投影装置及投影方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种投影装置，具备：发光波长不同的多种类的半导体发光元件；输入图像信号的输入部；光学像形成部，使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；投影部，将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影；温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及发光控制部，使用所述温度检测部的检测结果，修正所述测定部的测定结果，并基于被修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及适于例如DLP(Digita l Light Processing :数字光处理)(注册商标)方式的投影机装置等投影装置、投影方法以及程序。
技术介绍
以往以来，如下投影机被进行各种设计并被商品化，该投影机通过使来自光源的白色光透过在周面配置有多个颜色的滤色器的色轮(colorwheel)而作为分时的着色光来射出，并使用该光将各颜色用的图像进行投影，从而按场序投影彩色图像。作为这种投影机的光源元件，考虑代替以往大量使用的高压水银灯等放电灯，而使用在耗电量、尺寸、发热量等方面优异的LED(发光二极管)或LD(激光二极管)等半导体发光兀件。在将这些半导体发光元件用作投影机用的光源时，半导体发光元件基本上以单一的波长发光，因此需要组合使用发光波长不同的多个种类的半导体发光元件。而且，在使用发光波长不同的多个种类的半导体发光元件的情况下，需要在各个种类的半导体发光元件间取得亮度的平衡。为此，可以考虑如日本特开2010-152326号公报记载的专利技术那样，将色序式的光源光的色度准确地维持在所设定的内容的技术。在上述专利文献记载的技术中，利用照度传感器测定各颜色的明亮度，基于其测定结果调节各颜色的明亮度，以使累计色度成为目标色度。但是，半导体光源元件的发光波长根据温度而变化，另一方面，照度传感器的灵敏度根据所入射的光波长而变化。因而，若作为光源的半导体发光元件的温度变化，则即使其输出为相同级别，照度传感器侧的检测值也会发生变化。其结果，所投影的图像的颜色的平衡被破坏。
技术实现思路
本专利技术的投影装置，具备发光波长不同的多种半导体发光元件；输入部，输入图像信号；光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像；温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及发光控制部，利用所述温度检测部的检测结果，对所述测定部的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。另外，本专利技术的投影方法，其是如下装置上的投影方法，该装置具备发光波长不同的多种半导体发光元件；输入部，输入图像信号；光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的 光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；以及投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像，上述投影方法包括温度检测工序，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；测定工序，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及发光控制工序，利用所述温度检测工序的检测结果，对所述测定工序中的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。另外，本专利技术的程序，其是如下装置所内置的计算机执行的程序，该装置具备发光波长不同的多种半导体发光元件；输入部，输入图像信号；光学像形成部，利用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像；以及投影部，向投影对象投影由所述光学像形成部形成的光学像，上述程序使所述计算机作为下述机构发挥功能，即温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度；测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及发光控制部，利用所述温度检测部的检测结果，对所述测定部的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。本专利技术的优点将在随后的说明中阐述，并且本专利技术的部分优点通过说明变得明显，或通过实施本专利技术得知。本专利技术的优点能够通过在后面详细指出的装置和组合来实现。附图说明所附的附图结合并包含于本专利技术的一部分，说明本专利技术的实施方式，并与上面给出的总的说明以及下面给出的实施方式的说明一起，用于解释本专利技术的原理。图I是表示本专利技术的一实施方式的数据投影机装置的电子回路和光学系统统的构成的图。图2是表示该实施方式的光学系统的具体的构成例的图。图3是表示该实施方式的电源接通时与投影动作一起执行的光源的颜色平衡修正的处理内容的流程。图4是表示该实施方式的颜色平衡修正时的各部的动作内容的时间图。图5是表不该实施方式的LD及LED的发光输出和接收该发光的照度传感器的受光值的关系的图。图6是表示该实施方式的颜色平衡的修正的概念的图。图7是根据光源照度的实测值和温度，求出用于决定修正值的修正系数的查询表的概略图。图8是根据在图7中求出的修正系数，决定红色的光源LED26的驱动电流值的查询表的概略图。具体实施例方式参照附图对本专利技术的实施例进行说明。下面，参照附图说明将本专利技术应用于DLP (注册商标)方式的数据投影机装置时的一实施方式。图I是表示本实施方式的数据投影机装置10的概略功能构成的图。输入部11例如由管脚插孔(RCA)型视频输入端子、D-sub 15型的RGB输入端子等构成。被输入到输入部11的各种规格的模拟图像信号，在输入部11中被数字化后，经由系统总线SB传送到图像变换部12。图像变换部12也称为定标器(scaler)，将所输入的图像数据统一成适于投影的 规定格式的图像数据，发送至投影处理部13。这时，0SD(0n Screen Display :屏幕显示)用的表示各种动作状态的符号等数据，也根据需要由图像变换部12重叠加工到图像数据中，将加工后图像数据送到投影处理部13。投影处理部13根据发送来的图像数据，通过将按照规定的格式的帧速率例如60(帧/秒)和颜色成分的分割数、及显示灰阶数相乘的更高速的分时驱动，来驱动作为空间光调制元件的微反射镜元件14以进行显示。该微反射镜元件14通过将排列成阵列状的多个例如WXGA (WideeXtended GraphicArray :宽屏扩展图形阵列)(横1280像素X纵800像素)量的微小反射镜的各倾斜角度分别高速进行on/off动作来显示图像，从而利用其反射光形成光学像。另一方面,从光源部15分时且循环地射出R、G、B的原色光。来自该光源部15的原色光被反射镜16全反射并照射到上述微反射镜元件14。而且，通过微反射镜元件14上的反射光形成光学像，所形成的光学像经由投影透镜部17，投影显示在作为投影对象的未图示的屏幕上。光源部15具有发出蓝色的激光的LD18。LD18发出的蓝色的激光(B)被反射镜19反射，透过分光镜轮(dichroicmirrorwheel) 20后，照射在萤光轮21的周面上。该萤光轮21由轮马达(M) 22旋转，在上述蓝色的激光所照射的周面全周上形成萤光体层21g。更详细地说，通过在萤光轮21的被照射上述激光的圆周上涂敷萤光体，形成萤光体层21g。在萤光轮21的形成有萤光体层21g的面的背面，以与萤光体层21g重叠的方式设有反射板。蓝色的激光照射到萤光轮21的萤光体层21g，因此绿色光(G)作为反射光而激励。该绿色光被上述分光镜轮20反射，再被分光镜轮23反射，并通过积分仪24成为亮度分布均匀的光束后，被反射镜25反射，到达上述反射镜16。另外，光源部15具有发出红色光的LED26、及发出蓝色光的LED27。LED26发出的红色光(R)透过上述分光镜轮2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
2011.03.28 JP 070007/2011;2012.02.06 JP 022865/2011.一种投影装置，其特征在于，具备 发光波长不同的多种半导体发光元件； 输入部，输入图像信号； 光学像形成部，使用使所述半导体发光元件发光而得到的光源光，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像； 投影部，将由所述光学像形成部形成的光学像向投影对象进行投影； 温度检测部，针对所述半导体发光元件，按种类检测发光时的温度； 测定部，针对所述半导体发光元件，按种类测定发光时的光的强度；以及发光控制部，使用所述温度检测部的检测结果，对所述测定部的测定结果进行修正，并基于修正后的所述测定结果，控制每个所述半导体发光元件的发光强度。2.如权利要求I所述的投影装置，其特征在于， 所述测定部使用在所述光学像形成部中未向所述投影部的方向反射的反射光，来测定所述光的强度。3.如权利要求2所述的投影装置，其特征在于， 所述光学像形成部设置使所述半导体发光元件以单一种类发光的期间和使多个种类同时发光的期间，在由所述测定部测定时，在所述以单一种类发光的期间，分别形成整个面为黑的光学像，在使多个种类同时发光的期间，形成与所述输入部输入的图像信号相应的光学像。4...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴崎卫，增田弘树，
申请(专利权)人：卡西欧计算机株式会社，
类型：发明
国别省市：