3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式，包括 确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值； 根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。5.一种调制方式检测方法，其特征在于，包括 对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值； 根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点； 根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值； 确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值；根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值，包括 当信噪比大于预先设置的阈值时，对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值。7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，包括 根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，包括 当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时，则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；或者 当位于以所述峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之...

【专利技术属性】
技术研发人员：花梦，关文康，郭晶，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：